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  • PCI-E測(cè)試DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試
    PCI-E測(cè)試DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試

    常見(jiàn)的信號(hào)質(zhì)量包括閾值電平、Overshoot、Undershoot、Slew Rate> tDVAC等,DDRx 信號(hào)質(zhì)量的每個(gè)參數(shù)JEDEC都給出了明確的規(guī)范。比如DDR3要求Overshoot和Undershoot 分別為0.4V,也就是說(shuō)信號(hào)幅值P?P值應(yīng)該在-0.4-1.9V,但在實(shí)際應(yīng)用中由于不適合信號(hào) 端接使DDR信號(hào)質(zhì)量變差,通過(guò)仿真就可以找出合適端接,使信號(hào)質(zhì)量滿足JEDEC規(guī)范。 下面以DDR3 1066Mbps信號(hào)為例,通過(guò)一個(gè)實(shí)際案例說(shuō)明DDR3信號(hào)質(zhì)量仿真。 在本案例中客戶(hù)反映實(shí)測(cè)CLK信號(hào)質(zhì)量不好。CLK信號(hào)從CUP (U100)出來(lái)經(jīng)過(guò)4片 DDR3 (...

  • 通信DDR3測(cè)試
    通信DDR3測(cè)試

    DDR信號(hào)的DC和AC特性要求之后,不知道有什么發(fā)現(xiàn)沒(méi)有?對(duì)于一般信號(hào)而言,DC和AC特性所要求(或限制)的就是信號(hào)的電平大小問(wèn)題。但是在DDR中的AC特性規(guī)范中,我們可以注意一下,其Overshoot和Undershoot指向的位置,到底代表什么含義?有些讀者可能已經(jīng)發(fā)現(xiàn),是沒(méi)有辦法從這個(gè)指示當(dāng)中獲得準(zhǔn)確的電壓值的。這是因?yàn)椋贒DR中,信號(hào)的AC特性所要求的不再是具體的電壓值,而是一個(gè)電源和時(shí)間的積分值。影面積所示的大小,而申壓和時(shí)間的積分值,就是能量!因此,對(duì)于DDR信號(hào)而言,其AC特性中所要求的不再是具體的電壓幅值大小,而是能量的大小!這一點(diǎn)是不同于任何一個(gè)其他信號(hào)體制的,而且能量信號(hào)...

  • 重慶DDR3測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
    重慶DDR3測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

    瀏覽選擇控制器的IBIS模型,切換到Bus Definition選項(xiàng)卡,單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮,將鼠標(biāo)移動(dòng)到Signal Names下方高亮處,單擊 出現(xiàn)的字母E,打開(kāi)Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號(hào),單擊0K按鈕確認(rèn)。 同樣,在Timing Ref下方高亮處,單擊出現(xiàn)的字母E打開(kāi)TimingRef列表。在這個(gè)列表 窗口左側(cè),用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)選DQS差分線的正端,用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)選負(fù)端,單擊中間的“>>”按 鈕將選中信號(hào)加入TimingRefs,單擊OK按鈕確認(rèn)。 很多其他工具都忽略選通Strobe信號(hào)和時(shí)鐘Clock信號(hào)之間的時(shí)序分析功...

  • 河北DDR3測(cè)試保養(yǎng)
    河北DDR3測(cè)試保養(yǎng)

    至此,DDR3控制器端各信號(hào)間的總線關(guān)系創(chuàng)建完畢。單擊OK按鈕,在彈出的提示窗 口中選擇Copy,這會(huì)將以上總線設(shè)置信息作為SystemSI能識(shí)別的注釋?zhuān)B同原始IBIS文件 保存為一個(gè)新的IBIS文件。如果不希望生成新的IBIS文件,則也可以選擇Updateo 設(shè)置合適的 OnDie Parasitics 和 Package Parasiticso 在本例中。nDie Parasitics 選擇 None, Package Parasitics使用Pin RLC封裝模型。單擊OK按鈕保存并退出控制器端的設(shè)置。 On-Die Parasitics在仿真非理想電源地時(shí)影響很大,特...

