PCI-E測(cè)試MIPI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試

2，MIPID-PHY測(cè)試項(xiàng)目

(1)DataLaneHS-TXDifferentialVoltages

(2)DataLaneHS-TXDifferentialVoltageMismatch

(3)DataLaneHS-TXSingle-EndedOutputHighVoltages(

4)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltages

(5)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltageMismatchΔV_CMTX(1,0)

(6)DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsBetween50-450MHz

(7)1.3.10DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsAbove450MHz

(8)DataLaneHS-TX20%-80%RiseTime

(9)DataLaneHS-TX80%-20%FallTime

(10)DataLaneHSEntry:T_LPXValue

(11)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPAREValue

(12)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPARE+T_HS-ZEROValue

(13)DataLaneHSExit:T_HS-TRAILValue

(14)DataLaneHSExit:30%-85%Post-EoTRiseTimeT_REOT

(15)DataLaneHSExit:T_EOTValue

(16)DataLaneHSExit:T_HS-EXITValue

(17)HSEntry:T_CLK-PREValue

(18)HSExit:T_CLK-POSTValue

(19)HSClockRisingEdgeAlignmenttoFirstPayloadBit

(ata-to-ClockSkew(T_SKEW[TX])

(21)ClockLaneHSClockInstantaneous:UI_INSTValue

(22)ClockLaneHSClockDeltaUI:(ΔUI)Value MIPI D-PHY的信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法；PCI-E測(cè)試MIPI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試

一般來(lái)說(shuō)，比較器的失調(diào)電壓主要是由于輸入管不完全對(duì)稱(chēng)引起的。當(dāng)比較器存在輸入失調(diào)時(shí)，流經(jīng)DPAIR2模塊中輸人對(duì)管的電流會(huì)不一致，從而造成流入NLOAD2模塊的電流大小也不一致。此時(shí)通過(guò)改變控制字，使itrimm電流與iconst電流大小不同，在NLOAD2模塊中通過(guò)電流鏡補(bǔ)償輸入對(duì)管引起的電流差異，使得vpp和vpn端口剩下的電流一致，從而實(shí)現(xiàn)offset補(bǔ)償。校準(zhǔn)時(shí)，將比較器差分輸入端連接到地，通過(guò)對(duì)五位控制字從00000到11111掃描，再?gòu)?1111到00000掃描，觀察比較器的輸出，從而得到合適的控制字，實(shí)現(xiàn)offset校準(zhǔn)。經(jīng)仿真表明，該電路可實(shí)現(xiàn)+/-30mV的失調(diào)電壓校準(zhǔn)。重慶解決方案MIPI測(cè)試什么是mipi一致性測(cè)試；

在四條通路之間，在以2.5 Gbps/路運(yùn)行時(shí)，D-PHY 1.2信號(hào)的最大吞吐量約為10 Gbps。物理層信號(hào)有兩種模式：高速(HS)模式和低功率(LP)模式。高速[HS]模式用于快速傳送數(shù)據(jù)。在系統(tǒng)處于空閑時(shí)，低功率[LP]模式用來(lái)傳送控制信息，以延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。HS和LP模式有不同的端接方式，系統(tǒng)應(yīng)能夠動(dòng)態(tài)改變端接方式，以支持這兩種模式

HS數(shù)據(jù)的速度越高，顯示器能夠支持的分辨率越高，影像的清晰度也就越好。數(shù)據(jù)速率與分辨率之間的關(guān)系，還要看一下其他幾個(gè)參數(shù)。

●像素時(shí)鐘：決定著像素傳送的速率

●刷新速率：屏幕每秒刷新次數(shù)

●色彩深度：用來(lái)表示一個(gè)像素的顏色的位數(shù)像素時(shí)鐘的推導(dǎo)公式如下：像素時(shí)鐘=水平樣點(diǎn)數(shù)x垂直行數(shù)x刷新速率。其中水平樣點(diǎn)數(shù)和垂直行數(shù)包括水平和垂直消隱間隔。

