小型光譜共焦測(cè)距

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-08-30

客戶一直使用安裝在潔凈室的激光測(cè)量設(shè)備來檢查對(duì)齊情況,每個(gè)組件大約需要十分鐘才能完成必要的對(duì)齊檢查,耗時(shí)太久。因此,客戶要求我們開發(fā)一種特殊用途的測(cè)試和組裝機(jī)器,以減少校準(zhǔn)檢查所需的時(shí)間?,F(xiàn)在,我們使用機(jī)器人搬運(yùn)系統(tǒng)將閥門、閥瓣和銷組件轉(zhuǎn)移到專門的自動(dòng)裝配機(jī)中。為了避免由于移動(dòng)機(jī)器人的振動(dòng)引起的任何測(cè)量干擾,我們將光譜共焦位移傳感器安裝在單獨(dú)的框架和支架上,盡管仍然靠近要測(cè)量的部件。該機(jī)器現(xiàn)已經(jīng)通過測(cè)試和驗(yàn)證 。光譜共焦技術(shù)可以對(duì)生物和材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。小型光譜共焦測(cè)距

小型光譜共焦測(cè)距,光譜共焦

光譜共焦傳感器使用復(fù)色光作為光源 ,可以實(shí)現(xiàn)微米級(jí)精度的漫反射或鏡反射被測(cè)物體測(cè)量功能。此外,光譜共焦位移傳感器還可以實(shí)現(xiàn)對(duì)透明物體的單向厚度測(cè)量,其光源和接收光鏡為同軸結(jié)構(gòu),避免光路遮擋,適用于直徑4.5mm及以上的孔和凹槽的內(nèi)部結(jié)構(gòu)測(cè)量。在測(cè)量透明物體的位移時(shí),由于被測(cè)物體的上下兩個(gè)表面都會(huì)反射,傳感器接收到的位移信號(hào)是通過其上表面計(jì)算出來的,可能會(huì)引起一定誤差。本文分析了平行平板位移測(cè)量誤差的來源和影響因素。點(diǎn)光譜共焦廠家連續(xù)光位置測(cè)量方法可以實(shí)現(xiàn)光譜的位置測(cè)量。

小型光譜共焦測(cè)距,光譜共焦

光譜共焦技術(shù)將軸向距離與波長(zhǎng)建立起一套編碼規(guī)則,是一種高精度、非接觸的光學(xué)測(cè)量技術(shù)。基于光譜共焦技術(shù)的傳感器作為一種亞微米級(jí)、快速精確測(cè)量的傳感器,已經(jīng)被大量應(yīng)用于表面微觀形狀、厚度測(cè)量、位移測(cè)量、在線監(jiān)控及過程控制等工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域。展望其未來,隨著光譜共焦傳感技術(shù)的發(fā)展,必將在微電子、線寬測(cè)量、納米測(cè)試、超精密幾何量計(jì)量測(cè)試等領(lǐng)域得到更多的應(yīng)用。光譜共焦技術(shù)是在共焦顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展而來 ,其無需軸向掃描,直接由波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)軸向距離信息,從而大幅提高測(cè)量速度。

背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共,去除焦點(diǎn)以外的雜散光,得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率,同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力,通過焦平面的上下平移從而得到物體的微觀三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共,去除焦點(diǎn)以外的雜散光,得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率,同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力,通過焦平面的上下平移從而得到物體的微觀三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中。現(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中?,F(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù)主要激光成像,其功耗大、成本高,而且精度較差,難以勝任復(fù)雜異形表面(如曲面、弧面、凸凹溝槽等)的高精度、穩(wěn)定檢測(cè)或者成像的光譜共焦成像技術(shù)比激光成像具有更高的精度,而且能夠降低功耗和成本但現(xiàn)有的光譜共焦檢測(cè)設(shè)備大都是靜態(tài)檢測(cè),檢測(cè)效率低,而且難以勝任復(fù)雜異形表面 。光譜共焦位移傳感器在微機(jī)電系統(tǒng)、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。

小型光譜共焦測(cè)距,光譜共焦

隨著精密儀器制造業(yè)的發(fā)展,人們對(duì)于工業(yè)生產(chǎn)測(cè)量的要求越來越高,希望能夠生產(chǎn)出具有精度高、適應(yīng)性強(qiáng)、實(shí)時(shí)無損檢測(cè)等特性的位移傳感器,光譜共焦位移傳感器的出現(xiàn),使問題得到了解決,它是一種非接觸式光電位移傳感器,測(cè)量精度可達(dá)亞微米級(jí)甚至于更高,對(duì)于雜光等干擾光線,傳感器并不敏感 ,具有較強(qiáng)的抵抗力,適應(yīng)性強(qiáng),且其在體積方面具有小型化的特點(diǎn),因此應(yīng)用前景十分大量。光學(xué)色散鏡頭是光譜共焦位移傳感器的重要組成部分之一,鏡頭組性能參數(shù)對(duì)位移傳感器的測(cè)量精度與分辨率起著決定性的作用。光譜共焦技術(shù)材料科學(xué)領(lǐng)域可以用于材料的性能測(cè)試和分析。自動(dòng)測(cè)量?jī)?nèi)徑光譜共焦工廠

光譜共焦技術(shù)可以在工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮重要作用。小型光譜共焦測(cè)距

本文提出了一種基于高精度光譜共焦位移傳感技術(shù)的表面粗糙度集成在線測(cè)量方法,適用于一種特殊材料異型結(jié)構(gòu)零件內(nèi)曲面的表面粗糙度測(cè)量要求。該方法利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)平臺(tái)對(duì)零件進(jìn)行輪廓掃描,并記錄測(cè)量掃描位置的空間橫坐標(biāo),然后根據(jù)空間坐標(biāo)關(guān)系,將微觀高度信息和采樣點(diǎn)組合成微觀輪廓,通過高斯濾波和評(píng)價(jià)得到表面粗糙度信息。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有通用性強(qiáng)、精度可靠,自動(dòng)化程度高等優(yōu)點(diǎn),這種方法可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量 ,提高測(cè)量效率和精度。  小型光譜共焦測(cè)距