品牌光譜共焦產品使用誤區(qū)

來源: 發(fā)布時間:2024-01-16

在硅片柵線的厚度測量過程中,創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器被使用。TS-C系列光譜共焦位移傳感器具有0.025 μm的重復精度,±0.02%的線性精度,10kHz的測量速度和±60°的測量角度。它適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面和多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網和模擬量數據傳輸接口。在測量太陽能光伏板硅片柵線厚度時,使用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量。柵線厚度可通過柵線高度與基底高度之差獲得,通過將需要掃描測量的硅片標記三個區(qū)域并使用光譜共焦C1200單探頭單側測量來完成測量。由于柵線不是平整面,并且有一定的曲率,因此對于測量區(qū)域的選擇具有較大的隨機性影響。光譜共焦技術可以在醫(yī)學診斷中發(fā)揮重要作用。品牌光譜共焦產品使用誤區(qū)

品牌光譜共焦產品使用誤區(qū),光譜共焦

采用對比測試方法,首先對基于白光共焦光譜技術的靶丸外表面輪廓測量精度進行了考核,為了便于比較,將原子力顯微鏡輪廓儀的測量數據進行了偏移。結果得出,二者的低階輪廓整體相似,局部的輪廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測量圓周輪廓結果不一致;此外,白光共焦光譜的信噪比較原子力低,這表明白光共焦光譜適用于靶丸表面低階的輪廓誤差的測量。從靶丸外表面輪廓原子力顯微鏡輪廓儀測量數據和白光共焦光譜輪廓儀測量數據的功率譜曲線中可以看出,在模數低于100的功率譜范圍內,兩種方法的測量結果一致性較好,當模數大于100時,白光共焦光譜的測量數據大于原子力顯微鏡的測量數據,這也反應了白光共焦光譜儀在高頻段測量數據信噪比相對較差的特點。由于光譜傳感器Z向分辨率比原子力低一個量級,同時,受環(huán)境振動、光譜儀采樣率及樣品表面散射光等因素的影響,共焦光譜檢測數據高頻隨機噪聲可達100nm左右。新型光譜共焦廠家現貨光譜共焦技術在生物醫(yī)學、材料科學、環(huán)境監(jiān)測等領域有著廣泛的應用。

品牌光譜共焦產品使用誤區(qū),光譜共焦

光譜共焦測量技術由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高、對被測表面狀況要求低以及高分辨率等特點,已成為工業(yè)測量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量和3C電子等領域廣泛應用。本次測量場景采用了創(chuàng)視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠實現0.025 μm的重復精度、±0.02%的線性精度、30kHz的采樣速度和±60°的測量角度,適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網和模擬量的數據傳輸接口。

光譜共焦測量技術是共焦原理和編碼技術的結合。白色光源和光譜儀可以完成一個相對高度范圍的準確測量。光譜共焦位移傳感器的準確測量原理如圖1所示。在光纖和超色差鏡片的幫助下,產生一系列連續(xù)而不重合的可見光聚焦點。當待測物體放置在檢測范圍內時,只有一種光波長能夠聚焦在待測物表面并反射回來,產生波峰信號。其他波長將失去對焦。使用干涉儀的校準信息可以計算待測物體的位置,并創(chuàng)建對應于光譜峰處波長偏移的編碼。超色差鏡片通過提高縱向色差,可以在徑向分離出電子光學信號的不同光譜成分,因此是傳感器的關鍵部件,其設計方案非常重要。光譜共焦技術在航空航天領域可以用于航空發(fā)動機和航天器部件的精度檢測。

品牌光譜共焦產品使用誤區(qū),光譜共焦

在電化學領域,電極片的厚度是一個重要的參數,直接影響著電化學反應的效率和穩(wěn)定性,我們將介紹光譜共焦位移傳感器對射測量電極片厚度的具體方法。首先,我們需要準備一塊待測電極片和光譜共焦位移傳感器。將電極片放置在測量平臺上,并調整傳感器的位置,使其與電極片表面保持垂直。接下來,通過軟件控制傳感器進行掃描,獲取電極片表面的光譜信息。光譜共焦位移傳感器可以實現納米級的分辨率,因此可以準確地測量電極片表面的高度變化。在獲取了電極片表面的光譜信息后,我們可以利用反射光譜的特性來計算電極片的厚度。通過分析反射光譜的強度和波長分布,我們可以得到電極片表面的高度信息。同時,還可以利用光譜共焦位移傳感器的對射測量功能,實現對電極片厚度的精確測量。通過對射測量,可以消除傳感器位置和角度帶來的誤差,從而提高測量的準確性和穩(wěn)定性。除了利用光譜共焦位移傳感器進行對射測量外,我們還可以結合圖像處理技術對電極片表面的光譜信息進行進一步分析。通過圖像處理算法,可以提取出電極片表面的特征信息,進而計算出電極片的厚度。這種方法不僅可以提高測量的準確性,還可以實現對電極片表面形貌的三維測量光譜共焦技術在電子制造領域可以用于電子元件的精度檢測和測量。光譜共焦找誰

基于白光LED的光譜共焦位移傳感器是一種新型的傳感器。品牌光譜共焦產品使用誤區(qū)

隨著精密儀器制造業(yè)的發(fā)展,對工業(yè)生產測量的精度和適應性要求越來越高,需要具有高精度、適應性強和實時無損檢測等特性的位移傳感器。光譜共焦位移傳感器的問世解決了這個問題,它是一種非接觸式光電位移傳感器,可達到亞微米級甚至更高的測量精度。傳感器對于雜光等干擾光線并不敏感,具有較強的抵抗能力,適應性強,且具有小型化的特點,應用前景廣闊。光學色散鏡頭是光譜共焦位移傳感器的重要組成部分之一,其性能參數對于位移傳感器的測量精度和分辨率具有決定性作用。品牌光譜共焦產品使用誤區(qū)