平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-02-18

玻璃基板是液晶顯示屏必須的部件之一,每個(gè)液晶屏需要兩個(gè)玻璃基板,用作底部基板和彩色濾光片底部的支撐基板。玻璃基板的質(zhì)量對(duì)面板的分辨率、透光度、厚度、凈重和可見角度等參數(shù)都有很大的影響。玻璃基板是液晶顯示屏中基本的構(gòu)件之一,其制備過程需要獲得非常平坦的表面。當(dāng)前在商業(yè)上使用的玻璃基板厚度為0.7毫米和0.5毫米,未來還將向更薄的特殊groove(如0.4毫米)厚度發(fā)展。大多數(shù)TFT-LCD穩(wěn)定面板需要兩個(gè)玻璃基板。由于玻璃基板很薄,而厚度規(guī)格要求相當(dāng)嚴(yán)格,通常公差穩(wěn)定在0.01毫米,因此需要對(duì)夾層玻璃的厚度、膨脹和平面度進(jìn)行清晰的測(cè)量。使用創(chuàng)視智能自主生產(chǎn)研發(fā)的高精度光譜共焦位移傳感器可以很好地解決這個(gè)問題,一次測(cè)量就可以獲得多個(gè)高度值和厚度補(bǔ)償。同時(shí),可以使用多個(gè)傳感器進(jìn)行測(cè)量,不僅可以提高效率,還可以防止接觸式測(cè)量所帶來的二次損傷。光譜共焦位移傳感器具有高靈敏度和迅速響應(yīng)的特點(diǎn),可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量和監(jiān)測(cè)。平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū)

平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

光譜共焦測(cè)量技術(shù)由于其高精度、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、快速測(cè)量方式、實(shí)時(shí)性高、對(duì)被測(cè)表面狀況要求低、以及高分辨率的獨(dú)特優(yōu)勢(shì),迅速成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測(cè)量、3C電子等領(lǐng)域得到大量應(yīng)用。本次測(cè)量場(chǎng)景使用的是創(chuàng)視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025μm的重復(fù)精度,±0.02% of F.S.的線性精度, 30kHz的采樣速度,以及±60°的測(cè)量角度,能夠適應(yīng)鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網(wǎng)、模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口。防水光譜共焦供應(yīng)光譜共焦厚度檢測(cè)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)厚度的非接觸式測(cè)量;

平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

高像素傳感器設(shè)計(jì)方案取決于的光對(duì)焦水平,要求嚴(yán)格圖象室內(nèi)空間NA的眼鏡片。另一方面,光譜共焦位移傳感器的屏幕分辨率通常采用光譜抗壓強(qiáng)度的全半寬來精確測(cè)量。高NA能夠降低半寬,提高分辨率。因而,在設(shè)計(jì)超色差攝像鏡頭時(shí),NA應(yīng)盡可能高的。高圖象室內(nèi)空間NA能提高傳感器系統(tǒng)的燈源使用率,使待測(cè)表層輪廊以比較大視角或一定方向歪斜。可是,NA的提高也會(huì)導(dǎo)致球差擴(kuò)大,并產(chǎn)生電子光學(xué)設(shè)計(jì)優(yōu)化難度。傳感器檢測(cè)范圍主要是由超色差鏡片的縱向色差確定。因?yàn)楣庾V儀在各個(gè)波長(zhǎng)的像素一致,假如縱向色差與波長(zhǎng)之間存在離散系統(tǒng),這類離散系統(tǒng)也會(huì)導(dǎo)致感應(yīng)器在各個(gè)波長(zhǎng)的像素或敏感度存在較大差別,危害傳感器特性。縱向色差與波長(zhǎng)的線性相關(guān)選用線形相關(guān)系數(shù)來精確測(cè)量,必須接近1。一般有兩種方法能夠形成充足強(qiáng)的色差:運(yùn)用玻璃的當(dāng)然散射;應(yīng)用衍射光學(xué)元器件。除開生產(chǎn)制造難度高、成本相對(duì)高外,當(dāng)能見光根據(jù)時(shí),透射耗損也非常高。

