激光位移傳感器在對射測量測厚方面有著廣泛的應(yīng)用。其安裝方法主要包括以下幾個方面。首先是激光位移傳感器的安裝位置，通常是選擇在被測物體的兩側(cè)，以保證測量精度和穩(wěn)定性。其次是安裝時需要注意兩個激光位移傳感器之間的距離和同軸度，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。同時，還需要注...

本文研究的鍺膜厚度約為300nm，導(dǎo)致白光干涉輸出的光譜只有一個干涉峰，無法采用常規(guī)的基于相鄰干涉峰間距解調(diào)的方案，如峰峰值法等。為此，研究人員提出了一種基于單峰值波長移動的白光干涉測量方案，并設(shè)計(jì)制作了膜厚測量系統(tǒng)。經(jīng)實(shí)驗(yàn)證明，峰值波長和溫度變化之間存在很好...

白光干涉光譜分析是目前白光干涉測量的一個重要方向。此項(xiàng)技術(shù)通過使用光譜儀將對條紋的測量轉(zhuǎn)變?yōu)閷Σ煌ㄩL光譜的測量，分析被測物體的光譜特性，得到相應(yīng)的長度信息和形貌信息。與白光掃描干涉術(shù)相比，它不需要大量的掃描過程，因此提高了測量效率，并減小了環(huán)境對其影響。此項(xiàng)...

基于表面等離子體共振傳感的測量方案，利用共振曲線的三個特征參量半高寬、—共振角和反射率小值，通過反演計(jì)算得到待測金屬薄膜的厚度。該測量方案可同時得到金屬薄膜的介電常數(shù)和厚度，操作方法簡單。我們利用Kretschmann型結(jié)構(gòu)的表面等離子體共振實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，測得金膜...

隨著城市化進(jìn)程的加快和人口的增加，軌道交通已經(jīng)成為城市中不可或缺的一部分。軌道交通的安全和運(yùn)營對于現(xiàn)代城市的運(yùn)轉(zhuǎn)至關(guān)重要。而激光位移傳感器的高精度和高靈敏度使其在軌道交通領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用，它能夠快速準(zhǔn)確地測量列車的位置和運(yùn)動狀態(tài)，為軌道交通的安全和運(yùn)營提...

為了提高靶丸內(nèi)爆壓縮效率，需要確保靶丸所有幾何參數(shù)和物性參數(shù)都符合理想的球?qū)ΨQ狀態(tài)，因此需要對靶丸殼層厚度分布進(jìn)行精密檢測。常用的測量手法有X射線顯微輻照法、激光差動共焦法和白光干涉法等。白光干涉法是以白光作為光源，分成入射到參考鏡和待測樣品的兩束光，在計(jì)算機(jī)...

液晶玻璃基板品質(zhì)管控要求嚴(yán)格、設(shè)備精度要求高，傳統(tǒng)的接觸式測厚裝置因其測量精度差、測量頻次有限而無法形成連續(xù)測量、接觸式測量裝置損耗快，需頻繁定期更換等不足，已無法滿足當(dāng)前生產(chǎn)要求。激光測厚裝置的應(yīng)用有效彌補(bǔ)了接觸式測厚裝置的不足，從效率、精度、準(zhǔn)度、連續(xù)性、...

激光位移傳感器可以幫助制造商在生產(chǎn)過程中及時發(fā)現(xiàn)和解決問題，提高生產(chǎn)效率和質(zhì)量。例如，在半導(dǎo)體制造中，激光位移傳感器可以用于檢測芯片的厚度和變形，確保芯片的質(zhì)量和性能。在制藥行業(yè)中，激光位移傳感器可以用于檢測藥品的質(zhì)量和成分，確保藥品的有效性和安全性。激...

光譜共焦技術(shù)主要包括成像、位置確認(rèn)和檢測三個步驟。首先，使用顯微鏡對樣品進(jìn)行成像，并將圖像傳遞給計(jì)算機(jī)處理。然后通過算法對圖像進(jìn)行位置確認(rèn)，以確定樣品的空間位置。之后，通過對樣品的光譜信息分析，實(shí)現(xiàn)對其成分的檢測。在點(diǎn)膠行業(yè)中，光譜共焦技術(shù)可以準(zhǔn)確地檢測點(diǎn)膠的...

共焦位移傳感器是一種共焦位移傳感器,其包括:頭單元，其包括共焦光學(xué)系統(tǒng)；約束裝置，其包括投光用光源，所述投光用光源被構(gòu)造為產(chǎn)生具有多個波長的光；以及光纖線纜，其包括用于將從所述投光用光源出射的光傳送到所述頭單元的光纖。所述頭單元包括光學(xué)構(gòu)件，所述光學(xué)構(gòu)件被構(gòu)造...