  • 山西DDR3測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠
    山西DDR3測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠

    DDR信號(hào)的DC和AC特性要求之后,不知道有什么發(fā)現(xiàn)沒(méi)有?對(duì)于一般信號(hào)而言,DC和AC特性所要求(或限制)的就是信號(hào)的電平大小問(wèn)題。但是在DDR中的AC特性規(guī)范中,我們可以注意一下,其Overshoot和Undershoot指向的位置,到底代表什么含義?有些讀者可能已經(jīng)發(fā)現(xiàn),是沒(méi)有辦法從這個(gè)指示當(dāng)中獲得準(zhǔn)確的電壓值的。這是因?yàn)?,在DDR中,信號(hào)的AC特性所要求的不再是具體的電壓值,而是一個(gè)電源和時(shí)間的積分值。影面積所示的大小,而申壓和時(shí)間的積分值,就是能量!因此,對(duì)于DDR信號(hào)而言,其AC特性中所要求的不再是具體的電壓幅值大小,而是能量的大小!這一點(diǎn)是不同于任何一個(gè)其他信號(hào)體制的,而且能量信號(hào)...

  • 浙江DDR3測(cè)試熱線
    浙江DDR3測(cè)試熱線

    創(chuàng)建工程啟動(dòng)SystemSI工具,單擊左側(cè)Workflow下的LoadaNew/ExistingWorkspace菜單項(xiàng),在彈出的WorkspaceFile對(duì)話框中選擇Createanewworkspace,單擊OK按鈕。在彈出的SelectModule對(duì)話框中選擇ParallelBusAnalysis模塊,單擊OK按鈕。選擇合適的License后彈出NewWorkspace對(duì)話框在NewWorkspace對(duì)話框中選擇Createbytemplate單選框,選擇個(gè)模板addr_bus_sparam_4mem,設(shè)置好新建Workspace的路徑和名字,單擊0K按鈕。如圖4-36所示,左側(cè)是W...

  • 廣東DDR3測(cè)試銷(xiāo)售廠
    廣東DDR3測(cè)試銷(xiāo)售廠

    雙擊PCB模塊打開(kāi)其Property窗口,切換到LayoutExtraction選項(xiàng)卡,在FileName處瀏覽選擇備好的PCB文件ddr3.spdo在ExtractionEngine下拉框里選擇PowerSL所小。SystemSI提供PowerSI和SPEED2000Generator兩種模型提取引擎。其中使用PowerSI可以提取包含信號(hào)耦合,考慮非理想電源地的S參數(shù)模型;而使用SPEED2000Generator可以提取理想電源地情況下的非耦合信號(hào)的SPICE模型。前者模型提取時(shí)間長(zhǎng),但模型細(xì)節(jié)完整,適合終的仿真驗(yàn)證;后者模型提取快,SPICE模型仿真收斂性好,比較適合設(shè)計(jì)前期的快速仿真...

  • 安徽多端口矩陣測(cè)試DDR3測(cè)試
    安徽多端口矩陣測(cè)試DDR3測(cè)試

    單擊View Topology按鈕進(jìn)入SigXplorer拓?fù)渚庉嫮h(huán)境,可以按前面161節(jié)反射 中的實(shí)驗(yàn)所學(xué)習(xí)的操作去編輯拓?fù)溥M(jìn)行分析。也可以單擊Waveforms..按鈕去直接進(jìn)行反射和 串?dāng)_的布線后仿真。 在提取出來(lái)的拓?fù)渲?,設(shè)置Controller的輸出激勵(lì)為Pulse,然后在菜單Analyze- Preferences..界面中設(shè)置Pulse頻率等參數(shù), 單擊OK按鈕退出參數(shù)設(shè)置窗口,單擊工具欄中的Signal Simulate進(jìn)行仿真分析, 在波形顯示界面里,只打開(kāi)器件U104 (近端顆粒)管腳上的差分波形進(jìn)行查看, 可以看到,差分時(shí)鐘波形邊沿正常,有一些反射。...

