天津扁平形溫度傳感器精度哪家好

    即氧化硅薄膜和硅通過空腔隔開，基底下部的硅不會影響上部氧化硅的隔熱效果，因此無需通過刻蝕工藝將基底下部的硅刻蝕掉，從而縮短產(chǎn)品制備的時間，且節(jié)約了成本。在其中一個實施例中，所述溝槽的寬度范圍為μm～μm，所述溝槽的深度范圍為μm～μm，所述相鄰溝槽之間的間隔范圍為μm～μm。在其中一個實施例中，所述熱退火具體為在氫氣環(huán)境中熱退火，所述熱退火的溫度為℃。在其中一個實施例中，在得到所述氧化硅薄膜后還包括在所述氧化硅薄膜上形成氮化硅薄膜或者聚酰亞胺薄膜。在其中一個實施例中，在所述氧化硅薄膜上形成測溫單元具體為：在所述氧化硅薄膜上淀積一層金屬層，所述金屬層為金屬鉑層，所述金屬鉑層呈連續(xù)弓字形結(jié)構(gòu)。深圳市美信美科技有限公司于2020年04月17日成立。公司經(jīng)營范圍包括：一般經(jīng)營項目是：電子產(chǎn)品及其配件的技術(shù)開發(fā)與銷售；國內(nèi)貿(mào)易等。本公司主營推廣銷售AD（亞德諾）,LINEAR（凌特）以及TI、MAXIM、NXP等國際有名品牌集成電路。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于：汽車、通信、消費電子、工業(yè)控制、醫(yī)療器械、儀器儀表、安防監(jiān)控等領(lǐng)域。在所述金屬鉑層外側(cè)兩端各淀積一層第二金屬層，用于引出所述溫度傳感器的輸出端子。在其中一個實施例中?？孔V溫度傳感器，找深圳美信美科技幫你解決。天津扁平形溫度傳感器精度哪家好

    步驟s：熱退火使所述若干溝槽變形后相互連通形成一空腔，且所述硅片在空腔上方連接起來，將所述空腔封閉。對開設(shè)有溝槽的硅片進行適當(dāng)?shù)臒崽幚恚?dāng)硅片被加熱到一定溫度時，硅原子的振動能較大，導(dǎo)致原子的移動能加強，硅原子會發(fā)生遷移。由于硅片上開設(shè)有溝槽，且溝槽側(cè)壁的間距較小，當(dāng)硅原子遷移運動達到一定程度時，硅原子會進入溝槽內(nèi)，硅片內(nèi)部的溝槽會發(fā)生形變，溝槽上部被硅封閉，若干溝槽中間部位相互連通，形成一空腔(如圖b所示)。即空腔處于硅片的中間，空腔的上部和下部均具有硅結(jié)構(gòu)，上下硅結(jié)構(gòu)被空腔隔離開。在一實施例中，熱退火的溫度可為℃。改變溝槽的間距，可以得到不同形態(tài)的空腔，且間距越大，所需的退火溫度就越高，但是退火的持續(xù)時間不超過min。在本實施例中，溝槽陣列中溝槽之間的間距大于內(nèi)部溝槽的間距，如此可以避免在空腔邊緣處形成缺口。同時，熱退火需要在一隔離環(huán)境中進行，如真空環(huán)境或者惰性氣體環(huán)境，保證在熱退火過程中硅不會與環(huán)境中的物質(zhì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)。在本實施例中。熱退火在氫氣環(huán)境中進行。步驟s：氧化所述空腔上部的硅片得到氧化硅薄膜。通過熱氧化工藝氧化空腔上部的硅片以形成氧化硅薄膜(如圖c所示)。在℃～℃的高溫環(huán)境中?；葜葸M口溫度傳感器哪個靠譜深圳美信美溫度傳感器測試嚴格過關(guān)。

