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盲區(qū)對OTDR測量精度的影響我們將諸如活動連接器、機(jī)械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點(diǎn)”稱為盲區(qū)。光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)兩種：由于介入活動連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到接收器飽和峰值之間的長度距離，被稱為事件盲區(qū)；光纖中由于介入活動連接器引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到可識別其他事件點(diǎn)之間的距離，被稱為衰減盲區(qū)。對于OTDR來說，盲區(qū)越小越好。盲區(qū)會隨著脈沖寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長度，但也增大了測量盲區(qū)，所以，我們在測試光纖時(shí)，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠(yuǎn)端進(jìn)行測量時(shí)要使用寬脈沖。4波長OTDR二手商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。動態(tài)范圍光時(shí)域反射儀以租代購

使得OTDR的事件盲區(qū)盡可能短是非常重要的，這樣才可以在鏈路上檢測相距很近的事件。例如，在建筑物網(wǎng)絡(luò)中的測試要求OTDR的事件盲區(qū)很短，因?yàn)檫B接各種數(shù)據(jù)中心的光纖跳線非常短。如果盲區(qū)過長，一些連接器可能會被漏掉，技術(shù)人員無法識別它們，這使得定位潛在問題的工作更加困難。折疊衰減盲區(qū)衰減盲區(qū)是Fresnel反射之后，OTDR能在其中精確測量連續(xù)事件損耗的小距離。還使用以上例子，經(jīng)過較長時(shí)間后，您的眼睛充分恢復(fù)，能夠識別并分析路上可能的物體的屬性。如圖6所示，檢測器有足夠的時(shí)間恢復(fù)，以使得其能夠檢測和測量連續(xù)事件損耗。所需的小距離是從發(fā)生反射事件時(shí)開始，直到反射降低到光纖的背向散射級別的0.5dB大動態(tài)光時(shí)域反射儀中移工程代理AQ-1210E光時(shí)域反射儀口碑商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。

鬼影是由光纖線路中某點(diǎn)的大菲涅爾反射引起的二次及二次以上反射，鬼影形成的主要原因有：1.菲涅爾反射功率遠(yuǎn)大于后向瑞利散射光功率。2.被測光纖長度大于儀表測試距離范圍。當(dāng)光纜線路較長時(shí)，OTDR發(fā)射光脈沖頻率較高，反射回始端的光脈沖還沒達(dá)到始端，第二個(gè)光脈沖又發(fā)射出去，于是他們就在線路的某一點(diǎn)相遇而形成鬼影。3.儀表與光纖、光纖與光纖接口損耗大。當(dāng)脈沖遇到大的反射接頭時(shí)，一部分脈沖就會重新再返回遠(yuǎn)端，然后與其他光脈沖相疊加而形成鬼影。

光纖中的光功率絕大部分為前向傳播,但有很少部分朝發(fā)光器背向散射。（2）非反射事件光纖中的熔接頭和微彎都會帶來損耗，但不會引起反射。由于它們的反射較小，我們稱之為非反射事件。（3）反射事件活動連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂點(diǎn)都會引起損耗和反射，我們把這種反射幅度較大的事件稱之為反射事件。（4）光纖末端第一種情況為一個(gè)反射幅度較高的菲涅爾反射。第二種情況光纖末端顯示的曲線從背向反射電平簡單地降到OTDR噪聲電平以下。AQ-7283A光時(shí)域反射儀二手商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。

1、光輸出端口必須保持清潔，光輸出端口需要定期使用無水乙醇進(jìn)行清潔。清潔光纖接頭和光輸出端口的作用1、由于光纖纖芯非常小，附著在光纖接頭和光輸出端口的灰塵和顆?？赡軙采w一部分輸出光纖的纖芯，導(dǎo)致儀器的性能下降。2、灰塵和顆?？赡軙?dǎo)致輸出端光纖接頭端面的磨損，這樣將降低儀器測試的準(zhǔn)確性重復(fù)性2、儀器使用完后將防塵帽蓋上，同時(shí)必須保持防塵帽的清潔。3、定期清潔光輸出端口的法蘭盤連接器。如果發(fā)現(xiàn)法蘭盤內(nèi)的陶瓷芯出現(xiàn)裂紋和碎裂現(xiàn)象，必須及時(shí)更換。4、適當(dāng)設(shè)置發(fā)光時(shí)間，延長激光源使用壽命日本橫河光時(shí)域反射儀二手商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。大動態(tài)OTDR一級代理

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（1）該建議是基于單纖接頭損耗的可接受值≤0.5dB，平均值沒有規(guī)定的情況下而言的。從目前的熔接機(jī)情況看，熔接機(jī)所顯示的數(shù)據(jù)配合觀察光纖接頭斷面情況，能夠粗略估計(jì)光纖接續(xù)點(diǎn)損耗的狀況，但不能精確到目前我國所要求的光纖接續(xù)損耗指標(biāo)的數(shù)量級。我們認(rèn)為，這些熔接機(jī)的設(shè)計(jì)目的和依據(jù)是基于ITU建議的。（2）目前的熔接機(jī)接續(xù)是通過對光纖X軸和Y軸方向的錯(cuò)位調(diào)整，在軸心錯(cuò)位小時(shí)進(jìn)行熔接的，這種能調(diào)整軸心的方法稱為纖芯直視法，這種方法不同于功率檢測法，現(xiàn)場是無法知道接頭損耗確切數(shù)值的。但是在整個(gè)調(diào)整軸心和熔接接續(xù)過程中，通過攝像機(jī)把探測到所熔接纖芯狀態(tài)的信息送到熔接機(jī)的**程序中，可以計(jì)算出接續(xù)后的損耗值。但它只能說明光纖軸心對準(zhǔn)的程度，并不含有光纖本身的固有特性所影響的損耗。而OTDR的測試方法是后向散射法，它包含有光纖參數(shù)的不同形成反射的損耗。動態(tài)范圍光時(shí)域反射儀以租代購