  • 山西DDR3測(cè)試配件
    山西DDR3測(cè)試配件

    創(chuàng)建工程啟動(dòng)SystemSI工具,單擊左側(cè)Workflow下的LoadaNew/ExistingWorkspace菜單項(xiàng),在彈出的WorkspaceFile對(duì)話框中選擇Createanewworkspace,單擊OK按鈕。在彈出的SelectModule對(duì)話框中選擇ParallelBusAnalysis模塊,單擊OK按鈕。選擇合適的License后彈出NewWorkspace對(duì)話框在NewWorkspace對(duì)話框中選擇Createbytemplate單選框,選擇個(gè)模板addr_bus_sparam_4mem,設(shè)置好新建Workspace的路徑和名字,單擊0K按鈕。如圖4-36所示,左側(cè)是W...

  • 信息化DDR3測(cè)試項(xiàng)目
    信息化DDR3測(cè)試項(xiàng)目

    那么在下面的仿真分析過(guò)程中,我們是不是可以就以這兩個(gè)圖中的時(shí)序要求作為衡量標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)呢?答案是否定的,因?yàn)殡m然這個(gè)時(shí)序是規(guī)范中定義的標(biāo)準(zhǔn),但是在系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)中,我們所使用的是Micron的產(chǎn)品,而后面系統(tǒng)是否能夠正常工作要取決干我們對(duì)Micron芯片的時(shí)序控制程度。所以雖然我們通過(guò)閱讀DDR規(guī)范文件了解到基本設(shè)計(jì)要求,但是具體實(shí)現(xiàn)的參數(shù)指標(biāo)要以Micron芯片的數(shù)據(jù)手冊(cè)為準(zhǔn)。換句話說(shuō),DDR的工業(yè)規(guī)范是芯片制造商Micron所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn),而我們?cè)O(shè)計(jì)系統(tǒng)時(shí),既然使用了Micron的產(chǎn)品,那么系統(tǒng)的性能指標(biāo)分析就要以Micron的產(chǎn)品為準(zhǔn)。所以,接下來(lái)的任務(wù)就是我們要在Micron的DDR芯片...

  • 江蘇DDR3測(cè)試TX/RX
    江蘇DDR3測(cè)試TX/RX

    DDR3(Double Data Rate 3)是一種常見(jiàn)的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)標(biāo)準(zhǔn),它定義了數(shù)據(jù)傳輸和操作時(shí)的時(shí)序要求。以下是DDR3規(guī)范中常見(jiàn)的時(shí)序要求: 初始時(shí)序(Initialization Timing)tRFC:內(nèi)存行刷新周期,表示在關(guān)閉時(shí)需要等待多久才能開(kāi)啟并訪問(wèn)一個(gè)新的內(nèi)存行。tRP/tRCD/tRA:行預(yù)充電時(shí)間、行開(kāi)放時(shí)間和行訪問(wèn)時(shí)間,分別表示在執(zhí)行讀或?qū)懖僮髦靶枰A(yù)充電的短時(shí)間、行打開(kāi)后需要等待的短時(shí)間以及行訪問(wèn)的持續(xù)時(shí)間。tWR:寫(xiě)入恢復(fù)時(shí)間,表示每次寫(xiě)操作之間小需要等待的時(shí)間。數(shù)據(jù)傳輸時(shí)序(Data Transfer Timing)tDQSS:數(shù)...

  • 解決方案DDR3測(cè)試推薦貨源
    解決方案DDR3測(cè)試推薦貨源

    單擊Check Stackup,設(shè)置PCB板的疊層信息。比如每層的厚度(Thickness)、介 電常數(shù)(Permittivity (Er))及介質(zhì)損耗(LossTangent)。 單擊 Enable Trace Check Mode,確保 Enable Trace Check Mode 被勾選。在走線檢查 流程中,可以選擇檢查所有信號(hào)網(wǎng)絡(luò)、部分信號(hào)網(wǎng)絡(luò)或者網(wǎng)絡(luò)組(Net Gr。叩s)。可以通過(guò) Prepare Nets步驟來(lái)選擇需要檢查的網(wǎng)絡(luò)。本例釆用的是檢查網(wǎng)絡(luò)組。檢查網(wǎng)絡(luò)組會(huì)生成較詳 細(xì)的阻抗和耦合檢查結(jié)果。單擊Optional: Setup Net Groups,出現(xiàn)Set...

