青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專(zhuān)門(mén)的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類(lèi)似，也是包含了CLB板、CBB板以及專(zhuān)門(mén)模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到CBB板；而在接收容限測(cè)試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測(cè)試夾具組成。為什么PCI-E3.0開(kāi)始重視接收端的容限測(cè)試？青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

綜上所述，PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶(hù)自己設(shè)計(jì)測(cè)試板；對(duì)于主板或者  插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時(shí)除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對(duì)信號(hào)的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會(huì)提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動(dòng)測(cè)試軟件都可以為PCle4. 0的測(cè)試提供很好的幫助。 青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試pcie物理層面檢測(cè),pcie時(shí)序測(cè)試；

Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無(wú)論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下，要通過(guò)測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后，可以通過(guò)測(cè)試夾具上的切換開(kāi)關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開(kāi)關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開(kāi)擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶(hù)完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過(guò)程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目，提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來(lái)說(shuō)，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板，測(cè)試板上需要通過(guò)扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長(zhǎng)度小于6英寸，對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以?xún)?nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入，測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過(guò)對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。 PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試；青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試PCIe gen4和gen5，sdd21怎么去除夾具的值?青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?！latformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測(cè)試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對(duì)于PCIe4.0來(lái)說(shuō)，針對(duì)之前發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題以及新增的特性，替換或增加了以下測(cè)試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測(cè)試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測(cè)試)?！aneMargining(鏈路裕量測(cè)試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對(duì)電氣特性測(cè)試，又有專(zhuān)門(mén)的物理層測(cè)試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試方法。表4.2是針對(duì)PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測(cè)試項(xiàng)目,其中灰色背景的測(cè)試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。青海信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E測(cè)試

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