山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-11-14

CT原位加載系統(tǒng):信號(hào)調(diào)理電路:壓力變送器將壓力信號(hào)轉(zhuǎn)換為0~5V或4~20mA的電信號(hào),而WiFi模塊模擬輸入端的輸入電壓范圍為0~3V,因此需要設(shè)計(jì)信號(hào)調(diào)理電路將壓力變送器輸出的電信號(hào)調(diào)理至WiFi模塊模擬輸入端可接收的信號(hào)范圍。信號(hào)調(diào)理電路,由精密電阻R1,R2構(gòu)成的分壓電路與運(yùn)放LM358構(gòu)成的電壓跟隨器電路組成。VIN來(lái)自壓力變送器輸出的電信號(hào),VOUT送往WiFi模塊模擬輸入端。該電路可以實(shí)現(xiàn)輸入電壓信號(hào)的電壓范圍變換及輸入電流信號(hào)到電壓信號(hào)的轉(zhuǎn)換?;谛碌娘@微觀測(cè)技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用。山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

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基于x射線斷層照相的原位加載裝置:隨著損傷及缺陷結(jié)構(gòu)研究的深入,科研工作者需要知道在載荷作用下,材料的三維微細(xì)觀結(jié)構(gòu)損傷發(fā)展及演變的規(guī)律。利用X射線斷層照相設(shè)備對(duì)損傷前后的樣品進(jìn)行非原位測(cè)試沒(méi)有問(wèn)題,但為了更準(zhǔn)確的把握損傷演化過(guò)程以及更方便的對(duì)X射線斷層照相數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比處理獲得定量演化數(shù)據(jù),需要原位加載系統(tǒng)??紤]到樣品臺(tái)在斷層照相數(shù)據(jù)采集過(guò)程中需要旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),而且樣品臺(tái)的較大荷載有限,所以很難把加載系統(tǒng)的力直接加到樣品臺(tái)來(lái)實(shí)現(xiàn)原位實(shí)驗(yàn)。山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有實(shí)時(shí)繪制多種曲線,助力試驗(yàn)研究。

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掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn):1、熱游離方式電子設(shè)備有鎢(W)燈絲及六硼化鑭(LaB6)燈絲兩種,它是利用高溫使電子具有足夠的能量去克服電子設(shè)備材料的功函數(shù)(workfunction)能障而逃離。對(duì)發(fā)射電流密度有重大影響的變量是溫度和功函數(shù),但因操作電子設(shè)備時(shí)均希望能以較低的溫度來(lái)操作,以減少材料的揮發(fā),所以在操作溫度不提高的狀況下,就需采用低功函數(shù)的材料來(lái)提高發(fā)射電流密度。2、電子設(shè)備的必要特性是亮度要高、電子能量散布(EnergySpread)要小,目前常用的種類計(jì)有三種,鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場(chǎng)發(fā)射(FieldEmission),不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩(wěn)定度及電子源壽命等均有差異。

原位加載設(shè)備:此產(chǎn)品是專門為X射線CT設(shè)備定制設(shè)計(jì)的緊湊型測(cè)試系統(tǒng),可進(jìn)行原位的拉力、壓力、高低溫多種條件下的樣品原位CT掃描。機(jī)架采用模塊化設(shè)計(jì),易于功能擴(kuò)展升級(jí)、維護(hù),安裝運(yùn)輸方便,對(duì)載物臺(tái)無(wú)特殊要求,適合研究的樣品非常廣,包括材料、生物、巖土、電子器件等。特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì):1.引入時(shí)間維度,實(shí)現(xiàn)4DCT成像。2.單軸拉力/壓力適用于材料的力學(xué)試驗(yàn)分析。3.高溫/低溫適用于結(jié)構(gòu)對(duì)溫度敏感的樣品分析。4.采用閉環(huán)控制,實(shí)現(xiàn)高精度力學(xué)控制。5.實(shí)時(shí)繪制多種曲線,助力試驗(yàn)研究。6.多種保護(hù)功能,確保設(shè)備安全運(yùn)行。掃描電鏡原位加載設(shè)備基本結(jié)構(gòu)是掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征。

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原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù):基于性能特點(diǎn),我們將體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)技術(shù)與原位拉伸裝置結(jié)合,研究了固體推進(jìn)劑的絕熱層與推進(jìn)劑藥柱在加載作用下的細(xì)觀損傷破壞過(guò)程。由于體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)空間不受限制,可以充分?jǐn)U展加載臺(tái),實(shí)現(xiàn)對(duì)延伸率較大樣品的觀測(cè);并可通過(guò)對(duì)加載臺(tái)的溫度控制,實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在高、低溫環(huán)境下?lián)p傷力學(xué)性能規(guī)律的研究;此外,體視學(xué)顯微鏡原位加載裝置還具有樣品不需噴金、成本低等優(yōu)點(diǎn)。由于種種問(wèn)題的存在,限制了SEM原位加載實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的應(yīng)用范圍,對(duì)材料力學(xué)性能研究的貢獻(xiàn)也有限。uTS原位加載系統(tǒng)是光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合。山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

實(shí)現(xiàn)原位加載臺(tái)的高低溫加載等,也將有效擴(kuò)展此試驗(yàn)系統(tǒng)對(duì)材料細(xì)觀力學(xué)性能研究的領(lǐng)域。山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

臺(tái)式掃描電鏡的工作原理:產(chǎn)生一系列電子信息(二次電子、背反射電子、透射電子、吸收電子等),檢測(cè)器接收各種電子信號(hào),經(jīng)電子放大器放大后輸入到顯像管控制的顯像管。顯像管網(wǎng)格。當(dāng)聚焦的電子束掃描樣品表面時(shí),樣品的不同部位具有不同的物理、化學(xué)性質(zhì)、表面電位、元素組成和不均勻的形貌,從而產(chǎn)生不同的電子束激發(fā)的電子信息,從而導(dǎo)致電子顯像管的光束強(qiáng)度也不斷變化,之后在顯像管的熒光屏上可以得到與樣品表面結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的圖像。根據(jù)探測(cè)器接收到的不同電子信號(hào),可以分別得到樣品的背散射電子圖像、二次電子圖像和吸收電子圖像。山東xTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

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