湖北AOI設(shè)備

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-01-26

    網(wǎng)絡(luò):千兆網(wǎng)卡結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)約,便于快速安裝Simplestructureeasytoinstallquickly落地式安裝,無(wú)需改動(dòng)流水線Floormounted,noneedtochangetheassemblyline在線無(wú)感檢測(cè),PCBA流過(guò)快速給出結(jié)果On-linesensorlessdetection,PCBAflowthroughthefastgivesresults寬度與高度可調(diào),適應(yīng)性強(qiáng)Adjustablewidthandheight,strongadaptability特色檢測(cè)項(xiàng)目(黑電感字符檢測(cè)、器件與底板同色的器件檢測(cè)、鋁電容頂部字符識(shí)別、黑灰電容字符識(shí)別、電池座方向識(shí)別、小鐵片檢測(cè)、聚丙烯電容字符識(shí)別、電線檢測(cè)、變壓器字符識(shí)別、晶振字符識(shí)別、螺紋/光頭射頻頭檢測(cè)、蜂鳴器方向檢測(cè)、東倒西歪的電容極性識(shí)別)本系統(tǒng)采用的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ConvolutionalNeuralNetworks,CNN)是一類包含卷積計(jì)算且具有深度結(jié)構(gòu)的前饋神經(jīng)網(wǎng)(FeedforwardNeuralNetworks),是深度學(xué)習(xí)(deeplearning)的表示算法之一。卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)仿造生物的視知覺(jué)(visualperception)機(jī)制構(gòu)建,可以進(jìn)行監(jiān)督學(xué)習(xí)和非監(jiān)督學(xué)習(xí)。作為圖像識(shí)別領(lǐng)域的中心算法之一,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)充足時(shí)有穩(wěn)定的表現(xiàn)。針對(duì)本系統(tǒng)所處理的大規(guī)模圖像分類問(wèn)題,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)將用于提取圖像的判別特征,再通過(guò)分類器進(jìn)行學(xué)習(xí)和識(shí)別。 AOI是光學(xué)自動(dòng)檢測(cè),是眾多自動(dòng)圖像傳感檢測(cè)技術(shù)中的一種檢測(cè)技術(shù),技術(shù)點(diǎn)如何獲得準(zhǔn)確并加工處理。湖北AOI設(shè)備

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  AOI檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的背景是電子元件集成度與精細(xì)化程度高,檢測(cè)速度與效率更高,檢測(cè)零缺陷的發(fā)展需求。AOI檢測(cè)的比較大的優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力,降低成本,提高生產(chǎn)效率,統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和排除人為因素干擾,保證了檢測(cè)結(jié)果的穩(wěn)定性,可重復(fù)性和準(zhǔn)確性,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良,確保出貨質(zhì)量。在人工智能技術(shù)與大數(shù)據(jù)發(fā)展進(jìn)步中,AOI檢測(cè)不僅是一部檢測(cè)設(shè)備,對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì),可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因,在工藝改善和生產(chǎn)良率提升中也正逐步發(fā)揮著更重要的作用,因此,可以預(yù)期未來(lái)AOI檢測(cè)技術(shù)將在半導(dǎo)體與電子電路檢測(cè)中將會(huì)發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。湖南新一代AOI研發(fā)AOI檢測(cè)儀可以進(jìn)行多維度檢測(cè)監(jiān)督產(chǎn)品性能,即便是有普通的劃痕等也可以通過(guò)這種智能化技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。

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AOI檢測(cè)原理是采用攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)以定量化的灰階值輸出,通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較,分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過(guò)程。與人工檢查做一個(gè)形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時(shí)的自然光,AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼,AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦,即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)。因此,AOI檢測(cè)的工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集),數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換),圖像分析段(特征提取與模板比對(duì))和缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段(缺陷大小類型分類等)。為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺(tái),成像系統(tǒng),圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分,是一個(gè)集成了機(jī)械,自動(dòng)化,光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備。

AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分。因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與模板做對(duì)比,所以獲取的圖像信息準(zhǔn)確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要,可以想象一下,如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn),那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。下面我們對(duì)光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分逐一分析介紹。首先,光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)。二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,依次輸出模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的。存在的主要問(wèn)題是,當(dāng)一些檢查對(duì)象是不可見(jiàn)的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊或隱藏起來(lái)了。

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如果把AI視覺(jué)比作一個(gè)個(gè)體,那么深度學(xué)習(xí)便成為這一個(gè)體中重要的機(jī)體之一,許多功能的存在直接來(lái)源且依賴于它。直觀點(diǎn)說(shuō),深度學(xué)習(xí)算法成功運(yùn)用于計(jì)算機(jī)視覺(jué)的實(shí)例如人臉識(shí)別、圖像**、物體檢測(cè)與追蹤等。人工檢測(cè)在早期的工業(yè)質(zhì)檢中占有一定的優(yōu)勢(shì),但隨著生產(chǎn)科技的不端更新進(jìn)步,制造環(huán)節(jié)對(duì)于檢驗(yàn)水平的要求也越來(lái)越高,顯然人工檢查已無(wú)法滿足,檢測(cè)程度越來(lái)越復(fù)雜化和精密化使得機(jī)器視覺(jué)迫切需要被應(yīng)用其中來(lái)承擔(dān)、平衡生產(chǎn)的強(qiáng)度及壓力。與人工檢查做一個(gè)形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時(shí)的自然光。上海新一代AOI研發(fā)

AOI通過(guò)人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。湖北AOI設(shè)備

照明光源按照波長(zhǎng)分類可以分為可見(jiàn)波長(zhǎng)光源,特殊波長(zhǎng)光源??梢?jiàn)波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中較常用的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源,一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源,比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用,例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差,可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)。湖北AOI設(shè)備

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