南京品質(zhì)三次元影像測(cè)量?jī)x調(diào)試

    與SPC相關(guān)的幾個(gè)重要的概念1.變差就像世界上沒(méi)有兩張完全相同的樹(shù)葉一樣，任何一個(gè)工廠，無(wú)論其生產(chǎn)技術(shù)多么先進(jìn)，從其生產(chǎn)線出來(lái)的同一種產(chǎn)品或多或少總會(huì)存在一些差異，這種差異就是變差。比如，同一生產(chǎn)線生產(chǎn)出的一批合格螺栓，長(zhǎng)度不可能做到完全一樣。2.普通原因vs特殊原因同樣的道理，為什么兩個(gè)相同的漢堡并不能保證其重量完全相等呢？這是因?yàn)橹谱鳚h堡的工藝流程不可能保證每一個(gè)漢堡的重量***的一樣，總會(huì)存在一些細(xì)微差異。只不過(guò)作為顧客的我們能夠接受這樣的差異。我們把導(dǎo)致這種普遍的、固有的、可接受的變差的原因，叫做普通原因。但是如果哪天你買(mǎi)了兩個(gè)同樣的漢堡，卻發(fā)現(xiàn)其中一個(gè)漢堡中間完全沒(méi)有加蔬菜，這不再是常見(jiàn)的、普通的變差了，而是有某種特殊原因?qū)е碌淖儾?，比如員工的操作失誤。這種變差往往是顧客不能接受的。我們把導(dǎo)致這種非普遍的、非固有的、異常的變差的原因叫做特殊原因。3.受控vs不受控如果一個(gè)過(guò)程**只有普通原因引起的變差，我們就說(shuō)這個(gè)過(guò)程受控。如果一個(gè)過(guò)程存在特殊原因引起的變差，我們就說(shuō)這個(gè)過(guò)程不受控?？刂茍D的作用就是幫助我們發(fā)現(xiàn)并消除導(dǎo)致過(guò)程變異的特殊原因，使過(guò)程從不受控變成受控。 大行程MICROVU影像測(cè)量?jī)x.南京品質(zhì)三次元影像測(cè)量?jī)x調(diào)試

    三次元坐標(biāo)量測(cè)儀(CoordinateMeasuringMachine簡(jiǎn)稱CMM)，又稱三次元量床，日本用語(yǔ)為三次元測(cè)定機(jī)，大陸用語(yǔ)為三維測(cè)量機(jī)或三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。在中國(guó)臺(tái)灣為了區(qū)隔二次元影像量測(cè)儀號(hào)稱的非接觸式三次元(或稱為，其號(hào)稱的是指Z軸加裝光學(xué)尺，可利用鏡頭本身的對(duì)焦來(lái)達(dá)到高度或段差量測(cè))，所以又叫做接觸式三次元，故名思義該機(jī)器的量測(cè)方式是以探測(cè)系統(tǒng)直接碰觸工件來(lái)進(jìn)行量測(cè)。其量測(cè)原理為利用探針(大部份尾端有一顆紅寶石球)去碰撞工件的邊緣，取得該位置的坐標(biāo)值，再減去測(cè)頭的半徑即為工件的實(shí)際坐標(biāo)值。一般量測(cè)儀的三軸都有安裝光學(xué)尺，當(dāng)測(cè)頭接觸到工件時(shí)，會(huì)送出訊號(hào)以擷取目標(biāo)坐標(biāo)值，再經(jīng)由量測(cè)軟體運(yùn)算處理，便可計(jì)算出我們要的坐標(biāo)值或尺寸，所以您只要依照量測(cè)位置去取點(diǎn)便能得到量測(cè)數(shù)據(jù)。 太倉(cāng)精密三次元影像測(cè)量?jī)x銷(xiāo)售廠家進(jìn)口影像測(cè)量?jī)x哪個(gè)牌子好.

    光學(xué)影像測(cè)量?jī)x是集光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)于一體的高精度、高效率、高可靠性的測(cè)量?jī)x器。由光學(xué)放大系統(tǒng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大，經(jīng)過(guò)CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，可高效地檢測(cè)各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制。真正的光學(xué)影像測(cè)量?jī)x是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上，依托于計(jì)算機(jī)屏幕測(cè)量技術(shù)和空間幾何運(yùn)算的強(qiáng)大軟件能力而產(chǎn)生的。計(jì)算機(jī)在安裝上控制與圖形測(cè)量軟件后，變成了具有軟件靈魂的測(cè)量大腦，是整個(gè)設(shè)備的主體。它能快速讀取光學(xué)尺的位移數(shù)值，通過(guò)建立在空間幾何基礎(chǔ)上的軟件模塊運(yùn)算，瞬間得出所要的結(jié)果；并在屏幕上產(chǎn)生圖形，供操作員進(jìn)行圖影對(duì)照，從而能夠直觀地分辨測(cè)量結(jié)果可能存在的偏差。

