光學(xué)干涉測量的工作原理基于干涉儀的原理:當(dāng)光波經(jīng)過物體表面時(shí),會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象,形成干涉條紋。通過觀察和分析干涉條紋的變化,可以推斷出物體表面的形變情況。光學(xué)干涉測量通常使用干涉儀、激光器和相機(jī)等設(shè)備進(jìn)行測量。光學(xué)應(yīng)變測量和光學(xué)干涉測量在測量原理和應(yīng)用領(lǐng)域上有著明顯的不同。光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)相比于其他應(yīng)變測量方法具有非接觸性、高精度和高靈敏度、全場測量能力、快速實(shí)時(shí)性以及較好的可靠性和穩(wěn)定性等優(yōu)勢。這些優(yōu)勢使得光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)在材料研究、結(jié)構(gòu)分析、動(dòng)態(tài)應(yīng)變分析和實(shí)時(shí)監(jiān)測等領(lǐng)域具有普遍的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷進(jìn)步,相信光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)將在未來發(fā)展中發(fā)揮更加重要的作用。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用物體的應(yīng)變數(shù)據(jù)可以建立應(yīng)力應(yīng)變關(guān)系模型,從而轉(zhuǎn)化為應(yīng)力數(shù)據(jù)。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)
進(jìn)行變形測量時(shí),需滿足以下基本要求:1.對(duì)于大型或重要工程建筑物、構(gòu)筑物,在工程設(shè)計(jì)階段應(yīng)多方面考慮變形測量,并在施工開始時(shí)進(jìn)行測量。2.變形測量點(diǎn)應(yīng)分為基準(zhǔn)點(diǎn)、工作基點(diǎn)和變形觀測點(diǎn)。3.每次變形觀測應(yīng)遵循以下要求:采用相同的圖形和觀測方法,使用同一儀器和設(shè)備,由固定的觀測人員在基本相同的環(huán)境和條件下工作。4.平面和高程監(jiān)測網(wǎng)應(yīng)定期檢測。建網(wǎng)初期,每半年檢測一次;點(diǎn)位穩(wěn)定后,檢測周期可適當(dāng)延長。如果對(duì)變形結(jié)果有疑問,應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行檢核。湖南VIC-2D非接觸式應(yīng)變測量光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種非接觸式的測量方法,具有高精度和高靈敏度。
外部變形包括變形體外部形狀及其空間位置的改變,如傾斜、裂縫、垂直和水平位移等。因此,變形觀測可分為垂直位移觀測(常稱為沉降觀測)、水平位移觀測(常簡稱為位移觀測)、傾斜觀測、裂縫觀測、撓度觀測(建筑的基礎(chǔ)、上部結(jié)構(gòu)或構(gòu)件等在彎矩作用下因撓曲引起的垂直于軸線的線位移)、風(fēng)振觀測(對(duì)受強(qiáng)風(fēng)作用而產(chǎn)生的變形進(jìn)行觀測)、日照觀測(對(duì)受陽光照射受熱不均而產(chǎn)生的變形進(jìn)行觀測)以及基坑回彈觀測(對(duì)基坑開挖時(shí)由于卸除土的自重而引起坑底土隆起的現(xiàn)象進(jìn)行觀測)等。內(nèi)部變形則指變形體內(nèi)部應(yīng)力、溫度、水位、滲流、滲壓等的變化。
光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)是一種非接觸、高精度的應(yīng)變測量方法,普遍應(yīng)用于工程領(lǐng)域中的結(jié)構(gòu)應(yīng)變分析、材料力學(xué)性能研究等方面。在光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)中,儀器設(shè)備起著至關(guān)重要的作用。這里將介紹幾種常見的光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)儀器設(shè)備。首先,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)中較常用的儀器設(shè)備之一是光柵應(yīng)變計(jì)。光柵應(yīng)變計(jì)是一種基于光柵原理的應(yīng)變測量儀器,通過測量光柵的位移來計(jì)算應(yīng)變。光柵應(yīng)變計(jì)具有高精度、高靈敏度、非接觸等特點(diǎn),普遍應(yīng)用于結(jié)構(gòu)應(yīng)變分析、材料力學(xué)性能研究等領(lǐng)域。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量應(yīng)用于匯總公共交通工具的檢測領(lǐng)域。
光學(xué)應(yīng)變測量的分辨率是指測量系統(tǒng)能夠分辨的較小應(yīng)變量。分辨率的大小取決于測量設(shè)備的性能和測量方法的選擇。一般來說,光學(xué)應(yīng)變測量設(shè)備的分辨率可以達(dá)到亞微應(yīng)變級(jí)別。這得益于光學(xué)測量方法的高靈敏度和高分辨率。例如,常用的全場測量方法,如全息術(shù)和數(shù)字圖像相關(guān)法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)被測物體表面的應(yīng)變分布進(jìn)行測量,從而提高了測量的分辨率。此外,還有一些局部測量方法,如光纖光柵傳感器和激光干涉儀等,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)特定區(qū)域的高精度測量,進(jìn)一步提高了測量的分辨率。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量方法可以通過比較不同載荷下的光強(qiáng)分布或圖像相關(guān)系數(shù),獲取物體表面的應(yīng)變信息。浙江高速光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變測量裝置
雖然光學(xué)非接觸應(yīng)變測量存在局限性,但通過在不同平面上投射多個(gè)光柵,可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)方向上的應(yīng)變測量。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)
光學(xué)非接觸應(yīng)變測量和應(yīng)力測量是兩個(gè)在工程領(lǐng)域中普遍應(yīng)用的重要技術(shù)。它們之間存在著密切的關(guān)聯(lián),通過光學(xué)非接觸應(yīng)變測量可以間接地獲得物體的應(yīng)力信息。這里將探討光學(xué)非接觸應(yīng)變測量和應(yīng)力測量的關(guān)聯(lián),并介紹它們?cè)诠こ虒?shí)踐中的應(yīng)用。首先,我們來了解一下光學(xué)非接觸應(yīng)變測量的原理。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是利用光學(xué)原理來測量物體在受力作用下的應(yīng)變情況。當(dāng)物體受到外力作用時(shí),其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生應(yīng)變,即物體的形狀和尺寸會(huì)發(fā)生變化。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用光的干涉原理,通過測量物體表面上的干涉條紋的變化來間接地獲得物體的應(yīng)變信息。通過分析干涉條紋的形態(tài)和密度變化,可以計(jì)算出物體在不同位置上的應(yīng)變大小。而應(yīng)力測量是直接測量物體內(nèi)部受力狀態(tài)的一種方法。應(yīng)力是物體內(nèi)部的分子間相互作用力,是物體受力狀態(tài)的直接體現(xiàn)。應(yīng)力測量可以通過應(yīng)變測量來實(shí)現(xiàn),即通過測量物體在受力作用下的形變情況來間接地獲得物體的應(yīng)力信息。應(yīng)力測量的常用方法有應(yīng)變片法、電阻應(yīng)變片法等。這些方法通過將應(yīng)變片或電阻應(yīng)變片粘貼在物體表面上,當(dāng)物體受到外力作用時(shí),應(yīng)變片或電阻應(yīng)變片會(huì)發(fā)生形變,通過測量形變的大小和方向,可以計(jì)算出物體在不同位置上的應(yīng)力大小。貴州VIC-3D非接觸應(yīng)變系統(tǒng)