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微電流高壓放電檢漏儀E-Scan655是一個(gè)確定的離線微漏測(cè)試儀,它使用的是新種類的高壓放電技術(shù)用來檢測(cè)西林瓶、預(yù)注射器、和其他液體填充的注射劑產(chǎn)品的容器密閉完整性。E-Scan655技術(shù)是微電流導(dǎo)電測(cè)試方法,HVLDmc,該方法是對(duì)容器和產(chǎn)品完全無損的方法;將包裝和產(chǎn)品暴露到比其他導(dǎo)電溶液更低的電壓。該技術(shù)采用非接觸的和非侵入的測(cè)試方法,無需樣品制備。E-Scan655可以用于各種液體產(chǎn)品包括低導(dǎo)電的無菌注射用水(WFI)和含有懸浮液的蛋白質(zhì)產(chǎn)品。 E-Scan655的特點(diǎn)是測(cè)試速度快、操作簡單,額外的特點(diǎn)包括快速切換和很容易設(shè)置方法以適應(yīng)各種產(chǎn)品和應(yīng)用。離線的E-Scan655方法可以從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)移到高生產(chǎn)速率下的**產(chǎn)線測(cè)試應(yīng)用。 四川專業(yè)包裝檢漏儀行業(yè)**在線為您服務(wù)

PTI的E-Scan 655技術(shù)使用獨(dú)特的微電流高壓放電模式,采用少于傳統(tǒng)高電壓技術(shù)50%的電壓。該方案的特性是可以測(cè)試極低導(dǎo)電率液體如無菌水(WFI)的包裝。在測(cè)試過程中應(yīng)用到產(chǎn)品的微電流**減少了暴露到產(chǎn)品和環(huán)境的電壓。實(shí)際上,采用PTI的微電流高壓放電減少了對(duì)產(chǎn)品的電壓暴露到少于5%的電壓暴露當(dāng)采用相當(dāng)?shù)母邏悍烹姺桨笢y(cè)試時(shí)。 特點(diǎn)——微電流高壓放電 ● 無損、非侵入、無需樣品制備 ● 重復(fù)性和準(zhǔn)確度高 ● 適用于所有注射劑產(chǎn)品,包括極低導(dǎo)電率的液體(注射用水) ● 對(duì)產(chǎn)品和環(huán)境低電壓暴露 ● 被USP1207引用,被推薦為注射劑液體包裝檢測(cè)的方法 ● 可靠的方法和大約3倍信噪比對(duì)于各種產(chǎn)品和包裝形式 ● 簡化檢測(cè)和驗(yàn)證過程 ● 離線和高生產(chǎn)速率下**在線檢測(cè) 重慶專業(yè)包裝檢漏儀專業(yè)團(tuán)隊(duì)在線服務(wù)

型號(hào)：VeriPac 455 真空衰減檢漏儀VeriPac 455采用的真空衰減法完全符合ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)，適用于微量泄漏檢測(cè)、密閉容器完整性檢漏，是一臺(tái)為空/滿的注射器、有液體/凍干的小瓶以及其他含有液體的包裝（無論柔軟還是堅(jiān)硬的）提供高精度無損檢測(cè)的系統(tǒng)。測(cè)試上述類型的產(chǎn)品要求很高的靈敏度、可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。密封測(cè)試儀VeriPac 455都能夠做到。 優(yōu)點(diǎn)： ● 非破壞性、無損、無需樣品準(zhǔn)備 ● 可檢測(cè)到0.05ccm小的漏點(diǎn) （直徑約為 1.5微米） ● 高級(jí)別的靈敏度、重復(fù)性、準(zhǔn)確性 ● 結(jié)論證明比染色法更好、更可靠 ● 支持可持續(xù)包裝，符合零浪費(fèi)的倡議 ● ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)

真空衰減法檢漏儀VeriPac 425是適用于食品、保健品、奶粉等行業(yè)的無損定量干法檢漏儀，硬包裝檢漏精度達(dá)5um，軟包裝檢漏精度達(dá)10um，已經(jīng)廣泛應(yīng)用在奶粉行業(yè)的奶粉袋、奶粉罐檢漏，用于替代傳統(tǒng)的水檢法。***降低測(cè)試樣品耗費(fèi)，1年左右即可回收設(shè)備成本，受到了用戶的一致好評(píng)。 特點(diǎn)： ● 無損、非侵入、無需樣品制備 ● 可檢測(cè)到**小0.2ccm的漏點(diǎn) ● 比較高的準(zhǔn)確度和重復(fù)性 ● 快速投資回報(bào)、高性價(jià)比 ● 支持可持續(xù)包裝、符合零排放倡議 ● 簡化檢驗(yàn)和驗(yàn)證過程 符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)和FDA要求

VeriPac310是用于檢漏和包裝完整性測(cè)試的無損的、非侵入的檢測(cè)系統(tǒng)。VeriPac310短的測(cè)試循環(huán)產(chǎn)生了實(shí)時(shí)的結(jié)果，這源于精細(xì)的定量測(cè)試來識(shí)別包裝缺點(diǎn)在關(guān)鍵工藝失控之前?？梢赃M(jìn)行測(cè)試以任何序列甚至在單個(gè)樣品上重復(fù)測(cè)試。VeriPac310使用ASTM**的真空衰減檢漏法F2338-09，該方法被FDA認(rèn)可作為一個(gè)包裝完整性測(cè)試的一致的標(biāo)準(zhǔn)。ASTM方法采用VeriPac檢漏儀器開發(fā)。 優(yōu)點(diǎn)： ● 無損、非主觀、無樣品制備 確定的、定量的測(cè)試方法 ● 重復(fù)的、快速的和可靠的測(cè)試 ● 劃算的和經(jīng)濟(jì)的 ● 簡化檢測(cè)和驗(yàn)證工藝 ● ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn) ● 缺點(diǎn)檢測(cè)低至20um 四川專業(yè)包裝檢漏儀行業(yè)**在線為您服務(wù)

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真空衰減法檢漏儀VeriPac D系列是通用的無損包裝檢測(cè)系統(tǒng)特別適用于軟袋和軟包裝，VeriPac檢測(cè)系統(tǒng)提供定性結(jié)果(通過或失敗)和與泄漏率和泄漏尺寸相關(guān)的定量數(shù)據(jù)。為了適應(yīng)各種包裝規(guī)格和測(cè)試靈敏度要求，VeriPac D系列有多種配置包括檢漏儀器和測(cè)試腔體容量。 VeriPac D系列使用ASTM標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的無損具有**技術(shù)的真空衰減檢漏方法(F2338)，該方法被FDA認(rèn)可為一致的包裝完整性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)測(cè)試方法的開發(fā)采用VeriPac 檢漏儀器。 VeriPac D系列檢測(cè)系統(tǒng)是破壞性測(cè)試的實(shí)用替代技術(shù)，因?yàn)樗麄兣懦酥饔^的測(cè)試結(jié)果、以及與這些方法有關(guān)的浪費(fèi)和費(fèi)用支出。真空衰減檢漏技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)可以提供快速的投資回報(bào)當(dāng)與破壞性方法比較時(shí)，如水浴測(cè)試法。VeriPac D系列測(cè)試儀也解決了發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵缺點(diǎn)的問題，這些缺點(diǎn)會(huì)影響產(chǎn)品質(zhì)量和貨架期。因?yàn)閂eriPac測(cè)試循環(huán)很短、測(cè)試是無損的，可以增加測(cè)試樣品數(shù)量和測(cè)試頻率。 四川專業(yè)包裝檢漏儀行業(yè)**在線為您服務(wù)

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