  • 海南DDR3測(cè)試測(cè)試流程
    海南DDR3測(cè)試測(cè)試流程

    走線阻抗/耦合檢查 走線阻抗/耦合檢查流程在PowerSI和SPEED2000中都有,流程也是一樣的。本例通過(guò) Allegro Sigrity SI 啟動(dòng) Trace Impedance/Coupling Check,自動(dòng)調(diào)用 PowerSI 的流程。下面通過(guò)實(shí)例來(lái)介紹走線阻抗/耦合檢查的方法。 啟動(dòng) Allegro Sigrity SI,打開(kāi) DDR_Case_Check.brd。單擊菜單 AnalyzeTrace Impedance/Coupling Check,在彈出的 SPDLINK Xnet Selection 窗口 中單擊 OK 按鈕。整個(gè).brd 文件將被轉(zhuǎn)換成....

  • 解決方案DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試
    解決方案DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試

    · 相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè),ApplicationNote:在這個(gè)文檔中,廠家一般會(huì)提出一些設(shè)計(jì)建議,甚至參考設(shè)計(jì),有時(shí)該文檔也會(huì)作為器件手冊(cè)的一部分出現(xiàn)在器件手冊(cè)文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中,要注意這些信息是否齊備。 · 參考設(shè)計(jì),ReferenceDesign:對(duì)于比較復(fù)雜的器件,廠商一般會(huì)提供一些參考設(shè)計(jì),以幫助使用者盡快實(shí)現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至?xí)苯犹峁┰韴D,用戶(hù)可以根據(jù)自己的需求進(jìn)行更改。 · IBIS 文件:這個(gè)對(duì)高速設(shè)計(jì)而言是必需的,獲得的方法前面已經(jīng)講過(guò)。 什么是DDR3一致性測(cè)試?解決方案DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試為了改善地址信號(hào)多負(fù)載多層級(jí)樹(shù)形拓?fù)湓斐傻男?..

  • 電氣性能測(cè)試DDR3測(cè)試多端口矩陣測(cè)試
    電氣性能測(cè)試DDR3測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

    單擊NetCouplingSummary,出現(xiàn)耦合總結(jié)表格,包括網(wǎng)絡(luò)序號(hào)、網(wǎng)絡(luò)名稱(chēng)、比較大干擾源網(wǎng)絡(luò)、比較大耦合系數(shù)、比較大耦合系數(shù)所占走線長(zhǎng)度百分比、耦合系數(shù)大于0.05的走線 長(zhǎng)度百分比、耦合系數(shù)為0.01?0.05的走線長(zhǎng)度百分比、總耦合參考值。 單擊Impedance Plot (Collapsed),查看所有網(wǎng)絡(luò)的走線阻抗彩圖。注意,在彩圖 上方有一排工具欄,通過(guò)下拉按鈕可以選擇查看不同的網(wǎng)絡(luò)組,選擇不同的接收端器件,選 擇查看單端線還是差分線。雙擊Plot±的任何線段,對(duì)應(yīng)的走線會(huì)以之前定義的顏色(白色) 在Layout窗口中高亮顯示。 DDR3一致性測(cè)試期間是否會(huì)對(duì)數(shù)據(jù)...

  • 陜西設(shè)備DDR3測(cè)試
    陜西設(shè)備DDR3測(cè)試

    高速DDRx總線系統(tǒng)設(shè)計(jì) 首先簡(jiǎn)要介紹DDRx的發(fā)展歷程,通過(guò)幾代DDR的性能及信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)的 對(duì)比,使我們對(duì)DDRx總線有了比較所有的認(rèn)識(shí)。隨后介紹DDRx接口使用的SSTL電平, 以及新一代DDR4使用的POD電平,這能幫助我們?cè)诮窈蟮脑O(shè)計(jì)中更好地理解端接匹配、拓 撲等相關(guān)問(wèn)題。接下來(lái)回顧一下源同步時(shí)鐘系統(tǒng),并推導(dǎo)源同步時(shí)鐘系統(tǒng)的時(shí)序計(jì)算方法。 結(jié)果使用Cadence的系統(tǒng)仿真工具SystemSI,通過(guò)實(shí)例進(jìn)行DDRx的信號(hào)完整性仿真和時(shí)序 分析。 DDR3一致性測(cè)試是否適用于雙通道或四通道內(nèi)存配置?陜西設(shè)備DDR3測(cè)試 · 相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè),ApplicationNo...

