江蘇無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)離線測(cè)試：針對(duì)不具備在線測(cè)試條件的設(shè)備，離線測(cè)試成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵手段。江蘇無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，ATS, Automatic Test System 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，ATE, Automatic Test Equipment 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，一種組裝電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，例如：ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線測(cè)試儀（這里指組裝電路板在線測(cè)試儀），主要用于組裝電路板（PCBA）的測(cè)試。這里的“在線”是“In-Circuit”的直譯，主要指電子元器件在線路上（或者說(shuō)在電路上）。在線測(cè)試是一種不斷開(kāi)電路，不拆下元器件管腳的測(cè)試技術(shù)，“在線”反映了ICT重在通過(guò)對(duì)在線路上的元器件或開(kāi)短路狀態(tài)的測(cè)試來(lái)檢測(cè)電路板的組裝問(wèn)題。常州測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格通用功能測(cè)試：適用于多種電子產(chǎn)品的功能測(cè)試，提高測(cè)試效率，降低成本。

系統(tǒng)功能，在線測(cè)試(ICT)：PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。系統(tǒng)應(yīng)用：空調(diào)主板、電視機(jī)板、洗衣機(jī)板、微波爐板、遙控器板、汽車(chē)電子電路板、其他消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、各種PCB板檢測(cè)……這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶(hù)提供了極好的解決方案。

VX1bus儀器系統(tǒng)-虛擬儀器系統(tǒng)，VXIbus儀器系統(tǒng)是一種標(biāo)準(zhǔn)總線式模塊儀器系統(tǒng)，一般由微機(jī)、VXIbus模塊和 VXTbus 機(jī)箱組成。若干儀器模塊插入 VXTbus 機(jī)箱，便構(gòu)成了 VXIbus 儀器系統(tǒng)。VXIbus儀器系統(tǒng)是一個(gè)微機(jī)、軟件技術(shù)和測(cè)量系統(tǒng)的有機(jī)結(jié)合體，在VXIbus儀器系統(tǒng)中，高性能的微機(jī)處于主要地位，傳統(tǒng)儀器的某些硬件乃至整個(gè)儀器都被計(jì)算機(jī)軟件所代替，為指揮微機(jī)化儀器及其系統(tǒng)工作。VXIbus儀器及其系統(tǒng)和PC儀器、IEEE-488儀器及測(cè)試系統(tǒng)一起，已在超大規(guī)模集成電路測(cè)試、通信及測(cè)試、模擬電路/數(shù)字電路測(cè)試、現(xiàn)代家用電器測(cè)試、印制板電路/混合信號(hào)電路測(cè)試、電子元件/電力電子器件測(cè)試以及官方、航天、生物醫(yī)學(xué)、TI測(cè)試、電工技術(shù)領(lǐng)域等的可移動(dòng)式現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試工作中得到普遍的應(yīng)用。功能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來(lái)越強(qiáng)，封裝越來(lái)越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。功能測(cè)試系統(tǒng)普遍用于電子產(chǎn)品的功能性驗(yàn)證。無(wú)錫電池測(cè)試系統(tǒng)哪家好

通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)：適用于多種電子設(shè)備，實(shí)現(xiàn)快速、高效的自動(dòng)化測(cè)試。江蘇無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

FrameScan電容藕合測(cè)試 FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1 夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2 測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3 電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類(lèi)式的技術(shù)稱(chēng)Open Xpress。原理類(lèi)似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測(cè)試成本稍高。江蘇無(wú)線綜合測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備