特點:X射線源:涵蓋各領域應用,從有機物到金屬樣品標稱分辨率(放大倍數(shù)下的像素尺寸):檢測樣品極小的細節(jié)X射線探測器:3MP(1,944x1,536)有效像素的CMOS平板探測器,高讀取速度,高信噪比樣品尺寸:適用于小-中等尺寸樣品輻射安全:滿足國際安全要求供電要求:標準插座,即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供,如您想了解更多關于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。SKYSCAN 1272藥物:確定壓實密度、測量包衣厚度、評估API分布、檢測片劑中微型裂隙。芯片無損檢測
新品重磅出擊!多量程X射線納米CT系統(tǒng)型號:SKYSCAN2214產地:比利時新型的多量程納米CT-SkyScan2214完美的解決了樣品尺寸多樣化與空間分辨率的矛盾,一臺設備即可實現(xiàn)從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。創(chuàng)新性的采用幾何放大與光纖放大相結合的兩級放大模式,使樣品在距離光源很大距離的情況下依然獲得亞微米級的分辨率,同時還解決了光學透鏡二級放大帶來的掃描效率低的問題,用戶無需再花費幾個小時甚至是數(shù)十個小時等待一個結果了。顯微CT骨科學研究先進的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有 分辨率的高對比度圖像。
X射線顯微CT:先進的無損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫(yī)用CT(或“CAT”)原理相同,可進行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內部非常細微的結構進行無損成像,真正實現(xiàn)三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實現(xiàn)對樣品對象的完整內部三維結構的完整成像,并且可以完好取回樣本品!特點:先進的掃描引擎—可變掃描幾何:可以提高成像質量,或將掃描時間縮短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的軟件套件自動樣品切換器
SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS藥物一種口服藥物,以腸溶顆粒形式存在,像素大小為0.45μm。包衣由三層組成,外層用顏色編碼厚度。新藥開發(fā)是個費時費錢的過程。,XRM可以在產品配方階段即時提供產品內部結構,加快新藥上市。1.確定片劑的壓實密度2.測量包衣厚度均勻性3.評估API分布4.檢測被壓實的片劑中由應力導致的微型裂隙5.利用原位壓縮檢測力學性能。二維/三維數(shù)據(jù)分析,面/體繪制軟件實現(xiàn)三維可視化,結果可輸出到手機或者平板電腦上。
SKYSCAN2214功能原位試驗臺SKYSCAN2214擁有高度準確的樣品臺,支持直徑達到300mm和重量達到20kg的物體??諝鈶腋∈叫D馬達能以非常高的準確度準確地旋轉樣品位置,集成的精密定位平臺能保證樣品完全對準。SKYSCAN2214擁有一個很大的且使用方便的樣品室,方便掃描大型物體和安裝可選的試驗臺。它有足夠的空間可供容納其他設備。布魯克的材料試驗臺可以進行較大4400N的壓縮試驗和較大440N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉臺自動聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設置預定掃描試驗。布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到較高+80oC或較低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣,加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺,可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。SKYSCAN2214與DEBEN試驗臺可以完全兼容。借助自帶的適配器,DEBEN試驗臺可以很容易地被安裝到SKYSCAN2214的旋轉臺上。SKYSCAN 1272泡沫材料:根據(jù)泡沫的材質和結構特性,可用作隔熱或隔音材料,也可用作保護或減震。芯片無損檢測
XRM能以無損的方式完成這種檢測,確保生產出的部件符合或超出規(guī)定的性能。芯片無損檢測
SkyScan2214為油氣勘探,復合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進行樣品掃描,并提供世界上快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得(許可)的精確的螺旋重建算法,為準確測量提供高精度信息?!ら_放式納米焦點金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動切換(多可選4個),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,小像素尺寸優(yōu)于60nm·芯片無損檢測