  • 多端口矩陣測(cè)試DDR3測(cè)試修理
    多端口矩陣測(cè)試DDR3測(cè)試修理

    DDR4: DDR4釆用POD12接口,I/O 口工作電壓為1.2V;時(shí)鐘信號(hào)頻率為800?1600MHz; 數(shù)據(jù)信號(hào)速率為1600?3200Mbps;數(shù)據(jù)命令和控制信號(hào)速率為800?1600Mbps。DDR4的時(shí) 鐘、地址、命令和控制信號(hào)使用Fly-by拓?fù)渥呔€;數(shù)據(jù)和選通信號(hào)依舊使用點(diǎn)對(duì)點(diǎn)或樹(shù)形拓 撲,并支持動(dòng)態(tài)ODT功能;也支持Write Leveling功能。 綜上所述,DDR1和DDR2的數(shù)據(jù)和地址等信號(hào)都釆用對(duì)稱(chēng)的樹(shù)形拓?fù)?;DDR3和DDR4的數(shù)據(jù)信號(hào)也延用點(diǎn)對(duì)點(diǎn)或樹(shù)形拓?fù)洹I?jí)到DDR2后,為了改進(jìn)信號(hào)質(zhì)量,在芯片內(nèi)為所有數(shù)據(jù)和選通信號(hào)設(shè)計(jì)了片上終端電阻ODT(OnDi...

  • 廣西DDR3測(cè)試哪里買(mǎi)
    廣西DDR3測(cè)試哪里買(mǎi)

    有其特殊含義的,也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是,在筆者接觸過(guò)的很多高速電路設(shè)計(jì)人員中,很多人還不能夠說(shuō)清楚這兩個(gè)圖的含義。在數(shù)據(jù)寫(xiě)入(Write)時(shí)序圖中,所有信號(hào)都是DDR控制器輸出的,而DQS和DQ信號(hào)相差90°相位,因此DDR芯片才能夠在DQS信號(hào)的控制下,對(duì)DQ和DM信號(hào)進(jìn)行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時(shí)序圖中,所有信號(hào)是DDR芯片輸出的,并且DQ和DQS信號(hào)是同步的,都是和時(shí)鐘沿對(duì)齊的!這時(shí)候?yàn)榱艘獙?shí)現(xiàn)對(duì)DQ信號(hào)的雙沿采樣,DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號(hào)之間的相位延時(shí)!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實(shí)現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡(jiǎn)單,是要把邏輯設(shè)...

  • 眼圖測(cè)試DDR3測(cè)試方案
    眼圖測(cè)試DDR3測(cè)試方案

    使用SystemSI進(jìn)行DDR3信號(hào)仿真和時(shí)序分析實(shí)例 SystemSI是Cadence Allegro的一款系統(tǒng)級(jí)信號(hào)完整性仿真工具,它集成了 Sigrity強(qiáng)大的 電路板、封裝等互連模型及電源分布網(wǎng)絡(luò)模型的提取功能。目前SystemSI提供并行總線分析 和串行通道分析兩大主要功能模塊,本章介紹其中的并行總線分析模塊,本書(shū)第5章介紹串 行通道分析模塊。 SystemSI并行總線分析(Parallel Bus Analysis)模塊支持IBIS和HSPICE晶體管模型, 支持傳輸線模型、S參數(shù)模型和通用SPICE模型,支持非理想電源地的仿真分析。它擁有強(qiáng) 大的眼圖、信號(hào)質(zhì)量、信...