隨著社會的發(fā)展，智能設(shè)備不斷進(jìn)化，人們對個性化的追求日益增加。復(fù)雜的形狀意味著對點(diǎn)膠設(shè)備提出更高的精度和靈活性要求。當(dāng)前在手機(jī)中板和屏幕模組貼合時，需要在中板上面點(diǎn)一圈透明的UV膠，由于其白色反光特性，只能使用光譜共焦傳感器進(jìn)行完美測量。光譜共焦傳感器的復(fù)合光...

采用對比測試方法，首先對基于白光共焦光譜技術(shù)的靶丸外表面輪廓測量精度進(jìn)行了考核。為了便于比較，將原子力顯微鏡輪廓儀的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行了偏移。二者的低階輪廓整體相似，局部的輪廓信息存在一定的偏差，原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測量圓周輪廓結(jié)果不一致;此外，白光共焦...

高像素傳感器的設(shè)計(jì)取決于對焦水平和圖像室內(nèi)空間NA的要求。同時，在光譜共焦位移傳感器中，屏幕分辨率通常采用全半寬來進(jìn)行精確測量。高NA可以降低半寬，提高分辨率。因此，在設(shè)計(jì)超色差攝像鏡頭時，需要盡可能提高NA。高圖像室內(nèi)空間NA可以提高傳感器系統(tǒng)的燈源使用率，...

我們智能能設(shè)備的進(jìn)化日新月異，人們的追求越來越個性化。愈發(fā)復(fù)雜的形狀意味著，對點(diǎn)膠設(shè)備提出更高的要求，需要應(yīng)對更高的點(diǎn)膠精度!更靈活的點(diǎn)膠角度!目前手機(jī)中板和屏幕模組貼合時，需要在中板上面點(diǎn)一圈透明的UV膠，這種膠由于白色反光的原因，只能使用光譜共焦傳感器進(jìn)行...

隨著科技的不斷發(fā)展，光譜共焦技術(shù)已成為現(xiàn)代制造業(yè)中不可或缺的一部分。作為一種高精度、高效率的檢測手段，光譜共焦技術(shù)在點(diǎn)膠行業(yè)中的應(yīng)用越來越普遍。光譜共焦技術(shù)基于光學(xué)原理，通過將白光分解為不同波長的光波，實(shí)現(xiàn)對樣品的精細(xì)光譜分析。在制造業(yè)中，點(diǎn)膠是一道重要的工序...

光譜共焦位移傳感器是一種用于測量物體表面形貌和位移的先進(jìn)傳感器技術(shù)。它能夠通過光譜共焦原理實(shí)現(xiàn)高精度的位移測量，廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科學(xué)研究和醫(yī)療診斷等領(lǐng)域。本文將介紹光譜共焦位移傳感器的工作原理、測試場景和解決方案。光譜共焦位移傳感器的工作原理是基于光學(xué)共焦...

玻璃基板是液晶顯示屏必不可少的零部件之一，一張液晶顯示屏要用二張玻璃基板，各自做為底層玻璃基板和彩色濾底版應(yīng)用。玻璃基板的品質(zhì)對控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、凈重、可視角度等數(shù)據(jù)都是有關(guān)鍵危害。玻璃基板是組成液晶顯示屏元器件一個基本上構(gòu)件。這是一種表層...

譜共焦測量技術(shù)由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實(shí)時性高、對被測表面狀況要求低、以及高分辨率的獨(dú)特優(yōu)勢，迅速成為工業(yè)測量的熱門傳感器，在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測量、3C電子等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。 本次測量...

在電化學(xué)領(lǐng)域，電極片的厚度是一個重要的參數(shù)，直接影響著電化學(xué)反應(yīng)的效率和穩(wěn)定性，我們將介紹光譜共焦位移傳感器對射測量電極片厚度的具體方法。首先，我們需要準(zhǔn)備一塊待測電極片和光譜共焦位移傳感器。將電極片放置在測量平臺上，并調(diào)整傳感器的位置，使其與電極片表面保持垂...

硅片柵線的厚度測量方法我們還用創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器，TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025 μm的重復(fù)精度，±0.02% of F.S.的線性精度，10kHz的測量速度，以及±60°的測量角度，能夠適應(yīng)鏡面、透明、半透明、...

在硅片柵線的厚度測量過程中，創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器被使用。TS-C系列光譜共焦位移傳感器具有0.025 μm的重復(fù)精度，±0.02%的線性精度，10kHz的測量速度和±60°的測量角度。它適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面和多...

