改善R&S ZNA50矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&S怎么樣

來源: 發(fā)布時間:2021-11-04

SVA1000X 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用低成本的EMI預(yù)兼容測試方案;在EMI診斷和EMI預(yù)兼容測試方面有豐富的功能和附件支持,包括:測試補(bǔ)償Correction,針對探頭,天線,LISN,電纜的頻響補(bǔ)償功能;限制線判斷Limit,加載EMI國際標(biāo)準(zhǔn)限制線,或用戶自定義限制線;符合CISPR16的EMI濾波器和準(zhǔn)峰值檢波器,可配置準(zhǔn)峰值的測量駐留時間;提供SRF5030T近場探頭套裝,針對空間輻射,線纜,PCB等查找干擾源;提供SEM5040A人工電源網(wǎng)絡(luò),可進(jìn)行單相設(shè)備傳導(dǎo)干擾電壓測量;EasySpectrum上位機(jī)軟件,支持完整的EMI預(yù)兼容測試自動化實(shí)施流程。SVA1000X 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀限制線判斷Limit,加載EMI國際標(biāo)準(zhǔn)限制線,或用戶自定義限制線。改善R&S ZNA50矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&S怎么樣

多端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀特點(diǎn):采用基于多源模式和多端口網(wǎng)絡(luò)矢量誤差修正的體系結(jié)構(gòu),有效擴(kuò)展矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口測試能力,能夠滿足集成化程度高的多端口、平衡器件/組件的S參數(shù)精確測試要求,目前四端口產(chǎn)品工作頻率上限可達(dá)40GHz。非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀特點(diǎn):采用寬帶諧波取樣變頻結(jié)合寬帶四通道幅相接收機(jī)模式,綜合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀矢量誤差修正以及功率校準(zhǔn)和諧波相位校準(zhǔn),能夠?qū)崿F(xiàn)被測器件在連續(xù)波或周期調(diào)制激勵下的非線性特性測試并可用于非線性建模驗(yàn)證,目前工作頻率上限達(dá)20GHz。半導(dǎo)體N5247B PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是德的常識SVA1000X 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀更小分辨率帶寬(RBW)1Hz。

網(wǎng)絡(luò)分析儀作為一種測量網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的新型測試測量的儀器,直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù),以掃頻方式輸出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性,以供進(jìn)行信號比較和再次利用,隨著科技的發(fā)展,一種具有自動分析性能的自動網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生,讓電子元器件/電路設(shè)計/電路性能等檢測的精度得到更大的提高,計算能力和精細(xì)度也提高了,同時也更加便捷,可以快速的對測量結(jié)果逐點(diǎn)進(jìn)行誤差修正,并自動換算出其他幾十種網(wǎng)絡(luò)參數(shù),如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗(或?qū)Ъ{)、衰減(或增益)、相移和群延時等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。

現(xiàn)代微波技術(shù)要求在微波電路的設(shè)計和計算中必須準(zhǔn)確快速地測量所設(shè)計和生產(chǎn)的微波器件及微波網(wǎng)絡(luò)的各項(xiàng)參數(shù)指標(biāo),如S參數(shù)、駐波比、阻抗、導(dǎo)納和正反向傳輸損耗等。目前,集測試裝置、合成源、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為一體的測試系統(tǒng),已成為必不可少的測量儀器,它與分體式矢網(wǎng)相比,體積小,便于現(xiàn)場測試,并且減少了許多外部連接電纜,提高了儀器的可靠性,從而得到了普遍的應(yīng)用。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的工作原理微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要由合成掃源(激勵源)、測試裝置(信號分離部分)、接收部分、微處理器四大部分組成,SVA1000X 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀有多點(diǎn)電容觸摸屏,支持鼠標(biāo)和鍵盤,支持屏幕編輯和保護(hù)。

網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)的目的是消除測試的系統(tǒng)誤差。校準(zhǔn)的思路是通過對標(biāo)準(zhǔn)件的測試得到網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)誤差項(xiàng)的具體數(shù)值,然后通過計算對被測件測試結(jié)果進(jìn)行修正處理,消除其中誤差成份,得到被測件真實(shí)值。校準(zhǔn)過程就是通過測試標(biāo)準(zhǔn)件測試系統(tǒng)誤差的過程,根據(jù)校準(zhǔn)消除誤差項(xiàng)的不同,網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)主要分為頻響校準(zhǔn)和矢量校準(zhǔn)。,消除誤差項(xiàng)目的個數(shù)與測試的標(biāo)準(zhǔn)件數(shù)目相同。雙端口校準(zhǔn)是網(wǎng)絡(luò)分析儀更精確的誤差校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)過程中需要至少7次連接校準(zhǔn)件,通常測試中,隔離校準(zhǔn)可以忽略。由于受分布參數(shù)等影響明顯,所以網(wǎng)絡(luò)分析儀使用之前必須進(jìn)行校準(zhǔn)。半導(dǎo)體N5247B PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是德的常識

SVA1000X 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在EMI診斷和EMI預(yù)兼容測試方面有豐富的功能和附件支持。改善R&S ZNA50矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&S怎么樣

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀器是一種電磁波能量的測試設(shè)備。它既能測量單端口網(wǎng)絡(luò)或兩端口網(wǎng)絡(luò)的各種參數(shù)幅值,又能測相位,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能用史密斯圓圖顯示測試數(shù)據(jù)。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的原理與使用力直接取決于系統(tǒng)的動態(tài)范圍指標(biāo)。相位波動參數(shù)的測試是利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的電子延遲(Electrical Delay)功能來實(shí)現(xiàn)的。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀既能測量單端口網(wǎng)絡(luò)或兩端口網(wǎng)絡(luò)的各種參數(shù)幅值,又能測相位,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能用史密斯圓圖顯示測試數(shù)據(jù)。更便于工程應(yīng)用和調(diào)試。改善R&S ZNA50矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&S怎么樣

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