  • 重慶DDR3測(cè)試方案商
    重慶DDR3測(cè)試方案商

    容量與組織:DDR規(guī)范還涵蓋了內(nèi)存模塊的容量和組織方式。DDR內(nèi)存模塊的容量可以根據(jù)規(guī)范支持不同的大小,如1GB、2GB、4GB等。DDR內(nèi)存模塊通常以多個(gè)內(nèi)存芯片排列組成,其中每個(gè)內(nèi)存芯片被稱(chēng)為一個(gè)芯粒(die),多個(gè)芯粒可以組成密集的內(nèi)存模塊。電氣特性:DDR規(guī)范還定義了內(nèi)存模塊的電氣特性,包括供電電壓、電流消耗、輸入輸出電平等。這些電氣特性對(duì)于確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性至關(guān)重要。兼容性:DDR規(guī)范還考慮了兼容性問(wèn)題,確保DDR內(nèi)存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如,保留向后兼容性,允許支持DDR接口的控制器工作在較低速度的DDR模式下。DDR3一致性測(cè)試期間是...

  • 機(jī)械DDR3測(cè)試
    機(jī)械DDR3測(cè)試

    DDR 系統(tǒng)概述 DDR 全名為 Double Data Rate SDRAM ,簡(jiǎn)稱(chēng)為 DDR。DDR 本質(zhì)上不需要提高時(shí)鐘頻率就能加倍提高 SDRAM 的速度,它允許在時(shí)鐘的上升沿和下降沿讀/寫(xiě)數(shù)據(jù),因而其數(shù)據(jù)速率是標(biāo)準(zhǔn) SDRAM 的兩倍,至于地址與控制信號(hào)與傳統(tǒng) SDRAM 相同,仍在時(shí)鐘上升沿進(jìn)行數(shù)據(jù)判決。 DDR 與 SDRAM 的對(duì)比DDR 是一個(gè)總線系統(tǒng),總線包括地址線、數(shù)據(jù)信號(hào)線以及時(shí)鐘、控制線等。其中數(shù)據(jù)信號(hào)線可以隨著系統(tǒng)吞吐量的帶寬而調(diào)整,但是必須以字節(jié)為單位進(jìn)行調(diào)整,例如,可以是 8 位、16 位、24 位或者 32 位帶寬等。 所示的是 DDR 總線的系統(tǒng)...

  • USB測(cè)試DDR3測(cè)試修理
    USB測(cè)試DDR3測(cè)試修理

    單擊View Topology按鈕進(jìn)入SigXplorer拓?fù)渚庉嫮h(huán)境,可以按前面161節(jié)反射 中的實(shí)驗(yàn)所學(xué)習(xí)的操作去編輯拓?fù)溥M(jìn)行分析。也可以單擊Waveforms..按鈕去直接進(jìn)行反射和 串?dāng)_的布線后仿真。 在提取出來(lái)的拓?fù)渲校O(shè)置Controller的輸出激勵(lì)為Pulse,然后在菜單Analyze- Preferences..界面中設(shè)置Pulse頻率等參數(shù), 單擊OK按鈕退出參數(shù)設(shè)置窗口,單擊工具欄中的Signal Simulate進(jìn)行仿真分析, 在波形顯示界面里,只打開(kāi)器件U104 (近端顆粒)管腳上的差分波形進(jìn)行查看, 可以看到,差分時(shí)鐘波形邊沿正常,有一些反射。...

  • 重慶DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試
    重慶DDR3測(cè)試HDMI測(cè)試

    DDR 規(guī)范的時(shí)序要求 在明確了規(guī)范中的 DC 和 AC 特性要求之后,下一步,我們還應(yīng)該了解規(guī)范中對(duì)于信號(hào)的時(shí)序要求。這是我們所設(shè)計(jì)的 DDR 系統(tǒng)能夠正常工作的基本條件。 在規(guī)范文件中,有很多時(shí)序圖,筆者大致計(jì)算了一下,有 40 個(gè)左右。作為高速電路設(shè)計(jì)的工程師,我們不可能也沒(méi)有時(shí)間去做全部的仿真波形來(lái)和規(guī)范的要求一一對(duì)比驗(yàn)證,那么哪些時(shí)序圖才是我們關(guān)注的重點(diǎn)?事實(shí)上,在所有的這些時(shí)序圖中,作為 SI 工程師,我們需要關(guān)注的只有兩個(gè),那就是規(guī)范文件的第 69 頁(yè),關(guān)于數(shù)據(jù)讀出和寫(xiě)入兩個(gè)基本的時(shí)序圖(注意,這里的讀出和寫(xiě)入是從 DDR 控制器,也即 FPGA 的角度來(lái)講的)。...