三坐標(biāo)測量機(jī)是加工現(xiàn)場常用的高精度產(chǎn)品尺寸及形位公差檢測設(shè)備，具有通用性強(qiáng)，精確可靠等優(yōu)點(diǎn)。本文面向一種特殊材料異型結(jié)構(gòu)零件內(nèi)曲面的表面粗糙度測量要求，提出一種基于高精度光譜共焦位移傳感技術(shù)的表面粗糙度集成在線測量方法，利用工業(yè)現(xiàn)場常用的三坐標(biāo)測量機(jī)平臺執(zhí)行輪...

光譜共焦技術(shù)是一種高精度、非接觸的光學(xué)測量技術(shù)，將軸向距離與波長的對應(yīng)關(guān)系建立了一套編碼規(guī)則。作為一種亞微米級、迅速精確測量的傳感器，基于光譜共焦技術(shù)的傳感器已廣應(yīng)用于表面微觀形狀、厚度測量、位移測量、在線監(jiān)控和過程管控等工業(yè)測量領(lǐng)域。隨著光譜共焦傳感技術(shù)的不...

光譜共焦技術(shù)是一種高精度、非接觸的光學(xué)測量技術(shù)，將軸向距離與波長的對應(yīng)關(guān)系建立了一套編碼規(guī)則。作為一種亞微米級、迅速精確測量的傳感器，基于光譜共焦技術(shù)的傳感器已廣應(yīng)用于表面微觀形狀、厚度測量、位移測量、在線監(jiān)控和過程管控等工業(yè)測量領(lǐng)域。隨著光譜共焦傳感技術(shù)的不...

背景技術(shù):光學(xué)測量與成像技術(shù),通過光源、被測物體和探測器三點(diǎn)共，去除焦點(diǎn)以外的雜散光，得到比傳統(tǒng)寬場顯微鏡更高的橫向分辨率，同時由于引入圓孔探測具有了軸向深度層析能力，通過焦平面的上下平移從而得到物體的微觀三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像...

光纖白光干涉此次實(shí)驗(yàn)所設(shè)計(jì)的解調(diào)系統(tǒng)是通過檢測干涉峰值的中心波長的移動實(shí)現(xiàn)的，所以光源中心波長的穩(wěn)定性將對實(shí)驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。實(shí)驗(yàn)中我們所選用的光源是由INPHENIX公司生產(chǎn)的SLED光源，相對于一般的寬帶光源具有輸出功率高、覆蓋光譜范圍寬等特點(diǎn)。該光源...

使用了迭代算法的光譜擬合法，其優(yōu)缺點(diǎn)在很大程度上取決于所選擇的算法。隨著各種全局優(yōu)化算法的引入，遺傳算法和模擬退火算法等新算法被用于薄膜參數(shù)的測量。其缺點(diǎn)是不夠?qū)嵱茫摲椒ㄐ枰粋€較好的薄膜的光學(xué)模型(包括色散系數(shù)、吸收系數(shù)、多層膜系統(tǒng))，但是在實(shí)際測試過程中...

光譜擬合法易于應(yīng)用于測量，但由于使用了迭代算法，因此其優(yōu)缺點(diǎn)在很大程度上取決于所選擇的算法。隨著遺傳算法、模擬退火算法等全局優(yōu)化算法的引入，被用于測量薄膜參數(shù)。該方法需要一個較好的薄膜光學(xué)模型(包括色散系數(shù)、吸收系數(shù)、多層膜系統(tǒng))，但實(shí)際測試過程中薄膜的色散和...

白光干涉測量技術(shù)，也被稱為光學(xué)低相干干涉測量技術(shù)，使用的是低相干的寬譜光源，例如發(fā)光二極管、超輻射發(fā)光二極管等。同所有的光學(xué)干涉原理一樣，白光干涉同樣是通過觀察干涉圖樣的變化來分析干涉光程差的變化，進(jìn)而通過各種解調(diào)方案實(shí)現(xiàn)對待測物理量的測量。采用寬譜光源的優(yōu)點(diǎn)...

光譜共焦技術(shù)主要包括成像、位置確認(rèn)和檢測三個步驟。首先，使用顯微鏡對樣品進(jìn)行成像，并將圖像傳遞給計(jì)算機(jī)處理。然后通過算法對圖像進(jìn)行位置確認(rèn)，以確定樣品的空間位置。之后，通過對樣品的光譜信息分析，實(shí)現(xiàn)對其成分的檢測。在點(diǎn)膠行業(yè)中，光譜共焦技術(shù)可以準(zhǔn)確地檢測點(diǎn)膠的...