膜電極測試

MARPOSS可以用累積室中的氦氣對電池PACK進行泄漏測試，待測零件在環(huán)境壓力下被放入密封室，然后充入氦氣，通過氦質譜儀檢測是否有示蹤氣體從待測零件流到密封室里。這種零部件半成品和pack成品的泄漏測試技術是一種非常可靠的方法，可以確保產(chǎn)品整體密封性良好，從而防止水進入電池pack內部。使用示蹤氣體的泄漏測試方法可確保比較大的測試靈敏度，其可以識別極低的泄漏情況，適用于大容積部件和任何環(huán)境條件。我們在累積室氦氣泄漏測試方案可以測量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。憑借e.d.c.產(chǎn)品，馬波斯提供了一整套解決方案，專門用于任何類型電機的功能測試和下線測試。膜電極測試

Optoflash具有明顯的功能。一方面，高速測量。在不進行Z軸運動的情況下對整個零件進行光學采集—相對其它系統(tǒng)對測量要素逐一掃描測量來說—Optoflash測量系統(tǒng)測量只需一瞬間。另一方面，可靠耐用。固定位置的光學系統(tǒng)，避免了軸向的機械磨損。測量系統(tǒng)擁有很強的計量性能，可在數(shù)百萬次的測量周期內，確保運行的一致性和穩(wěn)定性。這一性能可比較大限度地減少對系統(tǒng)的維護保養(yǎng)。因此，可以看出Optoflash具有高測量精度和“閃電般”的測量循環(huán)時間。重慶新能源汽車檢測設備廠家在不同工藝階段對定子進行的絕緣測試是評估組件質量和可靠性的關鍵操作。

在半導體的生產(chǎn)環(huán)節(jié)中，圓晶減薄是其中一個關鍵的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。實際上，由于芯片已在圓晶上成形，減薄操作的任何失誤都可能影響芯片成品率和成本。在減薄加工中，可用接觸式或非接觸式傳感器測量，甚至可在去離子水中測量，進行嚴格在線控制。馬波斯傳感器甚至可檢測到砂輪與圓晶接觸的瞬間或檢查任何過載。另外，馬波斯傳感器可控制的厚度從4μm到900μm（單側測量），智能處理厚度數(shù)據(jù)，可正?？刂瞥『穸群陀涗洈?shù)據(jù)（黑盒功能）。

在半導體行業(yè)，圓晶減薄當然是非常精密的加工過程。在減薄過程中，需要用接觸式或非接觸式傳感器嚴格控制加工過程。從步驟來看，封裝前，圓晶需要達到正確的厚度，這是半導體生產(chǎn)的關鍵。圓晶背面研磨（圓晶減?。┦且环N半導體生產(chǎn)工序，在此期間需要嚴格控制圓晶厚度，使圓晶達到超薄的厚度，可疊放和高密度封裝在微型電子器件中。馬波斯傳感器甚至可檢測到砂輪與圓晶接觸的瞬間或檢查任何過載。同時，馬波斯傳感器可在干式和濕式環(huán)境中可靠地在線測量厚度。渦流探測（EC）是一系列無損技術（NDT），用于檢查被測組件的表面質量和材料特性。

Optoflash測量系統(tǒng)特別易于使用：開放式的裝載區(qū)域，符合人機工程學原理的尾架系統(tǒng)，可方便地夾緊待測工件。基于觸屏顯示器的軟件用戶界面—可為用戶提供良好的操作體驗。Optoflash可以實現(xiàn)一鍵操作啟動測量循環(huán)，同時，智能聯(lián)結帶有7個USB集成端口，可方便地連接打印機、二維碼掃碼器、工廠網(wǎng)絡系統(tǒng)或其它外部存儲器等。Optoflash的顯示器可設置在一個活動自如的臂架之上，可安裝于測量裝置的任意一側。Optoflash測量系統(tǒng)配備了馬波斯的軟件用戶界面。E.D.C.自1998年以來開發(fā)的用于局部放電絕緣測試的方法基于電容耦合技術?？刂齐妷鹤x取

20多年的經(jīng)驗和安裝的多個系統(tǒng)，使e.d.c.能夠100%識別缺陷，甚至是潛在缺陷。膜電極測試

泄漏檢測是電芯生產(chǎn)中的必要工序，尤其是對新一代鋰離子電芯來說，更是如此。電解液通常含易燃溶劑，如果與空氣中的水分接觸，會產(chǎn)生有害物質。為了避免電解液的泄漏，必須保證電芯的充分密封。此外，還需避免水分或其它外部污染物進入電芯內而影響電芯的正常工作。在傳統(tǒng)的電芯生產(chǎn)線上，一般會使用氦氣作為示蹤氣體來檢測泄漏，但該方法只能用于在電芯尚未完全密封的階段使用，或是在注液期間充入氦氣并將氦氣封存在電芯內，然而這種方法會影響生產(chǎn)工藝，也并不適用于所有類型的電芯。然而電解液示蹤技術可在生產(chǎn)過程EOL階段檢測電芯泄漏情況，即在電芯注液并密封后進行檢測。膜電極測試