  • 機(jī)械DDR3測(cè)試故障
    機(jī)械DDR3測(cè)試故障

    有其特殊含義的,也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是,在筆者接觸過(guò)的很多高速電路設(shè)計(jì)人員中,很多人還不能夠說(shuō)清楚這兩個(gè)圖的含義。在數(shù)據(jù)寫(xiě)入(Write)時(shí)序圖中,所有信號(hào)都是DDR控制器輸出的,而DQS和DQ信號(hào)相差90°相位,因此DDR芯片才能夠在DQS信號(hào)的控制下,對(duì)DQ和DM信號(hào)進(jìn)行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時(shí)序圖中,所有信號(hào)是DDR芯片輸出的,并且DQ和DQS信號(hào)是同步的,都是和時(shí)鐘沿對(duì)齊的!這時(shí)候?yàn)榱艘獙?shí)現(xiàn)對(duì)DQ信號(hào)的雙沿采樣,DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號(hào)之間的相位延時(shí)!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實(shí)現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡(jiǎn)單,是要把邏輯設(shè)...

  • PCI-E測(cè)試DDR3測(cè)試高速信號(hào)傳輸
    PCI-E測(cè)試DDR3測(cè)試高速信號(hào)傳輸

    有其特殊含義的,也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是,在筆者接觸過(guò)的很多高速電路設(shè)計(jì)人員中,很多人還不能夠說(shuō)清楚這兩個(gè)圖的含義。在數(shù)據(jù)寫(xiě)入(Write)時(shí)序圖中,所有信號(hào)都是DDR控制器輸出的,而DQS和DQ信號(hào)相差90°相位,因此DDR芯片才能夠在DQS信號(hào)的控制下,對(duì)DQ和DM信號(hào)進(jìn)行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時(shí)序圖中,所有信號(hào)是DDR芯片輸出的,并且DQ和DQS信號(hào)是同步的,都是和時(shí)鐘沿對(duì)齊的!這時(shí)候?yàn)榱艘獙?shí)現(xiàn)對(duì)DQ信號(hào)的雙沿采樣,DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號(hào)之間的相位延時(shí)!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實(shí)現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡(jiǎn)單,是要把邏輯設(shè)...

  • 廣東DDR3測(cè)試維修
    廣東DDR3測(cè)試維修

    "DDRx"是一個(gè)通用的術(shù)語(yǔ),用于表示多種類(lèi)型的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)標(biāo)準(zhǔn),包括DDR2、DDR3和DDR4等。這里的"x"可以是任意一個(gè)數(shù)字,了不同的DDR代數(shù)。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)在速度、帶寬、電氣特性等方面都有所不同,以適應(yīng)不斷增長(zhǎng)的計(jì)算需求和技術(shù)發(fā)展。下面是一些常見(jiàn)的DDR標(biāo)準(zhǔn):DDR2:DDR2是第二代DDR技術(shù),相比于DDR,它具有更高的頻率和帶寬,以及更低的功耗。DDR2還引入了一些新的技術(shù)和功能,如多通道架構(gòu)和前瞻性預(yù)充電(prefetch)。DDR3:DDR3是第三代DDR技術(shù),進(jìn)一步提高了頻率和帶寬,并降低了功耗。DDR3內(nèi)存模塊具有更高的密度和容量,可以支持更多的內(nèi)...

  • 陜西DDR3測(cè)試眼圖測(cè)試
    陜西DDR3測(cè)試眼圖測(cè)試

    有其特殊含義的,也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是,在筆者接觸過(guò)的很多高速電路設(shè)計(jì)人員中,很多人還不能夠說(shuō)清楚這兩個(gè)圖的含義。在數(shù)據(jù)寫(xiě)入(Write)時(shí)序圖中,所有信號(hào)都是DDR控制器輸出的,而DQS和DQ信號(hào)相差90°相位,因此DDR芯片才能夠在DQS信號(hào)的控制下,對(duì)DQ和DM信號(hào)進(jìn)行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時(shí)序圖中,所有信號(hào)是DDR芯片輸出的,并且DQ和DQS信號(hào)是同步的,都是和時(shí)鐘沿對(duì)齊的!這時(shí)候?yàn)榱艘獙?shí)現(xiàn)對(duì)DQ信號(hào)的雙沿采樣,DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號(hào)之間的相位延時(shí)!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實(shí)現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡(jiǎn)單,是要把邏輯設(shè)...

