臺(tái)州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

電路在線測(cè)試技術(shù)，1、在線測(cè)試原理：在線測(cè)試的基本原理是測(cè)試儀為印制電路板上的被測(cè)芯片提供輸入激勵(lì)，同時(shí)在計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)采集記錄被測(cè)芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值，通過(guò)計(jì)算機(jī)將其記錄的所有狀態(tài)值與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表比較，從而判斷被測(cè)對(duì)象的故障情況。2、后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù)：后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測(cè)試。其實(shí)質(zhì)是在被測(cè)器件的輸入級(jí)（前級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸出級(jí)）灌入或拉出瞬態(tài)大電流，迫使其電位按要求變高或變低，達(dá)到對(duì)被測(cè)器件在線施加測(cè)試激勵(lì)的目的。集成功能測(cè)試系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)試多個(gè)功能。臺(tái)州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

VXI總線是VME工業(yè)計(jì)算機(jī)總線向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線，采用該總線的系統(tǒng)的體積、通信速率介于GPIB總線系統(tǒng)和PXI總線系統(tǒng)之間，成本卻是較高的。PXI總線是Compact PCI工業(yè)計(jì)算機(jī)總線向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線，采用該總線的系統(tǒng)的體積較小，通信速率是比較高，而成本居中。PXI總線直接利用計(jì)算機(jī)PCI總線的技術(shù)成果，吸收了VXI總線的優(yōu)點(diǎn)。總的來(lái)說(shuō)，VXI總線儀器和PXI總線儀器性能相當(dāng)，VXI總線儀器成本高，PXI總線儀器正在迅速發(fā)展過(guò)程中，多采用PXI總線集成系統(tǒng)。無(wú)錫功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程功能測(cè)試系統(tǒng)為產(chǎn)品性能提升提供可靠支持。

系統(tǒng)介紹，各類電子產(chǎn)品的實(shí)裝電路板（PCBA）在批量生產(chǎn)過(guò)程中，設(shè)備狀態(tài)和人為操作因素都可能引入缺陷，因此要求在生產(chǎn)中加入各種測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具，以保證所有出廠的實(shí)裝電路板符合設(shè)計(jì)的規(guī)格和參數(shù)。因此，對(duì)PCBA要求進(jìn)行ICT、AOI、FCT等各種測(cè)試和檢測(cè)。組成，功能測(cè)試系統(tǒng)FCT 是指采用測(cè)控計(jì)算機(jī)（TCC）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試的系統(tǒng)，通常建立在標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)控總線或儀器總線如GPIB、PXI 的基礎(chǔ)上，從結(jié)構(gòu)組成來(lái)看，F(xiàn)CT自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)一般由測(cè)控計(jì)算機(jī)、測(cè)試軟件、測(cè)試電路、測(cè)試針床、機(jī)械傳動(dòng)等部分組成。

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、減少測(cè)試上人為因素帶來(lái)的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來(lái)人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，企業(yè)往往需要購(gòu)置一大堆測(cè)試/分析儀器，如萬(wàn)用表，示波器，邏輯分析儀，頻譜儀等，費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起，較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用，設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集，并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)品在不斷地更新?lián)Q代，測(cè)試流程和測(cè)試內(nèi)容上也在變更，本系統(tǒng)提供簡(jiǎn)單明了的用戶界面，對(duì)于不同類型的電子產(chǎn)品，用戶可自行設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試流程，只需更換測(cè)試治具即可進(jìn)行測(cè)試。PCB功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試PCB板的功能和連通性。

在線測(cè)試儀主要測(cè)試電路板的開短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等無(wú)件！早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類別中，但因ATE測(cè)試相基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有安捷倫(美國(guó))，泰瑞達(dá)(美國(guó))、德智（DEZHI)、JET(捷智）、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。個(gè)性化定制：針對(duì)不同用戶需求，提供個(gè)性化的功能測(cè)試解決方案。臺(tái)州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

離線測(cè)試：針對(duì)不具備在線測(cè)試條件的設(shè)備，離線測(cè)試成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵手段。臺(tái)州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

功能系統(tǒng)測(cè)試，元件測(cè)試和裝聯(lián)測(cè)試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測(cè)試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測(cè)試是一類針對(duì)整件的綜合性測(cè)試，在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn)：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測(cè)試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測(cè)試?yán)螅聛?lái)的工作就是好多了，當(dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn)：⒈ 結(jié)果取決于測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)，測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來(lái)勢(shì)來(lái)源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒(méi)有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來(lái)做的，還做不到針對(duì)被測(cè)試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來(lái)作。⒊ 就沒(méi)有狀態(tài)概念的測(cè)試來(lái)說(shuō)，尋找和確定造成程序crash的測(cè)試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測(cè)試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測(cè)試來(lái)說(shuō)，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問(wèn)題。這些在堆的問(wèn)題中表現(xiàn)的更為突出。臺(tái)州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)