NanoX-系列輪廓儀**性客戶 ? 集成電路相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 集成電路先進封裝和材料：華天科技，通富微電子，江蘇納佩斯 半導(dǎo)體，華潤安盛等 ? MEMS相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 中科院蘇州納米所，中科電子46所，華東光電集成器件等 ? 高 效太陽能電池相關(guān)產(chǎn)業(yè) – 常州億晶光電，中國臺灣速位科技、山東衡力新能源等 ? 微電子、FPD、PCB等產(chǎn)業(yè) – 三星電機、京東方、深圳夏瑞科技等 具備 Global alignment & Unit alignment 自動聚焦范圍 ： ± 0.3mm XY運動速度 **快 ...

輪廓儀、粗糙度儀、三坐標的區(qū)別： 關(guān)于輪廓儀和粗糙度儀 輪廓儀與粗糙度儀不是同一種產(chǎn)品，輪廓儀主要功能是測量零件表面的輪廓形狀，比如：汽車零件中的溝槽的槽深、槽寬、倒角（包括倒角位置、倒角尺寸、角度等），圓柱表面素線的直線度等參數(shù)?？傊?，輪廓儀反映的是零件的宏觀輪廓。粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量，通俗地講，就是零件表面加工得光不光（粗糙度老國標叫光潔度），即粗糙度反映的是零件加工表面的微觀情況。 但是，輪廓儀和粗糙度儀關(guān)系其實挺密切，現(xiàn)在有一種儀器叫做粗糙度輪廓測量一體機，就是在輪廓儀上加裝了粗糙度測量模塊，這樣既可以測量輪廓尺...

關(guān)于三坐標測量輪廓度及粗糙度 三坐標測量機是不能測量粗糙度的，至于測量零件的表面輪廓 ，要視三坐標的測量精度及零件表面輪廓度的要求了，如果你的三坐標測量機精度比較高，但零件輪廓度要求不可，是可以用三坐標來代替的。一般三坐標精度都在2-3um左右，而輪廓儀都在2um以內(nèi)，還有就是三坐標可以測量大尺寸零件的輪廓，因為它有龍門式三坐標和關(guān)節(jié)臂三坐標，而輪廓儀主要是用來測量一些小的精密零件輪廓尺寸的，加上粗糙度模塊也可以測量粗糙度。 粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量。Bruker輪廓儀當?shù)貎r格 輪廓儀的物鏡知多少? 白光干涉輪廓儀是基于白光干涉...

輪廓儀對精密加工的意義 現(xiàn)代化高新技術(shù)的飛速發(fā)展離不開硬件設(shè)施和軟件系統(tǒng)的配套支持，在精密加工領(lǐng)域同樣如此，雖然我們在生活中不曾注意到超精密加工產(chǎn)品的“身影”，但是它卻與我們的生活息息相關(guān)。例如在光學(xué)玻璃、集成電路、汽車零部件、機器人**器件、航空航天材料、****設(shè)備等領(lǐng)域，都需要對加工的成品進行檢測，從物體表面光滑到粗糙的參數(shù)，其中包含了從納米到微米級別的輪廓、線粗糙度、面粗糙度等二維、三維參數(shù)，作為評定該物件是否合格的標準。因此光學(xué)輪廓儀應(yīng)運而生，以下是表面三維輪廓儀對精密加工的作用： 隔振系統(tǒng)：集成氣浮隔振 + 大理石基石。自動測量輪廓儀美元價 1.3. 培訓(xùn)計劃 ...

