西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有

掃描電子顯微鏡工作原理：光柵掃描，逐點(diǎn)成像：電子設(shè)備發(fā)射電子束，電壓加速、磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑約5nm的電子束。電子束在偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，在樣品上做光柵狀掃描，激發(fā)多種電子信號。探測器收集電子信號，經(jīng)過電信號放大器加以放大處理，在顯示系統(tǒng)上成像。二次電子的圖像信號動態(tài)地形成三維圖像。組成部分：電子光學(xué)系統(tǒng)：組成：電子設(shè)備、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件。作用：獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號的激發(fā)源。原位加載設(shè)備一些特殊的應(yīng)用，樣品需要放置在特殊的模擬環(huán)境中進(jìn)行檢測。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有

掃描電鏡原位加載設(shè)備：特點(diǎn)：制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等，對于導(dǎo)電材料，可直接放入樣品室進(jìn)行分析，對于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層?；窘Y(jié)構(gòu)：掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。其中很重要的三個(gè)系統(tǒng)是電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。四川Psylotech原位加載設(shè)備掃描電鏡原位加載技術(shù)是觀測材料在拉伸作用下斷裂破壞行為很方便、直觀的觀測設(shè)備。

工業(yè)CT原位加載裝置壓力信號采集系統(tǒng)：為了避免旋轉(zhuǎn)掃描過程中加載裝置壓力傳感器外接連線帶來的纏繞和遮擋問題,基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無線數(shù)據(jù)采集方案,實(shí)現(xiàn)了工業(yè)CT原位加載掃描實(shí)驗(yàn)中加載裝置壓力信號的實(shí)時(shí)采集.整個(gè)采集系統(tǒng)由下位機(jī)、無線路由器、上位機(jī)三部分組成.下位機(jī)安裝在加載裝置上,采用ARM系統(tǒng)搭建,電池供電.壓力變送器信號經(jīng)調(diào)理后通過ARM主控芯片模擬輸入端采集.利用WiFi模塊與路由器通過無線連接,路由器再與上位機(jī)通過網(wǎng)線連接,從而實(shí)現(xiàn)下位機(jī)與上位機(jī)的P2P網(wǎng)絡(luò)連接.數(shù)據(jù)傳輸采用UDP協(xié)議,自定義數(shù)據(jù)包格式中包含了采樣時(shí)間和各通道A/D數(shù)據(jù).上位機(jī)放置于CT監(jiān)控室,接收網(wǎng)絡(luò)UDP數(shù)據(jù)包,解析數(shù)據(jù)后進(jìn)行顯示和存儲.實(shí)驗(yàn)測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定可靠,操作方便直觀,完全滿足靜態(tài)加載的數(shù)據(jù)采集需求。

臺式掃描電鏡的工作原理：從原理上講，掃描電子顯微鏡是利用非常精細(xì)聚焦的高能電子束在樣品上掃描，激發(fā)各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，可以獲得對試樣表面形貌的觀察。掃描電子顯微鏡（SEM）——一種電子光學(xué)儀器，它利用很細(xì)的電子束掃描被觀察樣品的表面，收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息，并對圖像進(jìn)行變換和放大。它是研究三維表面結(jié)構(gòu)的有用工具。在高真空鏡筒中，電子設(shè)備產(chǎn)生的電子束通過電子會聚透鏡聚焦成細(xì)束，然后逐點(diǎn)掃描轟擊樣品表面。原位加載設(shè)備可進(jìn)行原位的拉力、壓力、高低溫多種條件下的樣品原位CT掃描。

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：掃描電鏡原位加載技術(shù)是觀測材料在拉伸作用下斷裂破壞行為很方便、直觀的觀測設(shè)備，但是，該技術(shù)也存在一定的缺陷，如:由于SEM的成本太高，實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)難以大量普及;SEM加載腔的有限尺寸使得原位拉伸臺必須通過精密的加工工藝材料生產(chǎn)與組裝，又進(jìn)一步提高了實(shí)驗(yàn)裝置的成本;加載腔的尺寸限制還增大了集成多種加載裝置的困難，難以對高延伸率的樣品進(jìn)行觀測，更難以實(shí)現(xiàn)對材料在不同溫度載荷作用下細(xì)觀損傷破壞過程的研究;此外，SEM的觀測往往還需對樣品進(jìn)行噴金處理，觀測過程要抽真空，使得高感度的危險(xiǎn)材料、含水材料、含易揮發(fā)物質(zhì)的材料等的觀測形成了困難。設(shè)計(jì)了可用于基于SEM微觀形貌分析、EBSD晶粒取向分析的原位加載裝置。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有

掃描電鏡原位加載設(shè)備基本結(jié)構(gòu)是掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：在研究中也發(fā)現(xiàn)，由于光學(xué)金相顯微景深的限制，鑄造奧氏體不銹鋼的形變發(fā)生到一定程度后，在光學(xué)顯微鏡下看，還不等拉伸裂紋出現(xiàn)，試樣的表面就變得模糊不清，鐵素體相和奧氏體相難以區(qū)分，尤其是形變量大的區(qū)域，看上去漆黑一團(tuán)。因此，對形變量較大的鑄造奧氏體不銹鋼的斷裂裂紋的萌生與擴(kuò)展情況，適于采用景深較大的原位拉伸掃描電鏡進(jìn)行觀測。體視學(xué)顯微鏡由于其獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，能產(chǎn)生正立的具有立體感的三維空間像，具有較大的景深和放大倍數(shù)，成像清晰。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有

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