在接下來(lái)的Setup NG Wizard窗口中選擇要參與仿真的信號(hào)網(wǎng)絡(luò),為這些信號(hào)網(wǎng)絡(luò)分組并定義單個(gè)或者多個(gè)網(wǎng)絡(luò)組。選擇網(wǎng)絡(luò)DDR1_DMO.3、DDR1_DQO.31、DDR1_DQSO.3、 DDRl_NDQS0-3,并用鼠標(biāo)右鍵單擊Assign interface菜單項(xiàng),定義接口名稱為Data,
設(shè)置完成后,岀現(xiàn)Setup NG wizard: NG pre-view page窗口,顯示網(wǎng)絡(luò)組的信息,如圖 1-137所示。單擊Finish按鈕,網(wǎng)絡(luò)組設(shè)置完成。
單擊設(shè)置走線檢查參數(shù)(Setup Trace Check Parameters),在彈出的窗口中做以下設(shè) 置:勾選阻抗和耦合系數(shù)檢查兩個(gè)選項(xiàng);設(shè)置走線耦合百分比為1%,上升時(shí)間為lOOps;選 擇對(duì)網(wǎng)絡(luò)組做走線檢查(Check by NetGroup);設(shè)置交互高亮顯示顏色為白色。 一致性測(cè)試是否適用于服務(wù)器上的DDR3內(nèi)存模塊?海南DDR3測(cè)試銷售價(jià)格
單擊View Topology按鈕進(jìn)入SigXplorer拓?fù)渚庉嫮h(huán)境,可以按前面161節(jié)反射 中的實(shí)驗(yàn)所學(xué)習(xí)的操作去編輯拓?fù)溥M(jìn)行分析。也可以單擊Waveforms..按鈕去直接進(jìn)行反射和 串?dāng)_的布線后仿真。
在提取出來(lái)的拓?fù)渲?,設(shè)置Controller的輸出激勵(lì)為Pulse,然后在菜單Analyze- Preferences..界面中設(shè)置Pulse頻率等參數(shù),
單擊OK按鈕退出參數(shù)設(shè)置窗口,單擊工具欄中的Signal Simulate進(jìn)行仿真分析,
在波形顯示界面里,只打開(kāi)器件U104 (近端顆粒)管腳上的差分波形進(jìn)行查看, 可以看到,差分時(shí)鐘波形邊沿正常,有一些反射。
原始設(shè)計(jì)沒(méi)有接終端的電阻端接。在電路拓?fù)渲袑⒔K端匹配的上拉電阻電容等電路 刪除,再次仿真,只打開(kāi)器件U104 (近端顆粒)管腳上的差分波形進(jìn)行查看,可以看到, 時(shí)鐘信號(hào)完全不能工作。 信息化DDR3測(cè)試TX/RX如何確保DDR3一致性測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性?
從DDR1、DDR2、DDR3至U DDR4,數(shù)據(jù)率成倍增加,位寬成倍減小,工作電壓持續(xù)降 低,而電壓裕量從200mV減小到了幾十毫伏。總的來(lái)說(shuō),隨著數(shù)據(jù)傳輸速率的增加和電壓裕 量的降低,DDRx內(nèi)存子系統(tǒng)對(duì)信號(hào)完整性、電源完整性及時(shí)序的要求越來(lái)越高,這也給系 統(tǒng)設(shè)計(jì)帶來(lái)了更多、更大的挑戰(zhàn)。
Bank> Rank及內(nèi)存模塊
1.BankBank是SDRAM顆粒內(nèi)部的一種結(jié)構(gòu),它通過(guò)Bank信號(hào)BA(BankAddress)控制,可以把它看成是對(duì)地址信號(hào)的擴(kuò)展,主要目的是提高DRAM顆粒容量。對(duì)應(yīng)于有4個(gè)Bank的內(nèi)存顆粒,其Bank信號(hào)為BA[1:O],而高容量DDR2和DDR3顆粒有8個(gè)Bank,對(duì)應(yīng)Bank信號(hào)為BA[2:0],在DDR4內(nèi)存顆粒內(nèi)部有8個(gè)或16個(gè)Bank,通過(guò)BA信號(hào)和BG(BankGroup)信號(hào)控制。2GB容量的DDR3SDRAM功能框圖,可以從中看到芯片內(nèi)部由8個(gè)Bank組成(BankO,Bankl,…,Bank7),它們通過(guò)BA[2:0]這三條信號(hào)進(jìn)行控制。
所示的窗口有Pin Mapping和Bus Definition兩個(gè)選項(xiàng)卡,Pin Mapping跟IBIS 規(guī)范定義的Pin Mapping 一樣,它指定了每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的Pullup> Pulldown、GND Clamp和 Power Clamp的對(duì)應(yīng)關(guān)系;Bus Definition用來(lái)定義總線Bus和相關(guān)的時(shí)鐘參考信號(hào)。對(duì)于包 含多個(gè)Component的IBIS模型,可以通過(guò)右上角Component T拉列表進(jìn)行選擇。另外,如果 提供芯片每條I/O 口和電源地網(wǎng)絡(luò)的分布參數(shù)模型,則可以勾選Explicit IO Power and Ground Terminals選項(xiàng),將每條I/O 口和其對(duì)應(yīng)的電源地網(wǎng)絡(luò)對(duì)應(yīng)起來(lái),以更好地仿真SSN效應(yīng),這 個(gè)選項(xiàng)通常配合Cadence XcitePI的10 Model Extraction功能使用。DDR3內(nèi)存有哪些常見(jiàn)的容量大小?