輪廓儀的培訓(xùn) 一、 培訓(xùn)承諾 系統(tǒng)建成后，我公司將為業(yè)主提供為期1天的**培訓(xùn)和技術(shù)資詢；培訓(xùn)地點可以在我公司，亦或在工程現(xiàn)場； 系統(tǒng)操作及管理人員的培訓(xùn)人數(shù)為10人，由業(yè)主指定，我公司將確保相關(guān)人員正確使用該系統(tǒng)； 1.1. 培訓(xùn)對象 系統(tǒng)操作及管理人員（培訓(xùn)對象須具有專業(yè)技術(shù)的技術(shù)人員或?qū)嶋H值班操作人員）； 其他業(yè)主指定的相關(guān)人員。 1.2. 培訓(xùn)內(nèi)容 系統(tǒng)操作使用說明書。 培訓(xùn)課程的主要內(nèi)容是系統(tǒng)的操作、系統(tǒng)的相關(guān)參數(shù)設(shè)定和修改和系統(tǒng)的維修與保養(yǎng)與簡單升級等，具體內(nèi)容...

輪廓儀的性能 測量模式 ： 移相干涉（PSI），白光垂直掃描干涉（VSI），單色光垂直掃描干涉（CSI） 樣 品 臺 ： 150mm/200mm/300mm 樣品臺（可選配） XY 平移：±25mm/150mm/200mm/300mm，傾斜：±5° 可選手動/電動樣品臺 CCD 相機像素： 標配：1280×960 視場范圍： 560×750um（10×物鏡） 具體視場范圍取決于所配物鏡及 CCD 相機 光學(xué)系統(tǒng)： 同軸照明無限遠干涉成像系統(tǒng) 光 源： 高 效 LED Z 方向聚焦 80mm 手動...

NanoX-8000輪廓儀的自動化系統(tǒng)主要配置 ： ? XY比較大行程650*650mm ? 支持415*510mm/510*610mm兩種尺寸 ? XY光柵分辨率 0.1um，定位精度 5um，重復(fù)精度 1um ? XY 平臺比較大移動速度：200mm/s ? Z 軸聚焦：100mm行程自動聚焦，0.1um移動步進 ? 隔振系統(tǒng)：集成氣浮隔振 + 大理石基石 ? 配置真空臺面 ? 配置Barcode 掃描板邊二維碼，可自動識別產(chǎn)品信息 ? 主設(shè)備尺寸：1290(W)x1390(D)x2190(H) mm 如果想要了...

我們的輪廓儀有什么優(yōu)勢呢 世界先進水平的產(chǎn)品技術(shù) 合理的產(chǎn)品價格 24小時到現(xiàn)場的本地化售后服務(wù) 無償產(chǎn)品技術(shù)培訓(xùn)和應(yīng)用技術(shù)支持 個性化的應(yīng)用軟件服務(wù)支持 合理的保質(zhì)期后產(chǎn)品服務(wù) 更佳的產(chǎn)品性價比和更優(yōu)解決方案 非接觸式輪廓儀（光學(xué)輪廓儀）是以白光干涉為原理制成的一款高精度微觀形貌測量儀器，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。（本段來自網(wǎng)絡(luò)） 一般三坐標精度都在2-3um左右。NanoScopy輪廓儀服務(wù)為先 新型光學(xué)輪廓儀!film3D使得光學(xué)輪廓測...

輪廓儀是用容易理解的機械技術(shù)測量薄膜厚度。它的工作原理是測量測量劃過薄膜的檢測筆的高度(見右圖)。輪廓儀的主要優(yōu)點是可以測量所有固體膜，包括不透明的厚金屬膜。更昂貴的系統(tǒng)能測繪整個表面輪廓。(有關(guān)我們的低成本光學(xué)輪廓儀的資訊，請點擊這里).獲取反射光譜指南然而輪廓儀也有不足之處。首先，樣本上必須有個小坎才能測量薄膜厚度，而小坎通常無法很標準(見圖)。這樣，標定誤差加上機械漂移造成5%-10%的測量誤差。與此相比，光譜反射儀使用非接觸技術(shù)，不需要任何樣本準備就可以測量厚度。只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度和折射率。光譜反射儀還可以測量多層薄膜。輪廓儀和光譜反射儀的主要優(yōu)點列表...