MIPI還是一個(gè)正在發(fā)展的規(guī)范，其未來(lái)的改進(jìn)方向包括采用更高速的嵌入式時(shí)鐘的M-PHY作為物理層、CSI/DSI向更高版本發(fā)展、完善基帶和射頻芯片間的DigRFV4接口、定義高速存儲(chǔ)接口UFS(主要是JEDEC組織)等。當(dāng)然，MIPI能否成功，還取決于市場(chǎng)的選擇。

當(dāng)前，終端市場(chǎng)要求新設(shè)計(jì)具有更低功耗、更高數(shù)據(jù)傳輸率和更小的PCB占位空間，在這種巨大壓力之下，一些智能化且具有更高性能價(jià)格比的替代方案開(kāi)始逐漸為相關(guān)設(shè)計(jì)人員所采用。現(xiàn)在使用的幾種基于標(biāo)準(zhǔn)的串行差分接口當(dāng)中，MIPI接口在功率敏感同時(shí)又要求高性能的移動(dòng)手持式設(shè)備領(lǐng)域中的增長(zhǎng)極為迅速。而基帶和顯示器/相機(jī)模塊對(duì)MIPI顯示器串行接口(DisplaySerialInterface，DSI)和相機(jī)串行接口(CameraSerialInterface，CSI-2)協(xié)議的采納，正是這種增長(zhǎng)的主要推動(dòng)力。DSI和CSI-2是分別針對(duì)顯示器和相機(jī)要求的邏輯層(logical-level)協(xié)議，它們通過(guò)物理互連對(duì)主機(jī)與外設(shè)之間的數(shù)據(jù)進(jìn)行管理、差錯(cuò)和通信。MIPID-PHY規(guī)定了連接處理器和外設(shè)的物理層的物理及電氣特性，這些MIPI接口為服務(wù)移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)而專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)。 數(shù)據(jù)線的LP信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

MIPID-PHY信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

MIPID-PHY的信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法主要參考MIPI協(xié)會(huì)發(fā)布的CTS(D-PHYPhysicalLayerConformanceTestSuite)。要進(jìn)行MIPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，首先要選擇合適帶寬的示波器。按照MIPI協(xié)會(huì)的要求，測(cè)試MIPID-PHY的信號(hào)質(zhì)量需要至少4GHz帶寬的示波器。為了提高更好測(cè)試的效率，測(cè)試中推薦采用4支探頭分別連接clk+/clk-和data+data一信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于有多條Lane的情況可以每條數(shù)據(jù)Lane分別測(cè)試。 MIPI-DSI接口以MIPI D-PHY協(xié)議定義的物理傳輸層為基礎(chǔ);MIPI測(cè)試廠家現(xiàn)貨

嵌入式--接口--MIPI接口；PCI-E測(cè)試MIPI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試

MIPI眼圖測(cè)試

MIPI眼圖測(cè)試是一種用于評(píng)估MIPI傳輸速率和誤差性能的測(cè)試方法之一。這種測(cè)試方法基于MIPI接口產(chǎn)生的信號(hào)波形的“眼圖”特征進(jìn)行分析和評(píng)估。眼圖是由信號(hào)周期內(nèi)多個(gè)時(shí)刻的采樣點(diǎn)形成的可視化圖形，可以描述信號(hào)的噪聲、抖動(dòng)和失真情況。在MIPI眼圖測(cè)試中，測(cè)試設(shè)備會(huì)通過(guò)MIPI數(shù)據(jù)通道發(fā)送一系列固定數(shù)據(jù)模式，并以不同的數(shù)據(jù)速率和時(shí)鐘頻率進(jìn)行測(cè)試。然后，利用示波器觀察和記錄信號(hào)的眼圖特征，根據(jù)MIPI聯(lián)盟制定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行判斷和評(píng)估，以確定是否符合MIPI規(guī)范。通過(guò)MIPI眼圖測(cè)試，可以檢查MIPI接口的傳輸速率、誤碼率以及噪聲等性能指標(biāo)，幫助廠商確保其MIPI產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。 PCI-E測(cè)試MIPI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試