金屬元素分析儀能量色散 光譜 儀排行榜 ，推薦HeLeeX ?禾苗E8 ，性價比超高，質保兩年！
專業(yè)的鍍層測試儀器HeLeeX E8 -SPR是一款高性能能量 色散 型X射線熒光 光譜儀 ,與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF尖端技術：核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有權威第三方檢測機構報告：E8-SPR采用小光斑設計,多種工作模型供選擇,測試數(shù)據(jù)更準確、更穩(wěn)定。 儀器結構采用人體工程學設計,儀器兩側按成人手臂長度設計：方便移動、搬運。 上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重。 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍、雅致白搭配：藍色代表科技,白色代表圣潔,寓意對科學的敬仰。 可視化樣品窗 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線 輻射標志警示 迷宮式結構,防止射線泄漏 安全連鎖設計：測試過程中誤打開樣品蓋時,電路0.1US快.速切斷X儀器經(jīng)權威第三方檢測：X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》。 超短光路設計：提高無鹵檢測分辨率,提高樣品分析效率：降低光管功率,延長儀器使用壽命。 模塊化準直器：根據(jù)分析元素,配備不同材質準直器：從而降低準直器對分析元素的影響,提高元素分辨率。 空氣動力學設計,加速光管冷卻：有效降低儀器內(nèi)部溫度。 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標準 專利技術：快拆樣品盤、更換薄膜 分析元素：Na-U 分析時間：60秒 配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析軟件界面簡潔、模塊化設計、功能清晰,易可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。 HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能：保護用戶數(shù)據(jù)安全。 HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法：增加樣品測試精準度。 HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析及鍍層元素含量分析 RoHS/ELV指令測試元素：Pb/鉛、Cd/鎘、Hg/汞、Cr/鉻、Br/溴 無鹵檢測：測試元素Br/溴、Cl/氯 合金分析：鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析 ?
如何利用熒光X射線進行定量分析 在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會產(chǎn)生元素1的熒光X射線，不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強度就會變強。注意到這一點，如果預先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。 利用熒光X射線進行定量分析的時候，大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經(jīng)驗系數(shù)法）。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。 另一個方法是理論演算的基礎參數(shù)法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。 NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數(shù)法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數(shù)計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的?；诖嗽儆嬎鉒achance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論系數(shù)去校正元素間的吸收增強.效應。它與經(jīng)驗系數(shù)法不同，這些校正系數(shù)是從理論上取得的，而非建立在經(jīng)驗上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數(shù)標樣來校準儀器因子。
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