光電直讀光譜儀的特點(diǎn)：在工業(yè)生產(chǎn)中，由于光電直讀光譜儀分析費(fèi)用節(jié)省，分析速度快，分析結(jié)果可靠，已被普遍采用。它具有以下優(yōu)點(diǎn)。用光電直讀光譜儀做分析，可使用的譜線波長(zhǎng)范圍較寬。這個(gè)范圍由光電倍增管的性能決定。例如，用石英窗孔的PMT，加上光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)置于真空中，可用的波長(zhǎng)可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來(lái)分析。校準(zhǔn)曲線范圍寬。由于PMT對(duì)信號(hào)的放大能力很大，對(duì)于強(qiáng)弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數(shù)。相差可達(dá)10000倍。因此，光電法可用同一分析條件對(duì)樣品中許多元素進(jìn)行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時(shí)分析。微型光譜儀具體模塊化和高速采集的特點(diǎn)。蘇州紅外光譜分析儀推薦
發(fā)射光譜分析的過(guò)程：把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級(jí)躍遷到較低的能級(jí)時(shí)，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過(guò)程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來(lái)實(shí)現(xiàn)。把原子所產(chǎn)生的輻射進(jìn)行色散分光，按波長(zhǎng)順序記錄在感光板上，就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測(cè)裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)。根據(jù)所得光譜圖進(jìn)行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長(zhǎng)不盡相同，即每種元素都有其特征的波長(zhǎng)，故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準(zhǔn)確無(wú)誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強(qiáng)度與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此還可利用這些譜線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)定元素的含量(定量分析)。蘇州紅外光譜分析儀推薦紫外光譜儀設(shè)計(jì)一般都盡量避免在光路中使用透鏡，主要使用反射鏡。
紫外/可見光譜儀還可以用來(lái)表征金屬納米粒子的聚集程度。金屬的表面等離子體共振吸收與表面自由電子的運(yùn)動(dòng)有關(guān)。貴金屬可看作自由電子體系，由導(dǎo)帶電子決定其光學(xué)和電學(xué)性質(zhì)。在金屬等離子體理論中，若等離子體內(nèi)部受到某種電磁擾動(dòng)而使其一些區(qū)域電荷密度不為零，就會(huì)產(chǎn)生靜電回復(fù)力，使其電荷分布發(fā)生振蕩，當(dāng)電磁波的頻率和等離子體振蕩頻率相同時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生共振。這種共振，在宏觀上就表現(xiàn)為金屬納米粒子對(duì)光的吸收。金屬的表面等離子體共振是決定金屬納米顆粒光學(xué)性質(zhì)的重要因素。由于金屬粒子內(nèi)部等離子體共振激發(fā)或由于帶間吸收，它們?cè)谧贤?可見光區(qū)域具有吸收譜帶。不同的金屬粒子具有其特征吸收譜。因此，通過(guò)紫外-可見光光譜，特別是與Mie理論的計(jì)算結(jié)果相配合時(shí)，能夠獲得關(guān)于粒子顆粒度、結(jié)構(gòu)等方面的許多重要信息。此技術(shù)簡(jiǎn)單方便，是表征液相金屬納米粒子比較常用的技術(shù)。
變頻功率分析儀額定值，一次電壓：220V、380V、660/690V、1000/1140V、3k/3.3kV、6kV、10kV、20kV、35kV。一次電流：10A、12.5A、15A、20A、25A、30A、40A、50A、60A、75A以及它們的十進(jìn)制倍數(shù)或小數(shù)。有下劃線者為優(yōu)先值。頻率范圍：對(duì)于變頻功率分析儀而言，額定頻率范圍應(yīng)該是一組包含下限和上限的數(shù)值，額定頻率范圍由制造廠家自行規(guī)定，在規(guī)定的額定頻率范圍內(nèi)，分析儀的測(cè)量誤差應(yīng)滿足準(zhǔn)確級(jí)對(duì)應(yīng)誤差限制的要求。采樣速率：采樣速率不應(yīng)低于帶寬（或防混疊濾波器截止頻率）的兩倍。帶寬：帶寬額定值不應(yīng)高于采樣速率的1/2。野外光譜儀是一種用于農(nóng)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。
功率分析儀的特點(diǎn)：IEC指出：所有儀表和測(cè)量裝置的誤差都必須進(jìn)行實(shí)際測(cè)量，未經(jīng)測(cè)量，光是以其它測(cè)量中計(jì)算出來(lái)的和引用電壓、電流和功率因數(shù)組合的誤差，不能作為評(píng)價(jià)裝置基本誤差的依據(jù)。常規(guī)的測(cè)量方法是：電壓/電流傳感器先將高電壓/大電流信號(hào)變換為低電壓/小電流信號(hào)，再連接到分析儀，分析儀只測(cè)量低電壓和小電流信號(hào)。這種方式下，傳感器和分析儀及傳輸線路都會(huì)引入測(cè)量誤差，一方面加大了測(cè)量誤差，另一方面也使測(cè)量誤差不好預(yù)計(jì)。變頻功率分析儀，不論是低電壓、小電流還是高電壓、大電流信號(hào)，均可采用各種不同量程的變頻電量變送器直接連接一次回路，變送器直接輸出數(shù)字信號(hào)，二次儀表只是對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行必要的運(yùn)算，并不會(huì)增加誤差，這樣，引入誤差的環(huán)節(jié)只有一個(gè)，只需要對(duì)變頻電量變送器的誤差進(jìn)行試驗(yàn)，即可確定整個(gè)系統(tǒng)的誤差。碳硅分析儀可通過(guò)鐵水結(jié)晶法來(lái)測(cè)量計(jì)算碳硅成份及鐵水品質(zhì)。哈爾濱熒光光譜分析儀銷售
智能光譜分析儀在光譜的測(cè)量、光放大器各個(gè)波長(zhǎng)的增益系數(shù)和增益平坦度的測(cè)試中都可以使用。蘇州紅外光譜分析儀推薦
手持式金屬分析光譜儀,包括金屬分析光譜儀主體,所述金屬分析光譜儀主體的兩側(cè)均固定安裝有限位座,所述限位座的一側(cè)開設(shè)有限位槽,所述金屬分析光譜儀主體的一端覆蓋有防塵罩,所述防塵罩的兩側(cè)均開設(shè)有通孔,所述通孔內(nèi)滑動(dòng)安裝有限位柱,所述限位柱的一端貫穿通孔并延伸至限位槽內(nèi),所述限位柱的另一端貫穿通孔并焊接有壓把,所述防塵罩的頂部和底部均焊接有固定板,所述固定板上開設(shè)有圓形孔.本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單,利用防塵罩可以對(duì)金屬分析光譜儀主體的檢測(cè)前端進(jìn)行防塵,拉動(dòng)防塵罩即可利用金屬分析光譜儀主體對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行檢測(cè),使用便捷,且不會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果造成影響。蘇州紅外光譜分析儀推薦
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