吉林納米粒度分析儀廠家

來源: 發(fā)布時間:2023-10-29

符合多項油品S元素分析國際和國家標(biāo)準(zhǔn),例如ASTM D4294,ASTM D7212,GB/T 17040,GB/T 17606等。X射線管能耗低、只15W,使用壽命長達(dá)數(shù)十年。低背景硅“漂移”檢測器保證高分辨率,檢測限高達(dá)0.1ppm。除了標(biāo)配的Windows操作系統(tǒng),還提供了備選的Linux操作系統(tǒng),保證儀器的安全性(中美貿(mào)易戰(zhàn)下的新形勢要求)。中國PTA行業(yè)競爭格局分析,從我國PTA產(chǎn)能分布來看,產(chǎn)能占比較大的廠家是恒力石化,2020年占比20%;產(chǎn)能占比排第二的是逸盛大化,產(chǎn)能占比為10%,其次是逸盛石化,產(chǎn)能占比9%;國內(nèi)前面十PTA廠家產(chǎn)能合計占比77%。全球PTA計劃投產(chǎn)產(chǎn)能趨勢。山東馳光機(jī)電科技有限公司不斷從事技術(shù)革新,改進(jìn)生產(chǎn)工藝,提高技術(shù)水平。吉林納米粒度分析儀廠家

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光電探測器陣列由一系列同心環(huán)帶組成,每個環(huán)帶是一個單獨的探測器,能將投射到上面的散射光線形地轉(zhuǎn)換成電壓,然后送給數(shù)據(jù)采集卡,該卡將電信號放大,再進(jìn)行AID轉(zhuǎn)化后送入計算機(jī)。激光粒度儀依據(jù)全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)激光照射在顆粒上產(chǎn)生的散射光能量反演出顆粒群的粒度大小和粒度分布規(guī)律。激光粒度儀注意事項:本儀器適用于<1mm粒度測定,>1mm的應(yīng)過篩測定;必須先開計算機(jī)電源,工作正常后,再開儀器電源,順序不能反了,否則信號送不到計算機(jī)。河北高精度納米粒度分析儀馳光機(jī)電科技有限公司具備雄厚的實力和豐富的實踐經(jīng)驗。

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提供數(shù)量、面積和體積等指標(biāo)的平率分布圖和表、累計分布圖和表格粒度和粒型參數(shù)分布的結(jié)果;能夠自動產(chǎn)生實驗結(jié)果world報告。激光和視頻分析產(chǎn)生的信息,很容易通過直觀的數(shù)據(jù)報表軟件得到。測量結(jié)果可以各種表格和圖顯示出來,這些表格和圖可以由用戶選擇,以便正確顯示需要的信息。通過數(shù)據(jù)挖掘技術(shù),很容易實現(xiàn)數(shù)據(jù)比較和分析,允許對覆蓋圖和比較表進(jìn)行編輯。輕點一下鼠標(biāo),就能生成Word格式的樣品分析報告,該文件包括樣品制備、粒徑和粒形結(jié)果,還帶有圖像或視頻信息。

對于粒徑分布范圍很寬的樣品,通過可選的速度調(diào)節(jié)功能圓盤,只需常規(guī)圓盤分析時間的1/20。經(jīng)過CPS納米粒度儀對裂解后炭黑進(jìn)行粒徑測試后的結(jié)果所示:與掃描電鏡所顯示的結(jié)果基本一致,裂解后的炭黑較小粒徑為3um,較大可至50多微米,并且出現(xiàn)很多峰值,證明樣液中具有不同粒徑且含量不同的的炭黑。峰值粒徑處于30um左右。真實反映了不同炭黑粒徑的分布狀態(tài)。隨著半導(dǎo)體工業(yè)飛速發(fā)展,電子器件尺寸縮小,要求晶片表面平整度達(dá)到納米級。作為芯片制造不可或缺的一環(huán),CMP工藝在設(shè)備和材料領(lǐng)域歷來是受歡迎的。馳光機(jī)電科技的行業(yè)影響力逐年提升。

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CPS納米粒度儀測量金剛石的粒徑:金剛石微粉是指顆粒度細(xì)于36/54微米的金剛石顆粒,金剛石微粉硬度高、耐磨性好。大量用于機(jī)械、航天、光學(xué)儀器、玻璃、陶瓷、電子、石油、地質(zhì)、工業(yè)部門,用于制作PCD(聚晶金剛石)、 PDC(金剛石復(fù)合片)、陶瓷結(jié)合劑、金屬結(jié)合劑、電鍍產(chǎn)品;制作拉絲模、電鍍磨具,陶瓷、金屬結(jié)合劑磨具等;制造金剛石樹脂結(jié)合劑彈性磨塊等;用于精密機(jī)械、光學(xué)玻璃、精細(xì)陶瓷、寶石及半導(dǎo)體等產(chǎn)品的研磨拋光。CPS納米粒度分析儀測量金剛石微粉的粒徑。馳光是多層次的團(tuán)體與管理模式。吉林納米粒度分析儀廠家

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CPS分析儀基本原理:CPS納米粒度分析儀依據(jù)Stokes定律,V=D2(ρP-ρF)G/18η,即顆粒沉降的速度與顆粒的尺寸平方成正比來進(jìn)行粒度的測量。待測樣品從圓盤中心進(jìn)入高速旋轉(zhuǎn)的圓盤,在離心力的作用下發(fā)生沉降,沉降的速度遵循Stokes公式,在距離圓盤的邊緣固定位置設(shè)有激光檢測器,顆粒按尺寸大小依次通過探測器,儀器記錄顆粒通過探測器的時間,由于所有顆粒走過的路程都一樣,因此,顆粒運動所需的時間與顆粒本身尺寸的平方成反比,激光檢測器同時檢測顆粒對光的散射程度。吉林納米粒度分析儀廠家

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