如何正確使用輪廓儀 準備工作 1.測量前準備。 2.開啟電腦、打開機器電源開關(guān)、檢查機器啟動是否正常。 3.擦凈工件被測表面。 測量 1.將測針正確、平穩(wěn)、可靠地移動在工件被測表面上。 2.工件固定確認工件不會出現(xiàn)松動或者其它因素導(dǎo)致測針與工件相撞的情況出現(xiàn) 3.在儀器上設(shè)置所需的測量條件。 4.開始測量。測量過程中不可觸摸工件更不可人為震動桌子的情況產(chǎn)生。 5.測量完畢，根據(jù)圖紙對結(jié)果進行分析，標出結(jié)果，并保存、打印。 輪廓的角度處理: 角度處理：兩直線夾角、直線與Y軸夾角、直線與X軸夾角點線處理：兩直線...

我們應(yīng)該如何正確使用輪廓儀？ 一、準備工作 1.測量前準備。 2.開啟電腦、打開機器電源開關(guān)、檢查機器啟動是否正常。 3.擦凈工件被測表面。 二、測量 1.將測針正確、平穩(wěn)、可靠地移動在工件被測表面上。 2.工件固定確認工件不會出現(xiàn)松動或者其它因素導(dǎo)致測針與工件相撞的情況出現(xiàn) 3.在儀器上設(shè)置所需的測量條件。 4.開始測量。測量過程中不可觸摸工件更不可人為震動桌子的情況產(chǎn)生。 5.測量完畢，根據(jù)圖紙對結(jié)果進行分析，標出結(jié)果，并保存、打印。 在結(jié)構(gòu)上，輪廓儀基本上都是臺式的，而粗糙度儀以手持式的居多，當然也有臺式的。中科院輪...

NanoX-8000 3D輪廓測量主要技術(shù)參數(shù) 3D測量主要技術(shù)指標（1）： 測量模式： PSI + VSI + CSI Z軸測量范圍： 大行程PZT 掃描 （300um 標配/500um選配） 10mm 精密電機拓展掃描 CCD相機： 1920x1200 高速相機（標配） 干涉物鏡： 2.5X, 5X, 10X（標配）, 20X, 50X, 100X(NIKON ) 物鏡切換： 5孔電動鼻切換 FOV： 1100x700um(10X物鏡), 220x140um(50X物鏡) Z軸聚焦： 高精密直線平臺自動聚焦 照明系統(tǒng)： 高 效長壽白...

輪廓儀的技術(shù)原理 被測表面(光)與參考面(光)之間的光程差（高度差）形成干涉 移相法(PSI) 高度和干涉相位 f = (2p/l ) 2 h 形貌高度: < 120nm 精度: < 1nm RMS重復(fù)性: 0.01nm 垂直掃描法 (VSI+CSI) 精度： ?/1000 干涉信號~光程差位置 形貌高度: nm-mm, 精度: >2nm 干涉測量技術(shù)：快速靈活、超納米精度、測量精度不受物鏡倍率影響 以下來自網(wǎng)絡(luò)： 輪廓儀，能描繪工件表面波度與粗糙度，并給出其數(shù)值的儀器，采用精密氣浮導(dǎo)軌為...

輪廓儀的主要客戶群體 300mm集成電路技術(shù)封裝生產(chǎn)線檢測 集成電路工藝技術(shù)研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化 國家重點實驗室 高 效太陽能電池技術(shù)研發(fā)、產(chǎn)業(yè)化 MEMS技術(shù)研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化 新型顯示技術(shù)研發(fā)、產(chǎn)業(yè)化 超高精密表面工程技術(shù) 輪廓儀是一種兩坐標測量儀器，儀器傳感器相對被測工件表而作勻速滑行，傳感器的觸針感受到被測表而的幾何變化，在X和Z方向分別采樣，并轉(zhuǎn)換成電信號，該電信號經(jīng)放大和處理，再轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號儲存在計算機系統(tǒng)的存儲器中，計算機對原始表而輪廓進行數(shù)字濾波，分離掉表而粗糙度成分后再進行計算，測量結(jié)果為計算出的符介某種...