    SPC控制圖（ControlChart）一種對(duì)生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估并監(jiān)測(cè)過(guò)程是否處于控制狀態(tài)的一種圖形方法。**早的控制圖是由美國(guó)貝爾電話實(shí)驗(yàn)室的休姆哈特博士在1924年提出的P圖（PChart），后來(lái)此類控制圖都被叫做休姆哈特控制圖，休哈特也被譽(yù)為“統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制SPC之父”。從休姆哈特的P圖算起，SPC理論從創(chuàng)立到***已接近百年。SPC理論創(chuàng)立之初，恰逢美國(guó)大蕭條時(shí)期，該理論當(dāng)時(shí)無(wú)人問(wèn)津。后來(lái)二次世界大戰(zhàn)時(shí)，SPC理論在幫助美國(guó)軍方提升武器質(zhì)量方面大顯身手，于是戰(zhàn)后開(kāi)始風(fēng)行全世界。不過(guò)二戰(zhàn)后，美國(guó)無(wú)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，產(chǎn)品橫行天下，SPC在美國(guó)并沒(méi)有得到***重視。日本二戰(zhàn)戰(zhàn)敗后被美國(guó)接管，為了幫助日本的戰(zhàn)后重建，美國(guó)軍方邀請(qǐng)戴明博士到日本講授SPC理論。1980年日本已居世界質(zhì)量與勞動(dòng)生產(chǎn)率的領(lǐng)導(dǎo)地位，其中一個(gè)重要的原因就是SPC理論的應(yīng)用。1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了115家日本各行業(yè)的中小型工廠，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用137張控制圖。因此，SPC無(wú)論是在歐美還是日本，都是非常重要的質(zhì)量改進(jìn)工具，所以大家有必要去深入認(rèn)識(shí)SPC、應(yīng)用SPC和推廣SPC。 三次元影像測(cè)量?jī)x與二次元影像測(cè)量?jī)x的區(qū)別.

    MICROVU公司致力于研發(fā)生產(chǎn)精密測(cè)量設(shè)備和精密智能裝備。為國(guó)內(nèi)制造業(yè)及院校、研究所提供測(cè)量技術(shù)及智能裝備。公司秉著“立足于高科技，服務(wù)于企業(yè)”的宗旨，為客戶提供“專業(yè)、及時(shí)、高效、”的服務(wù)。著力于高科技智能裝備及精密測(cè)量?jī)x器設(shè)備，加大科技研發(fā)，提高產(chǎn)品性能，加大新產(chǎn)品，新項(xiàng)目投入.Micro-Vu提供可選配的觸發(fā)式探針來(lái)自RENISHAW，配備探針系統(tǒng)可以測(cè)量激光/圖像傳感器受限的零件局部位置，使得測(cè)量?jī)x器更加多元化。Micro-Vu的所有傳感元件的坐標(biāo)系都是基于圖像傳感器的坐標(biāo)系，在INSPEC軟件內(nèi)可以一鍵校準(zhǔn)，誤差控制在微米級(jí)。此外，在INSPEC軟件內(nèi)探針系統(tǒng)可以被靈活組裝搭配以適用于不同的量測(cè)需求：?直觀的可視化組裝界面?自動(dòng)對(duì)接多端口探針更換機(jī)架?校準(zhǔn)基于全自動(dòng)矢量化的探頭?觸發(fā)自動(dòng)縮回/縮回距離可調(diào)。 MICROVU影像測(cè)量?jī)x高效.南京采購(gòu)三次元影像測(cè)量?jī)x銷(xiāo)售

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合理的應(yīng)用夾具中的部件，可以使我們?cè)谌鴺?biāo)及影像儀測(cè)量過(guò)程中達(dá)到事半功倍的效果，裝夾時(shí)盡量在一個(gè)測(cè)量程序下，這樣夠?qū)⑿枰某叽缫淮涡詼y(cè)量完成，如果一次做不到，我們就需要對(duì)它進(jìn)行二次裝夾測(cè)量。思瑞測(cè)量有一款W200-多功能組合型夾具套裝,采用多種不同功能的零部元件，經(jīng)精心設(shè)計(jì)，精密制造，用戶可充分發(fā)揮想象力進(jìn)行組合變換，可以對(duì)任何復(fù)雜不規(guī)則的被測(cè)工件進(jìn)行快速、有效、牢固的支撐、壓持，進(jìn)行固定。產(chǎn)品價(jià)格經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，快速、可重復(fù)設(shè)置，安裝效率高。南京品質(zhì)三次元影像測(cè)量?jī)x調(diào)試