驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門限的控制,選用4重SPST(單刀單擲)DG211模擬開關(guān),開關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開機(jī)時(shí)處于常開(OFF)狀態(tài),控制線增加上拉電阻(10kΩ)。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào),采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制,測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求,采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件,增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖,并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠快速識(shí)別產(chǎn)品的功能性缺陷。江蘇電子測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
由于自動(dòng)測(cè)試速度極快,各測(cè)試步驟之間不易分清,難以檢測(cè)出故障。又因測(cè)試的關(guān)鍵部分無(wú)人參與,測(cè)試程序和被測(cè)單元電路圖中的錯(cuò)誤無(wú)人察覺(jué)。因此,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件和軟件均應(yīng)有良好的可靠性,方能保證系統(tǒng)的可靠性。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、使用、維護(hù)和管理都是極其復(fù)雜的課題。先進(jìn)的元器件、計(jì)算機(jī)、機(jī)器人和人工智能技術(shù)推動(dòng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)向數(shù)字化和智能化的方向發(fā)展。由之而來(lái)對(duì)測(cè)試過(guò)程中所需要的工裝(夾具)不斷提出要求,于是電路板測(cè)試儀(又稱電子測(cè)試工裝)應(yīng)運(yùn)而生。江蘇電子測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)集成測(cè)試:將各個(gè)單元集成后進(jìn)行全方面測(cè)試,確保整體性能達(dá)標(biāo)。
測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來(lái),存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中,然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較,從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上,可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái),顯示在微機(jī)屏幕上,較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí),將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較,進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。
功能系統(tǒng)測(cè)試原理:FST是function system test的簡(jiǎn)稱,功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo),它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體,對(duì)其提供輸入信號(hào),按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn),如任意波形發(fā)生器,任意函數(shù)發(fā)生器,邏輯信號(hào)發(fā)生器等,也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來(lái)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào),采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn),如示波器,頻譜分析儀等,也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn),所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問(wèn)題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等,通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決產(chǎn)品功能性問(wèn)題。
相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法,該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì):1、減少測(cè)試上人為因素帶來(lái)的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中,由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來(lái)人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析,并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果,徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中,企業(yè)往往需要購(gòu)置一大堆測(cè)試/分析儀器,如萬(wàn)用表,示波器,邏輯分析儀,頻譜儀等,費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起,較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用,設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集,并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)品在不斷地更新?lián)Q代,測(cè)試流程和測(cè)試內(nèi)容上也在變更,本系統(tǒng)提供簡(jiǎn)單明了的用戶界面,對(duì)于不同類型的電子產(chǎn)品,用戶可自行設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試流程,只需更換測(cè)試治具即可進(jìn)行測(cè)試。小型功能測(cè)試系統(tǒng)適用于空間受限的環(huán)境。江蘇電子測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
各種功能測(cè)試系統(tǒng)可滿足不同行業(yè)的功能驗(yàn)證需求。江蘇電子測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后,可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試,就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平,各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件(00-53/1)所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA,測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過(guò)實(shí)驗(yàn),基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離,同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。江蘇電子測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)