北京全場(chǎng)三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-19

隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的飛速發(fā)展,新型飛行器的飛行速度越來(lái)越快,隨之帶來(lái)的是對(duì)其熱防護(hù)結(jié)構(gòu)的更高要求,由此熱結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能成為熱防護(hù)系統(tǒng)與飛行器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)是近年來(lái)新興的一種非接觸式變形測(cè)量方法,相較于傳統(tǒng)的變形測(cè)量方法,它具有適用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單和測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn),尤其是在高溫實(shí)驗(yàn)的測(cè)量中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。某單位在模擬實(shí)驗(yàn)中采用兩臺(tái)高速相機(jī)拍攝風(fēng)洞風(fēng)載下垂尾模型的震顫研究狀況,通過(guò)光學(xué)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)分析不同風(fēng)速下各個(gè)位置(標(biāo)記點(diǎn))的振動(dòng)和散斑(C區(qū)域)的變形狀態(tài),獲得了該尾翼振動(dòng)模態(tài)參數(shù)與振型。變形測(cè)量的級(jí)別劃分與其精密要求應(yīng)符合相關(guān)的規(guī)定。北京全場(chǎng)三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

北京全場(chǎng)三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng),光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量

隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的飛速發(fā)展,新型飛行器的飛行速度越來(lái)越快,隨之帶來(lái)的是對(duì)其熱防護(hù)結(jié)構(gòu)的更高要求,由此熱結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能成為熱防護(hù)系統(tǒng)與飛行器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)是近年來(lái)新興的一種非接觸式變形測(cè)量方法,相較于傳統(tǒng)的變形測(cè)量方法,它具有適用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單和測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn),尤其是在高溫實(shí)驗(yàn)的測(cè)量中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)作為一種可視化全場(chǎng)測(cè)量手段,可重點(diǎn)關(guān)注局域變形帶空間特征,結(jié)合微觀組織表征和時(shí)域分析,揭示內(nèi)在物理機(jī)制,為抑制材料PLC效應(yīng)提供理論基礎(chǔ)。廣西哪里有賣VIC-3D非接觸式變形測(cè)量對(duì)于兩個(gè)層次布網(wǎng),觀測(cè)點(diǎn)及聯(lián)測(cè)的控制點(diǎn)應(yīng)按變形觀測(cè)周期進(jìn)行觀測(cè)。

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垂直位移的變形監(jiān)測(cè)技術(shù)就是對(duì)建筑物進(jìn)行垂直方向上的變形監(jiān)測(cè)。一般情況下,由于不是很均勻的垂直方向上的位移,會(huì)讓建筑物產(chǎn)生裂縫。這種監(jiān)測(cè)異常,很可能就是建筑物基礎(chǔ)或局部破壞的前奏,因此,垂直位移的變形監(jiān)測(cè)是非常必要的。在進(jìn)行垂直位移變形監(jiān)測(cè)時(shí),要先監(jiān)測(cè)工作基點(diǎn)的穩(wěn)定程度,在此基礎(chǔ)上再進(jìn)行垂直位移的變形監(jiān)測(cè)?,F(xiàn)有的水利工程用的垂直位移變形監(jiān)測(cè)方法有三種,第1種是幾何水準(zhǔn)測(cè)量的方法,第2種是三角高程測(cè)量的方法,第3種為液體靜力水準(zhǔn)的測(cè)量方法。

光學(xué)是物理學(xué)的重要分支學(xué)科,也是與光學(xué)工程技術(shù)相關(guān)的學(xué)科。狹義來(lái)說(shuō),光學(xué)是關(guān)于光和視見(jiàn)的科學(xué),而現(xiàn)在常說(shuō)的光學(xué)是廣義的,是研究從微波、紅外線、可見(jiàn)光、紫外線直到x射線和γ射線的寬廣波段范圍內(nèi)的電磁輻射的產(chǎn)生、傳播、接收和顯示,以及與物質(zhì)相互作用的科學(xué),著重研究的范圍是從紅外到紫外波段。它是物理學(xué)的一個(gè)重要組成部分,現(xiàn)有多個(gè)領(lǐng)域使用到光學(xué)應(yīng)變測(cè)量數(shù)據(jù),例如進(jìn)行破壞性實(shí)驗(yàn)時(shí),需要使用到非接觸式應(yīng)變測(cè)量光學(xué)儀器進(jìn)行高速的拍攝測(cè)量,但現(xiàn)有儀器上的檢測(cè)頭不便于穩(wěn)定調(diào)節(jié)角度,不便于多角度的進(jìn)行高速拍攝,影響到測(cè)量效果,且補(bǔ)光儀器不便調(diào)節(jié)前后位置。變形測(cè)量主要指的是物體的使用過(guò)程中由于應(yīng)力等因素影響造成的形態(tài)變化。

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電阻應(yīng)變測(cè)量(電測(cè)法)是實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析中使用比較廣和適應(yīng)性比較強(qiáng)的方法之一。該方法是利用電阻應(yīng)變計(jì)(簡(jiǎn)稱應(yīng)變片或電阻片)作為敏感元件,用應(yīng)變儀作為測(cè)量?jī)x器,通過(guò)測(cè)量可以得出受力構(gòu)件上的應(yīng)力、應(yīng)變的一種實(shí)驗(yàn)方法。測(cè)量時(shí),將應(yīng)變計(jì)牢固地貼在構(gòu)件上,構(gòu)件變形連同應(yīng)變計(jì)一起變形,應(yīng)變計(jì)的變形產(chǎn)生了電阻的變化,通過(guò)測(cè)量電橋使這微小的電阻變化轉(zhuǎn)換成電壓或電流的變比,經(jīng)過(guò)信號(hào)放大,將其變換成構(gòu)件的應(yīng)變值而顯示出來(lái),完成上述轉(zhuǎn)換工作的儀器叫應(yīng)變儀。變形點(diǎn)監(jiān)測(cè)軟件包括各分控機(jī)上的監(jiān)測(cè)軟件和主控機(jī)上的數(shù)據(jù)庫(kù)管理軟件兩部分。山東三維全場(chǎng)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量

變形測(cè)量是通過(guò)變形測(cè)量和安裝來(lái)測(cè)量的。北京全場(chǎng)三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

芯片研發(fā)制造過(guò)程鏈條漫長(zhǎng),很多重要工藝環(huán)節(jié)需進(jìn)行精密檢測(cè)以確保良率,降低生產(chǎn)成本。提高制造控制工藝,并通過(guò)不斷研發(fā)迭代和測(cè)試,才能制造性能更優(yōu)異的芯片,走向市場(chǎng)并逐漸應(yīng)用到生活和工作的方方面面。由于芯片尺寸小,在溫度循環(huán)下的應(yīng)力,傳統(tǒng)測(cè)試方法難以獲??;高精度三維顯微應(yīng)變測(cè)量技術(shù)的發(fā)展,打破了原先在微觀尺寸測(cè)量領(lǐng)域的限制,特別是在半導(dǎo)體材料、芯片結(jié)構(gòu)變化細(xì)微的測(cè)量條件下,三維應(yīng)變測(cè)量技術(shù)分析尤為重要。北京全場(chǎng)三維數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

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