    提供這些實施例的目的是使對本發(fā)明的公開內(nèi)容更加透徹。除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項目的任意的和所有的組合。本申請?zhí)峁┮环N溫度傳感器的制備方法，如圖1所示，其步驟包括：步驟s110：在硅片上形成若干溝槽。結(jié)合圖2a所示，獲取一硅晶片20，從硅片20上方垂直向下開設(shè)若干并列的溝槽21形成溝槽陣列。在一實施例中，先在硅片20上形成具有陣列圖案的光刻膠層，再以光刻膠作為掩膜版對硅片20進行刻蝕形成若干溝槽21。在本實施例中，刻蝕可為常規(guī)的干法刻蝕，具體為深度離子刻蝕。干法刻蝕具有更高的刻蝕精度和更好的各向異性性能，其精度可達亞微米級別，通過干法刻蝕，可以得到形態(tài)較好的溝槽，尤其是溝槽尺寸較小時利用干法刻蝕效果更佳?？赏ㄟ^調(diào)節(jié)掩膜板圖案和控制刻蝕參數(shù)得到不同形態(tài)的溝槽，其中，溝槽21的寬度可為～1μm，溝槽21的深度可為1～10μm，相鄰溝槽21之間的間隔可為～1μm。溝槽21的俯視形貌可以為圓形、方形或其他形狀。

    利用金屬鉑在溫度變化時自身電阻值也會隨著溫度改變的特性來測量溫度，溫度傳感器的輸出端子與顯示儀表連接，顯示儀表會顯示受溫度影響得到的鉑電阻對應(yīng)的溫度值。通常，形成測溫單元還包括鈍化步驟，即，步驟s133：在金屬層上形成鈍化層，并在鈍化層上對應(yīng)所述溫度傳感器引出輸出端子處設(shè)有通孔。因上述熱電阻傳感器中上層有金屬結(jié)構(gòu)如金屬鋁和金屬鉑，對于直接暴露在空氣中時容易氧化的金屬層，其上還形成一層鈍化層，可對金屬層進行保護。同時，需要在對應(yīng)溫度傳感器引出端子處開設(shè)通孔，通過通孔可引出輸出端子。在本實施例中，是在兩端的金屬鋁上方的鈍化層開設(shè)通孔。鈍化層可為氧化硅層或氮化硅層，也可為疊設(shè)的氧化硅層和氮化硅層。在一實施例中，測溫單元為一熱電偶傳感結(jié)構(gòu)，其具體形成過程為：步驟s134：在所述氧化硅薄膜上淀積一層多晶硅層，所述多晶硅層包括并排且間隔設(shè)置的n型多晶硅條和p型多晶硅條。如圖5和圖6所示，在氧化硅薄膜23上淀積一層多晶硅層50，該多晶硅層50包括并排且間隔設(shè)置的n型多晶硅條51和p型多晶硅條52。n型多晶硅可為在多晶硅內(nèi)部摻雜ⅴ族元素形成導(dǎo)電類型為n型的多晶硅，且其內(nèi)部摻雜均勻。深圳美信美科技有公司有大量溫度傳感器現(xiàn)貨庫存，且連續(xù)兩年獲得好的供應(yīng)商稱號。

    鈍化層可為氧化硅層或氮化硅層，也可為疊設(shè)的氧化硅層和氮化硅層。上述溫度傳感器，測溫單元設(shè)于氧化硅薄膜上，氧化硅薄膜具有較低的導(dǎo)熱率，因此不會影響測溫單元的測溫效果。且氧化硅薄膜與硅之間形成有空腔，空腔下方的硅不會影響空腔上方的氧化硅的隔離效果，在溫度傳感器的制備過程中，無需通過深槽刻蝕工藝將多余的硅刻蝕掉，因此簡化了溫度傳感器的制備時間，節(jié)約了成本。以上實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認為是本說明書記載的范圍。以上實施例表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。深圳美信美溫度傳感器質(zhì)量好?；葜葸M口溫度傳感器哪個靠譜

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