東莞新一代AOI原理

AOI（automaticallyopticalinspection）是光學(xué)自動檢測，顧名思義是通過光學(xué)系統(tǒng)成像實現(xiàn)自動檢測的一種手段，是眾多自動圖像傳感檢測技術(shù)中的一種檢測技術(shù)，技術(shù)點如何獲得準(zhǔn)確且高質(zhì)量的光學(xué)圖像并加工處理。AOI檢測技術(shù)應(yīng)運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發(fā)展需求。AOI檢測的比較大優(yōu)點是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率，統(tǒng)一檢測標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾，保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復(fù)性和準(zhǔn)確性，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。 該產(chǎn)品具有高度的可靠性和耐用性，可以長時間使用。東莞新一代AOI原理

AOI就是自動光學(xué)辨識系統(tǒng),是英文(AutoOpticalInspection)的縮寫，國內(nèi)叫做自動光學(xué)檢測儀，現(xiàn)在已經(jīng)普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的電路板組裝生產(chǎn)線的外觀檢查并取代以往的人工目檢。AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備的基本原理是利用影像技術(shù)來比對待測物與標(biāo)準(zhǔn)影像是否有過大的差異來判斷待測物有否符合標(biāo)準(zhǔn)，所以AOI的好壞基本上也取決于其對影像的解析度、成像能力與影像辨析技術(shù)。早期時候AOI自動光學(xué)檢測設(shè)備大多被拿來檢測IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，隨著技術(shù)的演進，現(xiàn)在則被拿來用在SMT組裝線上檢測電路板上的零件焊錫組裝后的品質(zhì)狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn)。 廣州自動AOI品牌該產(chǎn)品具有高度的兼容性，可以與多種設(shè)備進行無縫連接。

AOI技術(shù)可以對檢測結(jié)果進行數(shù)據(jù)分析，可以提供詳細的檢測報告，從而幫助電子制造企業(yè)進行質(zhì)量控制和生產(chǎn)管理。AOI技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域AOI技術(shù)廣泛應(yīng)用于電子制造業(yè)的各個領(lǐng)域，包括通信、計算機、消費電子、汽車電子等。在通信領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于光纖通信設(shè)備的制造；在計算機領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于主板、顯卡等電路板的制造；在消費電子領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于手機、平板電腦等電子產(chǎn)品的制造；在汽車電子領(lǐng)域，AOI技術(shù)可以用于汽車電子控制系統(tǒng)的制造。

愛為視（Aivs）新一代智能AOI運用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同帖裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測方案，以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用愛為視（Aivs）新一代智能AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，愛為視（Aivs）新一代智能AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。AOI技術(shù)可以提高電子制造的效率和質(zhì)量。它可以在制造過程中及時發(fā)現(xiàn)問題，從而減少了制造成本和時間。

AOI圖像采集的然后一個關(guān)鍵步驟是控制系統(tǒng)，光電傳感器的FOV（視窗）有限，物體高速運動中準(zhǔn)確地抓拍到清晰的圖像，軟硬件協(xié)調(diào)動作非常重要，如下圖所示，當(dāng)圖像傳感器與機臺移動速度不匹配時造成圖像的拉伸，收縮等變形，所以，載物移動平臺XY方向移動與圖像采集光電傳感器的同步移動影響到數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確，要在固定光照，等間距下拍攝一幅清晰的圖像，高精度的導(dǎo)軌，電機和運動控制程序是非常必要的。數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換）數(shù)據(jù)處理階段是圖像的預(yù)處理階段，是采集圖像的加工處理過程，為圖像比對提供準(zhǔn)確可靠的圖片信息，主要包含了背景噪音減少，圖像增強和銳化等過程。 AOI是將電路板上的器件或者特征(比如焊點)捕捉成像。廣東離線AOI測試

離線AOI能夠自動記錄檢測結(jié)果，方便后續(xù)分析和處理。東莞新一代AOI原理

AOI檢測設(shè)備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應(yīng)的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。（下圖為側(cè)光源與同軸光源實例）東莞新一代AOI原理