深圳新一代AOI測(cè)試

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-08-05

在ICT上,相對(duì)這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無(wú)錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個(gè)原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認(rèn)識(shí)到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)。這個(gè)位置的檢查較直接地支持過程跟蹤和特征化。這個(gè)階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會(huì)產(chǎn)生?;亓骱盖?。檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個(gè)典型地放置檢查機(jī)器的位置,因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來(lái)自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個(gè)位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速片機(jī)和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個(gè)信息可用來(lái)修改元件貼放或表明貼片機(jī)需要校準(zhǔn)。這個(gè)位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)?;亓骱负蟆T赟MT工藝過程的之后步驟進(jìn)行檢查,這是AOI較普及的選擇,因?yàn)檫@個(gè)位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯(cuò)誤?;亓骱负髾z查提供高度的安全性,因?yàn)樗R(shí)別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。 AOI檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高,檢測(cè)速度與效率更高,檢測(cè)零缺陷的發(fā)展需求。深圳新一代AOI測(cè)試

深圳新一代AOI測(cè)試,AOI

基本的AOI技術(shù)包含下列子系統(tǒng):高速高精度XY方向的運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng);機(jī)械光學(xué)系統(tǒng);高精度高可靠性圖像采集系統(tǒng);智能圖像識(shí)別與錯(cuò)誤檢測(cè)系統(tǒng)。這些子系統(tǒng)構(gòu)成了一個(gè)與多維測(cè)量和錯(cuò)誤檢測(cè)密切相關(guān)的設(shè)備。注意到AOI識(shí)別是機(jī)器視覺在印刷電路板領(lǐng)域的具體應(yīng)用,換言之,印刷電路板的缺陷檢測(cè)實(shí)質(zhì)上是屬于模式識(shí)別的范疇。它將PCB上的不同缺陷視為不同的模式類,從采集到的圖像信號(hào)中提取和選擇特征,根據(jù)特征向量構(gòu)造判別函數(shù),進(jìn)行缺陷分類,即模式識(shí)別。識(shí)別算法的好壞直接影響到智能圖像識(shí)別系統(tǒng)的性能,進(jìn)而影響整個(gè)AOI系統(tǒng)的性能。從機(jī)器視覺的發(fā)展來(lái)看,目前在AOI上面至少可以完整地應(yīng)用以下的視覺識(shí)別算法。上海在線AOI檢測(cè)AOI是光學(xué)自動(dòng)檢測(cè),是眾多自動(dòng)圖像傳感檢測(cè)技術(shù)中的一種檢測(cè)技術(shù),技術(shù)點(diǎn)如何獲得準(zhǔn)確并加工處理。

深圳新一代AOI測(cè)試,AOI

AOI(automaticallyopticalinspection)是光學(xué)自動(dòng)檢測(cè),顧名思義是通過光學(xué)系統(tǒng)成像實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)的一種手段,是眾多自動(dòng)圖像傳感檢測(cè)技術(shù)中的一種檢測(cè)技術(shù),中心技術(shù)點(diǎn)如何獲得準(zhǔn)確且高質(zhì)量的光學(xué)圖像并加工處理。AOI檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高,檢測(cè)速度與效率更高,檢測(cè)零缺陷的發(fā)展需求。AOI檢測(cè)的比較大優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力,降低成本,提高生產(chǎn)效率,統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾,保證了檢測(cè)結(jié)果的穩(wěn)定性,可重復(fù)性和準(zhǔn)確性,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良,確保出貨質(zhì)量。在人工智能技術(shù)與大數(shù)據(jù)發(fā)展進(jìn)步的現(xiàn)在,AOI檢測(cè)不僅只是一部檢測(cè)設(shè)備,對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì),可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因,在工藝改善和生產(chǎn)良率提升中也正逐步發(fā)揮著更重要的作用,因此,可以預(yù)期未來(lái)AOI檢測(cè)技術(shù)將在半導(dǎo)體與電子電路檢測(cè)中將會(huì)發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。

