天津自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫(xiě)器件的向量測(cè)試程序常?；ㄙM(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù) DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的單獨(dú)引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。功能測(cè)試系統(tǒng)有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。天津自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

VXI總線(xiàn)是VME工業(yè)計(jì)算機(jī)總線(xiàn)向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線(xiàn)，采用該總線(xiàn)的系統(tǒng)的體積、通信速率介于GPIB總線(xiàn)系統(tǒng)和PXI總線(xiàn)系統(tǒng)之間，成本卻是較高的。PXI總線(xiàn)是Compact PCI工業(yè)計(jì)算機(jī)總線(xiàn)向儀器擴(kuò)展后形成的計(jì)算機(jī)總線(xiàn)，采用該總線(xiàn)的系統(tǒng)的體積較小，通信速率是比較高，而成本居中。PXI總線(xiàn)直接利用計(jì)算機(jī)PCI總線(xiàn)的技術(shù)成果，吸收了VXI總線(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)?？偟膩?lái)說(shuō)，VXI總線(xiàn)儀器和PXI總線(xiàn)儀器性能相當(dāng)，VXI總線(xiàn)儀器成本高，PXI總線(xiàn)儀器正在迅速發(fā)展過(guò)程中，多采用PXI總線(xiàn)集成系統(tǒng)。湖州PCB測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商功能測(cè)試系統(tǒng)可幫助定位產(chǎn)品功能故障和改進(jìn)設(shè)計(jì)。

當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。1、在管腳A加一對(duì)地的負(fù)電壓，電流Ia流過(guò)管腳A之正向偏壓二極管。測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。2、保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負(fù)電壓，電流Ib流過(guò)管腳B之正向偏壓二極管。由于從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內(nèi)的電流分享，電流Ia會(huì)減少。3、再次測(cè)量流過(guò)管腳A的電流Ia。如果當(dāng)電壓被加到管腳B時(shí)Ia沒(méi)有變化（delta），則一定存在連接問(wèn)題。DeltaScan軟件綜合從該器件上許多可能的管腳對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果，從而得出精確的故障診斷。信號(hào)管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測(cè)試，這就意味著除管腳脫開(kāi)之外，DeltaScan也可以檢測(cè)出器件缺失、插反、焊線(xiàn)脫開(kāi)等制造故障。GenRad類(lèi)式的測(cè)試稱(chēng)Junction Xpress。其同樣利用IC內(nèi)的二極管特性，只是測(cè)試是通過(guò)測(cè)量二極管的頻譜特性（二次諧波）來(lái)實(shí)現(xiàn)的。DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。

功能系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)，功能系統(tǒng)測(cè)試是從PCBA板卡的功能實(shí)現(xiàn)與否的角度來(lái)進(jìn)行的測(cè)試，因此相對(duì)于其它測(cè)試手段顯得簡(jiǎn)捷直觀，但由于功能系統(tǒng)測(cè)試是把待測(cè)PCBA當(dāng)作一個(gè)類(lèi)似于黑盒子的功能單元來(lái)進(jìn)行測(cè)試，有時(shí)并不能準(zhǔn)確定位出功能系統(tǒng)測(cè)試未能通過(guò)的PCBA所存在的問(wèn)題之所在，不過(guò)采用。對(duì)比所列出的ICT、AOI、AXI等測(cè)試方法，采用功能系統(tǒng)測(cè)試的成本一般來(lái)說(shuō)要小很多，對(duì)于一些小批量的PCBA板卡生產(chǎn)，采用功能系統(tǒng)測(cè)試可以有效的節(jié)約成本。此外，對(duì)于一些對(duì)穩(wěn)定性和可靠性要求較高的產(chǎn)品，其測(cè)試系統(tǒng)往往是采用多種測(cè)試手段進(jìn)行流水線(xiàn)作業(yè)，而功能系統(tǒng)測(cè)試是其中必不可少的步驟。單元功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試單一功能的設(shè)備。

隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線(xiàn)的出現(xiàn)較大程度上簡(jiǎn)化了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類(lèi)型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類(lèi)型也千變?nèi)f化；因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。每個(gè)被測(cè)對(duì)象(UUT)具有不同的信號(hào)激勵(lì)點(diǎn)和信號(hào)獲取點(diǎn)，這些都需要一個(gè)接口以實(shí)現(xiàn)UUT 和TE的信號(hào)連接，此接口即測(cè)試接口適配器ITA。ITA負(fù)責(zé)完成UUT 和TE 的機(jī)械與電氣連接，為T(mén)E各個(gè)信號(hào)點(diǎn)和UUT各個(gè)信號(hào)點(diǎn)指定路由路徑。環(huán)保型測(cè)試：功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)，降低能源消耗和環(huán)境污染。臺(tái)州單元測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)

測(cè)試流程優(yōu)化：通過(guò)優(yōu)化測(cè)試流程，提高測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。天津自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門(mén)限的控制，選用4重SPST（單刀單擲）DG211模擬開(kāi)關(guān)，開(kāi)關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開(kāi)機(jī)時(shí)處于常開(kāi)（OFF）狀態(tài)，控制線(xiàn)增加上拉電阻（10kΩ）。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào)，采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制，測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖，并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。天津自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備