陜西設(shè)備DDR3測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-27

高速DDRx總線系統(tǒng)設(shè)計(jì)

首先簡要介紹DDRx的發(fā)展歷程,通過幾代DDR的性能及信號完整性相關(guān)參數(shù)的 對比,使我們對DDRx總線有了比較所有的認(rèn)識。隨后介紹DDRx接口使用的SSTL電平, 以及新一代DDR4使用的POD電平,這能幫助我們在今后的設(shè)計(jì)中更好地理解端接匹配、拓 撲等相關(guān)問題。接下來回顧一下源同步時(shí)鐘系統(tǒng),并推導(dǎo)源同步時(shí)鐘系統(tǒng)的時(shí)序計(jì)算方法。 結(jié)果使用Cadence的系統(tǒng)仿真工具SystemSI,通過實(shí)例進(jìn)行DDRx的信號完整性仿真和時(shí)序 分析。 DDR3一致性測試是否適用于雙通道或四通道內(nèi)存配置?陜西設(shè)備DDR3測試

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· 相關(guān)器件的應(yīng)用手冊,ApplicationNote:在這個(gè)文檔中,廠家一般會提出一些設(shè)計(jì)建議,甚至參考設(shè)計(jì),有時(shí)該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中,要注意這些信息是否齊備。

· 參考設(shè)計(jì),ReferenceDesign:對于比較復(fù)雜的器件,廠商一般會提供一些參考設(shè)計(jì),以幫助使用者盡快實(shí)現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至?xí)苯犹峁┰韴D,用戶可以根據(jù)自己的需求進(jìn)行更改。

· IBIS 文件:這個(gè)對高速設(shè)計(jì)而言是必需的,獲得的方法前面已經(jīng)講過。 天津HDMI測試DDR3測試如何監(jiān)控DDR3內(nèi)存模塊的溫度進(jìn)行一致性測試?

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DDR3拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)規(guī)劃:Fly?by拓?fù)溥€是T拓?fù)?

DDR1/2控制命令等信號,均采用T拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。到了 DDR3,由于信號速率提升,當(dāng)負(fù) 載較多如多于4個(gè)負(fù)載時(shí),T拓?fù)湫盘栙|(zhì)量較差,因此DDR3的控制命令和時(shí)鐘信號均釆用 F拓?fù)?。下面是在某?xiàng)目中通過前仿真比較2片負(fù)載和4片負(fù)載時(shí),T拓?fù)浜虵ly-by拓 撲對信號質(zhì)量的影響,仿真驅(qū)動芯片為Altera芯片,IBIS文件 為顆粒為Micron顆粒,IBIS模型文件為。

分別標(biāo)示了兩種拓?fù)湎碌姆抡娌ㄐ魏脱蹐D,可以看到2片負(fù)載 時(shí),F(xiàn)ly-by拓?fù)鋵DR3控制和命令信號的改善作用不是特別明顯,因此在2片負(fù)載時(shí)很多 設(shè)計(jì)人員還是習(xí)慣使用T拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

 如果模型文件放在其他目錄下,則可以選擇菜單Analyze-Model Browser..,在界面里面單擊 Set Search Path按鈕,然后在彈出的界面里添加模型文件所在的目錄。

選擇菜單Analyze —Model Assignment..,在彈出的模型設(shè)置界面中找到U100 (Controller)來設(shè)置模型。

在模型設(shè)置界面中選中U100后,單擊Find Model...按鈕,在彈出來的界面中刪除 工具自認(rèn)的模型名BGA1295-40,將其用“*”取代,再單擊空白處或按下Tab鍵,在列岀的 模型文件中選中。

單擊Load按鈕,加載模型。

加載模型后,選擇文件下的Controller器件模型,然后單擊Assign 按鈕,將這個(gè)器件模型賦置給U100器件。 DDR3內(nèi)存的一致性測試是否適用于特定應(yīng)用程序和軟件環(huán)境?

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每個(gè) DDR 芯片獨(dú)享 DQS,DM 信號;四片 DDR 芯片共享 RAS#,CAS#,CS#,WE#控制信號。·DDR 工作頻率為 133MHz?!DR 控制器選用 Xilinx 公司的 FPGA,型號為 XC2VP30_6FF1152C。得到這個(gè)設(shè)計(jì)需求之后,我們首先要進(jìn)行器件選型,然后根據(jù)所選的器件,準(zhǔn)備相關(guān)的設(shè)計(jì)資料。一般來講,對于經(jīng)過選型的器件,為了使用這個(gè)器件進(jìn)行相關(guān)設(shè)計(jì),需要有如下資料。

· 器件數(shù)據(jù)手冊 Datasheet:這個(gè)是必須要有的。如果沒有器件手冊,是沒有辦法進(jìn)行設(shè)計(jì)的(一般經(jīng)過選型的器件,設(shè)計(jì)工程師一定會有數(shù)據(jù)手冊)。 是否可以使用多個(gè)軟件工具來執(zhí)行DDR3一致性測試?安徽DDR3測試配件

DDR3一致性測試是否適用于特定應(yīng)用程序和軟件環(huán)境?陜西設(shè)備DDR3測試

那么在下面的仿真分析過程中,我們是不是可以就以這兩個(gè)圖中的時(shí)序要求作為衡量標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)呢?答案是否定的,因?yàn)殡m然這個(gè)時(shí)序是規(guī)范中定義的標(biāo)準(zhǔn),但是在系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)中,我們所使用的是Micron的產(chǎn)品,而后面系統(tǒng)是否能夠正常工作要取決干我們對Micron芯片的時(shí)序控制程度。所以雖然我們通過閱讀DDR規(guī)范文件了解到基本設(shè)計(jì)要求,但是具體實(shí)現(xiàn)的參數(shù)指標(biāo)要以Micron芯片的數(shù)據(jù)手冊為準(zhǔn)。換句話說,DDR的工業(yè)規(guī)范是芯片制造商Micron所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn),而我們設(shè)計(jì)系統(tǒng)時(shí),既然使用了Micron的產(chǎn)品,那么系統(tǒng)的性能指標(biāo)分析就要以Micron的產(chǎn)品為準(zhǔn)。所以,接下來的任務(wù)就是我們要在Micron的DDR芯片手冊和作為控制器的FPGA數(shù)據(jù)手冊中,找到類似的DDR規(guī)范的設(shè)計(jì)要求和具體的設(shè)計(jì)參數(shù)。陜西設(shè)備DDR3測試