  • 安徽DDR3測(cè)試DDR測(cè)試
    安徽DDR3測(cè)試DDR測(cè)試

    常見(jiàn)的信號(hào)質(zhì)量包括閾值電平、Overshoot、Undershoot、Slew Rate> tDVAC等,DDRx 信號(hào)質(zhì)量的每個(gè)參數(shù)JEDEC都給出了明確的規(guī)范。比如DDR3要求Overshoot和Undershoot 分別為0.4V,也就是說(shuō)信號(hào)幅值P?P值應(yīng)該在-0.4-1.9V,但在實(shí)際應(yīng)用中由于不適合信號(hào) 端接使DDR信號(hào)質(zhì)量變差,通過(guò)仿真就可以找出合適端接,使信號(hào)質(zhì)量滿足JEDEC規(guī)范。 下面以DDR3 1066Mbps信號(hào)為例,通過(guò)一個(gè)實(shí)際案例說(shuō)明DDR3信號(hào)質(zhì)量仿真。 在本案例中客戶(hù)反映實(shí)測(cè)CLK信號(hào)質(zhì)量不好。CLK信號(hào)從CUP (U100)出來(lái)經(jīng)過(guò)4片 DDR3 (...

  • 解決方案DDR3測(cè)試高速信號(hào)傳輸
    解決方案DDR3測(cè)試高速信號(hào)傳輸

    DDR3一致性測(cè)試是一種用于檢查和驗(yàn)證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測(cè)試方法。通過(guò)進(jìn)行一致性測(cè)試,可以確保內(nèi)存模塊在工作過(guò)程中能夠按照預(yù)期的方式讀取、寫(xiě)入和傳輸數(shù)據(jù)。 一致性測(cè)試通常涵蓋以下方面: 電氣特性測(cè)試:對(duì)內(nèi)存模塊的電壓、時(shí)鐘頻率、時(shí)序等電氣特性進(jìn)行測(cè)試,以確保其符合規(guī)范要求。 讀寫(xiě)測(cè)試:驗(yàn)證內(nèi)存模塊的讀取和寫(xiě)入功能是否正常,并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。 數(shù)據(jù)一致性檢查:通過(guò)檢查讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)期的數(shù)據(jù)是否一致來(lái)驗(yàn)證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準(zhǔn)確性。 時(shí)序一致性測(cè)試:確認(rèn)內(nèi)存模塊的時(shí)序設(shè)置是否正確,并檢查內(nèi)存模塊對(duì)不同命令和操作的響應(yīng)是否符合規(guī)范。...

  • 海南DDR3測(cè)試銷(xiāo)售價(jià)格
    海南DDR3測(cè)試銷(xiāo)售價(jià)格

    在接下來(lái)的Setup NG Wizard窗口中選擇要參與仿真的信號(hào)網(wǎng)絡(luò),為這些信號(hào)網(wǎng)絡(luò)分組并定義單個(gè)或者多個(gè)網(wǎng)絡(luò)組。選擇網(wǎng)絡(luò)DDR1_DMO.3、DDR1_DQO.31、DDR1_DQSO.3、 DDRl_NDQS0-3,并用鼠標(biāo)右鍵單擊Assign interface菜單項(xiàng),定義接口名稱(chēng)為Data, 設(shè)置完成后,岀現(xiàn)Setup NG wizard: NG pre-view page窗口,顯示網(wǎng)絡(luò)組的信息,如圖 1-137所示。單擊Finish按鈕,網(wǎng)絡(luò)組設(shè)置完成。 單擊設(shè)置走線檢查參數(shù)(Setup Trace Check Parameters),在彈出的窗口中做以下設(shè) 置:勾...

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