光源:八側(cè)面多角度高亮條形光源相機(jī):標(biāo)配2000萬(wàn)CCD全彩工業(yè)面陣相機(jī)(可選配1200萬(wàn)/2500萬(wàn)/2900萬(wàn))FOV:400*300mm可檢PCBA尺寸:寬度400mm,長(zhǎng)度不限;可選配寬度750mm,長(zhǎng)度不限CPU:inteli59600KF;GPU:NVIDIA獨(dú)立顯卡顯存:8G/6G內(nèi)存/硬盤存儲(chǔ):16GDDR4/2T操作系統(tǒng)::22寸/,率先對(duì)AOI進(jìn)行變革。采用深度學(xué)習(xí)算法,解決AOI編程復(fù)雜、誤報(bào)多的行業(yè)痛點(diǎn),為客戶提供智能的插件檢測(cè)方案。公司團(tuán)隊(duì)深耕計(jì)算機(jī)視覺領(lǐng)域、圖形、圖像領(lǐng)域16余年,擁有20年行業(yè)背景。合作客戶覆蓋工控、電源、電力、家電、汽車電子、醫(yī)療電子、消費(fèi)電子等多個(gè)行業(yè)。在長(zhǎng)期的經(jīng)營(yíng)活動(dòng)中以高效的服務(wù)贏得廣大客戶的信賴及推介。由于電路板尺寸大小的改變提出更多的挑戰(zhàn),越來(lái)越多的原設(shè)備制造商采用AOI。

深圳新一代AOI測(cè)試,AOI

AOI技術(shù)向智能化方向發(fā)展是SMT發(fā)展帶來(lái)的必然要求。在SMT的微型化、高密度化、快速組裝化、品種多樣化發(fā)展特征下,檢測(cè)信息量大而復(fù)雜,無(wú)論是在檢測(cè)反饋實(shí)時(shí)性方面,還是在分析、診斷的正確性方面,依賴人工對(duì)AOI獲取的質(zhì)量信息進(jìn)行分析、診斷幾乎已經(jīng)不可能,代替人工進(jìn)行自動(dòng)分析、診斷的智能AOI技術(shù)成為發(fā)展的必然。對(duì)各種缺陷的特征提取和缺陷識(shí)別與分類進(jìn)行研究;針對(duì)高密度PCB視覺檢測(cè)系統(tǒng)中要檢測(cè)的缺陷細(xì)小,缺陷的種類繁多,特征不易確定等問題,對(duì)于各種不同缺陷的特征提取技術(shù)和各種分類方式進(jìn)行研究,采用機(jī)器學(xué)習(xí)的方法,設(shè)計(jì)不同的分類器,并對(duì)不同分類器的分類效果和誤差進(jìn)行比較和分析,采用優(yōu)化的分類器可以實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷的快速檢出和準(zhǔn)確分類,并盡可能地提高分類器的智能化水平。可重復(fù)性是判斷AOI軟件優(yōu)劣的重要指標(biāo)。江西離線AOI測(cè)試

AOI設(shè)備是高度定制化產(chǎn)品,設(shè)備廠商往往需要根據(jù)下游客戶的要求進(jìn)行主機(jī)設(shè)備的調(diào)整或是軟件的二次開發(fā)。深圳新一代AOI測(cè)試

AOI的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。目前AOI的功能一般都比較全,也沒有多大的差別。下面就一些常見的功用作一些簡(jiǎn)要的說明。1、分辨率的選擇:AOI的分辨率應(yīng)以像元的尺寸大小作為判別的條件,也就是空間分辨率來(lái)衡量。像素的大小不是判別AOI檢出能力的標(biāo)準(zhǔn),準(zhǔn)確地講像素大,是決定單位面積像元尺寸大小的因素。如果單位面積不同,像素再高也沒有可比性。2、特殊功能的選擇:如果你要對(duì)多連板的PCBA進(jìn)行檢測(cè),就一定要選擇有跳板功能的AOI,也就是有區(qū)域選擇功能的AOI。如果你將AOI用作質(zhì)量的過程控制,那么,你在選擇AOI時(shí),一定要選擇具有RPC功能的AOI,也就是具有實(shí)時(shí)工藝過程控制的AOI。 深圳新一代AOI測(cè)試

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標(biāo)簽: AOI