電子電器做可靠性高低溫測(cè)試對(duì)材料有哪些要求

　　高低溫試驗(yàn)的概念以及作用

　　高低溫環(huán)境測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)�；�本上所有的產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，

　　時(shí)高時(shí)低。比如在有些溫差大的地區(qū)的白天黑夜�；蛘弋a(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、運(yùn)行過(guò)程中反復(fù)進(jìn)出于高溫區(qū)、低溫區(qū)。這種高低溫環(huán)境高溫時(shí)可能會(huì)達(dá)到70°C度以上甚至更高，

　　低溫時(shí)溫度可能會(huì)達(dá)到-20°C度以下甚至更低。

　　高低溫環(huán)境試驗(yàn)時(shí)間

　　一般來(lái)講的話(huà)都是天的倍數(shù)，常見(jiàn)的就是72H，96H。

　　當(dāng)然要求不一樣時(shí)間不一樣有更少或是更高的，主要根據(jù)客戶(hù)要求以及材料或產(chǎn)品類(lèi)別來(lái)選定。

　　高低溫環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

　　GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

　　IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱

　　IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫

　　高低溫試驗(yàn)/測(cè)試應(yīng)用范圍

　　高低溫環(huán)境測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料，測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性，

　　甚至損壞，如：

　　1.由于各種材料的膨脹系數(shù)不同，導(dǎo)致材料之間的粘結(jié)和遷移

　　2.使材料性能發(fā)生變化

　　3.使元器件電性能下降

　　4.彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命

　　5.加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過(guò)程,縮短產(chǎn)品使用壽命。

　　6.橡膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂；

　　7.金屬和塑料脆性增大，導(dǎo)致破裂或產(chǎn)生裂紋；

　　8.使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降。

　　高低溫環(huán)境測(cè)試測(cè)試費(fèi)用

　　高低溫測(cè)試的價(jià)格主要是根據(jù)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)來(lái)報(bào)價(jià)的，不同大小的產(chǎn)品對(duì)應(yīng)使用不同大小的溫度箱，不同大小的溫度箱有不同的測(cè)試價(jià)格，按照時(shí)長(zhǎng)計(jì)算。另外測(cè)試時(shí)間短會(huì)涉及基本的開(kāi)機(jī)費(fèi)。

　　辦理高低溫環(huán)境測(cè)試流程：

　　1、咨詢(xún)---申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料圖片或通過(guò)描述說(shuō)明所需要做高低溫試驗(yàn)的產(chǎn)品及材料。

　　2、報(bào)價(jià)---根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料，作出，確定須測(cè)試的項(xiàng)目，并向申請(qǐng)方報(bào)價(jià)

　　3、申請(qǐng)方確認(rèn)報(bào)價(jià)后填寫(xiě)測(cè)試申請(qǐng)表并寄送樣品。

　　4、樣品測(cè)試——測(cè)試將依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。

　　5、測(cè)試完成后提供報(bào)告。