在2010年推出PCle3.0標準時，為了避免10Gbps的電信號傳輸帶來的挑戰(zhàn)，PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標準中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼，以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時，為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡，還采用了擾碼的方法，即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個多項式進行異或，這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機性，可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時鐘恢復。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會再用相同的多項式把數(shù)據(jù)恢復出來。PCI-E 3.0測試接收端的變化；信號完整性測試PCI-E測試商家 這個軟件以圖形...

關于各測試項目的具體描述如下：·項目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗證插卡發(fā)送信號質量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動，針對16Gbps速率?！ろ椖?.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:...

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術人員，嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權能測試設備，提供給客戶更精細更權能的全方面的專業(yè)服務。克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認證測試、預認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等...

綜上所述，PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測件的不同可能會 同時用到2個或4個測試通道。對于芯片的測試需要用戶自己設計測試板；對于主板或者 插卡的測試來說，測試夾具的Trace選擇、測試碼型的切換都比前代總線變得更加復雜了； 在數(shù)據(jù)分析時除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對信號的改善也考慮進 去。PCIe協(xié)會提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動測試軟件都可以為PCle4. 0的測試提供很好的幫助。 如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？PCI-E測試DDR測試當被測件進入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后，被測...

由于每對數(shù)據(jù)線和參考時鐘都是差分的，所以主 板的測試需要同時占用4個示波器通道，也就是在進行PCIe4.0的主板測試時示波器能夠 4個通道同時工作且達到25GHz帶寬。而對于插卡的測試來說，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進行測試就可以了，示波器能夠2個通道同時工作并達到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機信號質量測試環(huán)境。無論是對于發(fā)射機測試，還是對于后面要介紹到的接收機容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對，每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可...

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術的結合，PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插 件的基礎上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變 得更加復雜，系統(tǒng)設計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設計和測試人員面臨的嚴峻挑戰(zhàn)。PCI-E測試信號完整性測試解決方案；山東PCI-E測試調試在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參...

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復性。通常把用于接收端容限測試的這個惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實際上是借鑒了光通信的叫法。這個信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個純凈的 帶特定預加重的信號，然后在這個信號上疊加精確控制的隨機抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個成分的大小都符合規(guī)范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準。其中，ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CB...

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分數(shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些如果被測件是標準的PCI-E插槽接口，如何進行PCI-E的協(xié)議分析？中國澳門PCI-E測試DDR...

簡單總結一下，PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術上的相同點和不同點有：(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率；(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式；(3)發(fā)送端都采用3階預加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡；(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸，多1個連接器，更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應對鏈路損耗以及不同鏈路的情況，新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都...

規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合，每種組合叫作一個 Preset,實際應用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號質量協(xié)商 出一個比較好的Preset值。比如P4沒有任何預加重，P7強的預加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標準中采用的預加重技術和11種Preset的組合(參考資料：PCI Express@ Base Specification4 .0) 。對于8Gbps、16Gbps 以及32Gbps信號來說，采用的預加重技術完 全一樣，都是3階的預加重和11種Preset選擇。PCI-E 3.0及信號完整性測試方法;...

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23...

在物理層方面，PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸，每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年PCI-SIG宣布采用PAM-4技術，單Lane數(shù)據(jù)速率達到64Gbps的第6代標 準規(guī)范也在討論過程中。列出了PCI...

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復性。通常把用于接收端容限測試的這個惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實際上是借鑒了光通信的叫法。這個信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個純凈的 帶特定預加重的信號，然后在這個信號上疊加精確控制的隨機抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個成分的大小都符合規(guī)范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準。其中，ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CB...

在2010年推出PCle3.0標準時，為了避免10Gbps的電信號傳輸帶來的挑戰(zhàn)，PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標準中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼，以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時，為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡，還采用了擾碼的方法，即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個多項式進行異或，這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機性，可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時鐘恢復。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會再用相同的多項式把數(shù)據(jù)恢復出來。PCI-e的軟件編程接口;眼圖測試PCI-E測試銷售價格PCIe5.0物理層技術PCI...

PCIe5.0物理層技術PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設計的Base規(guī)范，針對板卡設計的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時支持PCIe5.0的服務器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓撲模型與PCIe4.0類似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個鏈路的損耗達到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預算的模型。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？山西PC...

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術人員，嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權能測試設備，提供給客戶更精細更權能的全方面的專業(yè)服務?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認證測試、預認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等...

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會對信號進行時鐘恢復、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機支持多個不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內調整，所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質量測試 結果。SigTest需要用戶手動設置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進行后分析，測試效率 比較低，而且對于不熟練的測試人員還可能由于設置疏忽造成測試結果的不一致，測試項目 也主要限于信號質量與Preset相關的項目。為了提高PCIe測試的效率和...

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型 的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe 總線協(xié)議層的結構以及相關規(guī)范涉及的主要內容。一種PCIE通道帶寬的測試方法;山西PCI-E測試市場...

是用矢量網(wǎng)絡分析儀進行鏈路標定的典型連接，具體的標定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細描述，這里不做展開。 在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號進行捕獲和信號質量分析。正式 的信號質量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進去，PCIe3.0及之后標準的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動等測試的參考點 從發(fā)送端轉移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進去。 為什么沒有PCIE轉DP或hdmi？HDMI測試PCI-E測試一致性測...

P5 、8Gbps P6 、8Gbps P7 、8Gbps P8 、8GbpsP9 、8Gbps P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps P2 、16Gbps P3 、16Gbps P4 、16Gbps P5 、16Gbps P6 、16GbpsP7 、16Gbps P8 、16Gbps P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種 Preset值，測試過程中應明確當前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、...

在物理層方面，PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸，每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年PCI-SIG宣布采用PAM-4技術，單Lane數(shù)據(jù)速率達到64Gbps的第6代標 準規(guī)范也在討論過程中。列出了PCI...

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導芯片設計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導服務器、計算機和插卡等系統(tǒng)設計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？校準PCI-E測試服務熱線...

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號質量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。pcie物理層面檢測,pcie時序測試；黑龍江PCI-E測試安裝測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.2...

如前所述，在PCle4.0的主板和插卡測試中，PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道，而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。 PCIe4.0信號質量分析可以采用兩種方法： 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析，另一種是使用示波器廠商提供的軟件進行自動測試。 pcie 有幾種類型,哪個速度快?測量PCI-E測試產(chǎn)品介紹PCIe4.0的物理層技術PCIe標準自從推出以來，1代和2代標準已經(jīng)...

當鏈路速率不斷提升時，給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端，并經(jīng)均衡器調整以后的小眼高允許15mV, 小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小 的鏈路裕量下，必須仔細調整預加重和均衡器的設置才能得到比較好的誤碼率結果。但是，預 加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預加重的預設模 式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6～ - 12dB范圍內以1dB的分辨率調整，并且允許 2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內調整。綜合考慮以上...

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復性。通常把用于接收端容限測試的這個惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實際上是借鑒了光通信的叫法。這個信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個純凈的 帶特定預加重的信號，然后在這個信號上疊加精確控制的隨機抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個成分的大小都符合規(guī)范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準。其中，ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CB...

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設計都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實際主板或插...

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型 的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe 總線協(xié)議層的結構以及相關規(guī)范涉及的主要內容。PCI-e的軟件編程接口;甘肅PCI-E測試廠家現(xiàn)貨P...

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號質量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？青海信號完整性測試PCI-E測試 綜上所述，PCIe4.0的信號測試需要25G...

·項目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗證插卡能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質量，針對16Gbps速率?！ろ椖?.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗證主板發(fā)送信號質量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?！ろ椖?.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ椖?.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:...