光譜共焦技術(shù)主要包括成像和檢測(cè)。首先,通過顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行成像,然后將圖像傳遞給計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理。接著,利用算法對(duì)圖像進(jìn)行位置校準(zhǔn),以確定樣品的空間位置。通過分析樣品的光譜信息,實(shí)現(xiàn)對(duì)其成分的檢測(cè)。在點(diǎn)膠行業(yè)中,光譜共焦技術(shù)可以準(zhǔn)確地檢測(cè)出點(diǎn)膠的位置和尺寸,確保點(diǎn)膠的質(zhì)量和精度。同時(shí),通過對(duì)點(diǎn)膠的光譜分析,還可以了解到點(diǎn)膠的成分和性質(zhì),從而優(yōu)化點(diǎn)膠工藝。三、光譜共焦在點(diǎn)膠行業(yè)中的應(yīng)用提高點(diǎn)膠質(zhì)量:光譜共焦技術(shù)可以檢測(cè)點(diǎn)膠的位置和尺寸,避免漏點(diǎn)或點(diǎn)膠過多的問題。同時(shí),由于其高精度的檢測(cè)能力,可以確保點(diǎn)膠的精確度和一致性。提高點(diǎn)膠效率:通過光譜共焦技術(shù)對(duì)點(diǎn)膠的迅速檢測(cè),可以減少后續(xù)處理的步驟和時(shí)間,從而提高生產(chǎn)效率。此外,該技術(shù)還可以避免因點(diǎn)膠不良而導(dǎo)致的返工和維修問題。優(yōu)化點(diǎn)膠工藝:通過對(duì)點(diǎn)膠的光譜分析,可以了解其成分和性質(zhì),從而針對(duì)不同的材料和需求優(yōu)化點(diǎn)膠工藝。例如,根據(jù)點(diǎn)膠的光譜特征選擇合適的膠水類型、粘合劑強(qiáng)度以及固化溫度等參數(shù)。光譜共焦位移傳感器是一種基于光譜分析的高精度位移測(cè)量技術(shù),可實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)別的位移測(cè)量。

平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

物體的表面形貌可以基于距離的確定來進(jìn)行。光譜共焦傳感器還可用于測(cè)量氣缸套的圓度、直徑、粗糙度和表面結(jié)構(gòu)。當(dāng)測(cè)量對(duì)象包含不同類型的材料(例如塑料和金屬)時(shí),盡管距離值保持不變,但反射率會(huì)突出材料之間的差異。劃痕和不平整會(huì)影響反射度并變得更加直觀。在檢測(cè)到信號(hào)強(qiáng)度的變化后,系統(tǒng)會(huì)創(chuàng)建目標(biāo)及其精細(xì)結(jié)構(gòu)的精確圖像。除了距離測(cè)量之外,另一種選擇是使用信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量,這可以實(shí)現(xiàn)精細(xì)結(jié)構(gòu)的可視化。通過恒定的曝光時(shí)間,可以獲得關(guān)于表面評(píng)估的附加信息。它能夠提高研究和制造的精度和效率,為科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)提供了有力的技術(shù)支持。工廠光譜共焦廠家供應(yīng)

光譜共焦技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的成像和分析;平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū)

光譜共焦測(cè)量技術(shù)由于其高精度、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、測(cè)量速度快、實(shí)時(shí)性高、對(duì)被測(cè)表面狀況要求低以及高分辨率等特點(diǎn),已成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測(cè)量和3C電子等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。本次測(cè)量場(chǎng)景采用了創(chuàng)視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025 μm的重復(fù)精度、±0.02%的線性精度、30kHz的采樣速度和±60°的測(cè)量角度,適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網(wǎng)和模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口。平面度測(cè)量 光譜共焦使用誤區(qū)