時(shí)序要求:DDR系統(tǒng)中的內(nèi)存控制器需要遵循DDR規(guī)范中定義的時(shí)序要求來(lái)管理和控制內(nèi)存模塊的操作。時(shí)序要求包括初始時(shí)序、數(shù)據(jù)傳輸時(shí)序、刷新時(shí)序等,確保內(nèi)存模塊能夠按照規(guī)范工作,并實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸和操作。容量與組織:DDR系統(tǒng)中的內(nèi)存模塊可以有不同的容量和組織方式。內(nèi)存模塊的容量可以根據(jù)規(guī)范支持不同的大小,如1GB、2GB、4GB等。內(nèi)存模塊通常由多個(gè)內(nèi)存芯片組成,每個(gè)內(nèi)存芯片被稱為一個(gè)芯粒(die),多個(gè)芯??梢越M成密集的內(nèi)存模塊。兼容性:DDR技術(shù)考慮了兼容性問(wèn)題,以確保DDR內(nèi)存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如,保留向后兼容性,允許支持DDR接口的控制器在較低速度的DDR模式下工作。什么是DDR3一致性測(cè)試?天津DDR3測(cè)試調(diào)試
DDR3一致性測(cè)試期間是否會(huì)影響計(jì)算機(jī)性能?海南DDR3測(cè)試銷售價(jià)格
重復(fù)以上步驟,分別對(duì)Meml?Mem4分配模型并建立總線時(shí)序關(guān)系,置完其中一個(gè),單擊0K按鈕并在彈出窗口單擊Copy按鈕,將會(huì)同時(shí)更新其他Memory 模塊。
3.分配互連模型有3種方法可設(shè)置互連部分的模型:第1種是將已有的SPICE電路模型或S參數(shù)模型分配給相應(yīng)模塊;第2種是根據(jù)疊層信息生成傳輸線模型;第3種是將互連模塊與印制電路板或封裝板關(guān)聯(lián),利用模型提取工具按需提取互連模型。對(duì)前兩種方法大家比較熟悉,這里以第3種方法為例介紹其使用過(guò)程。 海南DDR3測(cè)試銷售價(jià)格
深圳市力恩科技有限公司成立于2014-04-03,同時(shí)啟動(dòng)了以克勞德為主的實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀產(chǎn)業(yè)布局。是具有一定實(shí)力的儀器儀表企業(yè)之一,主要提供實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀等領(lǐng)域內(nèi)的產(chǎn)品或服務(wù)。同時(shí),企業(yè)針對(duì)用戶,在實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀等幾大領(lǐng)域,提供更多、更豐富的儀器儀表產(chǎn)品,進(jìn)一步為全國(guó)更多單位和企業(yè)提供更具針對(duì)性的儀器儀表服務(wù)。公司坐落于深圳市南山區(qū)南頭街道南聯(lián)社區(qū)中山園路9號(hào)君翔達(dá)大廈辦公樓A201,業(yè)務(wù)覆蓋于全國(guó)多個(gè)省市和地區(qū)。持續(xù)多年業(yè)務(wù)創(chuàng)收,進(jìn)一步為當(dāng)?shù)亟?jīng)濟(jì)、社會(huì)協(xié)調(diào)發(fā)展做出了貢獻(xiàn)。